Способ измерения структуры электромагнитного поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Сфвэ Советскнк Сфцнаектнческих т еснублнк(22) Заявлено 24,01 21) 2876683/18-21 Госуаарственный комитет СССР но яедаи изобретений н открытий(0888) Дата опубликования описа 30,0981 Ю.Н. Полухин, В.П. Бровяков и Н.М. Галдин(73 Заявител Куйбышевский ордена Трудового Красного Знаменавиационный институт им. акад. С.П. Королева(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СТРУК ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ ЯР= оЯ 11+ В 1 9 Р 4 Р 4 %1 1-3 + 4-5(2) м величинам определяют линейно зованные составляющие Ьпвля уемого устройства в месте расния ГР + Уф4 з = Г . (3) По этполярисследполоз,итРзнаковая функция, опемая по ходу зависимот коордионаты перецния (1 . ределясти эщео где Яс присоединением заявки йо(23) Приоритет -Изобретение относится к технике измерения на СВЧ и может быть .использовано для определения структуры электромагнитных полей в устройствах СВЧ с помощью гиромагнитного резонатора(ГР). Такая задача частот встречается при разработке элементов тракта СВЧ.Известен способ измерения структу О ры электромагнитного поля, заключающийся в перемещении гироМагнитного резонатора по выбранной координате, индикации резонансной кривой прошедшего сигнала, регулировке коэффици- ентов отражейия входной Г и выход-. 15 ной Г неоднородностей для получения режима бегущей волны в исследуемом устройстве, т.е. до получения нуле- вык значений Г и Г 1. Индикацию согласования осуществляютпо симметрии 20 резонансной кривой, нулевому внерезонансному ослаблению (Я ) и усло- вию резонансное значение коэффициента отражения от исследуемого устройства; 30 резонансные значения коэффициентов передачи при двух противоположных направлениях намагничивания ГР. ,Далее по измеренным значениям Яи Я 1 определяют коэффициенты связи й и эллиптич- ности э868653 Составитель Ф, Тарнопольская,Техред И.Асталош Корректор Редактор С. Юск Шекмар акаэ 8 Филиал ППП Патентф, гуигород, ул. Проект/бб Тираи 735 ВНИИПИ Государствен по делам изобрете 113035, Москва, З, Р
СмотретьЗаявка
2876683, 24.01.1980
КУЙБЫШЕВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. АКАДЕМИКА С. П. КОРОЛЕВА
ПОЛУХИН ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, БРОВЯКОВ ВАДИМ ПЕТРОВИЧ, ГАЛДИНА НИНА МИХАЙЛОВНА
МПК / Метки
МПК: G01R 33/00
Метки: поля, структуры, электромагнитного
Опубликовано: 30.09.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-868653-sposob-izmereniya-struktury-ehlektromagnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения структуры электромагнитного поля</a>
Предыдущий патент: Способ контроля и поиска неисправностей в электронном блоке
Следующий патент: Устройство для фиксации момента пересечения линии створа
Случайный патент: Устройство стабилизации тока