Способ контроля точности пузырькового уровня
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Опубликовано 15.08.81. Бюллетень30Дата опубликования описания 25.08.81 йо делам изобретений и атхрмтий(72) Авторы изобретен Ва кюри хи н и Э. П. Га йл 4 т ч. 1) Заявитель 2На фиг. 1 и 2 показана схема контроля уровней, величина радиуса г кривизны поверхности ампулы которых совпадает с расчетной величиной К; на фиг. 3, 4 - схема ,контроля уровней, величина радиуса г кривизны поверхности ампулы которых меньше расчетной величины К; на фиг. 5, 6 - схема контроля уровней, величина радиуса г кривизны поверхности ампулы которых больше расчетной величины К.Уровень, содержащий ампулу 1 со шкалой 2 и пузырек 3, устанавливают на угломерное устройство с неподвижной шкалой 4 в исходное (нулевое) положение. Пузырек 3 ампулы 1 находится на нулевой отметке шкалы 2 ампулы 1 и занимает симметричное положение относительно нулевой отметки неподвижной шкалы 4 измерительного угломерного устройства. Затем уровень (или ампулу) наклоняют на какой-либо угол и, перемещая контролируемую поверхность ампулы 1 по ее расчетной луге, например, радиуса й. Контроль точности ампулы (или уровня) производят по положеннн пузырька 3 относительно неполвижной шкалы 4 измерительного угломерного устройства как непрерывно по всему рабочему лиана тону Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля точности пузырьковых уровней, и может быть использовано, например, для контроля точности ампул пузырьковых уровней.Известен способ контроля точности пузырькового уровня, заключающийся в том, что уровень наклоняют относительно измерительного угломерного устройства и определяют погрешность пузырькового уровня, сравнивая его показания с показаниями угломерного устройства 1 .Указанный способ имеет низкую производительность, невысокую точность из-за необходимости многократного наклона уровня на заданные углы с высокой точностью, и считывания показаний уровня с угломерного устройства.35Цель изобретения - упрощение способаи повышение точности контроля.Для лостижения поставленной цели наклон уровня осуществляют, перемещая поверхность его ампулы по ее расчетной дуге а погревность пузырькового уровня опреде ляют по положеиию пузырька уровня относительно неподвижной шкалы угломерного устройства.(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЧНОСТИ ПУЗЫРЬКОВОГОУРОВНЯ855373 Формула изобретения иг. Г уровня нри медленном перемегцении поверхности его ампулы по ее расчетной луге, так и лискретно - в определенных точках диапазона,Положение пузырька 3 ампулы 1 отно сительно неполвижной шкалы 4 остается неизменным при точном изготовлении ампулы, т. е. в случае совпаления радиуса кривизны контролируемой поверхности ампулы 1 уровня с расчетным для данной ампулы. В случае несовпадения ралиуса кривизны луги контролируемой поверхности ампулы с его расчетной величинои положе. ние пузырька 3 ампулы 1 относительно неподвижной шкалы 4 изменяется. При К,",г знак погрешности М 1 изготовления ампулы совпадает со знаком угла наклона ампулы (фиг. 4) и, наоборот, при К( г знак погрешности Ь изготовления ампулы не совпадает со знаком угла наклона ампу. лы (фиг, 5). Способ контроля точности пузырькового уровня, заключающийся в том, что уро. вень наклоняют относительно измерительного угломерного устройства и определяют погрсшность пузырькового уровня, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа и повышения точности контроля, наклон уровня осуществляют, перемещая поверхность его ампулы по ее расчетной дуге, а погрешность пузырькового уровня определяют по положению пузырька уровня относительно неподвижной шкалы угломерного устройства. 15 Источники информации, приНятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР405011, кл. С 01 В 5/24, 1970 (прототип).855373 фиг Ч авнтель М.д А, Бойкас раФ 642 лактор Т. Гык аз 6883/55 т,ВНИИПИ Госпо делам113035, Москва Филиал ППП аПат
СмотретьЗаявка
2648073, 24.07.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Х-5827
ВАНЮРИХИН АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, ГАЙЛИШ ЭДУАРД ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
Метки: пузырькового, точности, уровня
Опубликовано: 15.08.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-855373-sposob-kontrolya-tochnosti-puzyrkovogo-urovnya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля точности пузырькового уровня</a>
Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей и устройство для его осуществления
Номер патента: 1502956
Опубликовано: 23.08.1989
Авторы: Махлина, Полукарова, Юрасов
МПК: G01B 5/22
Метки: вогнутых, выпуклых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических
...где к радиус кривизны выпуклойконтролируемой поверхности;г - радиус кривизны соответст 2вующей вогнутой эталоннойповерхности. 15 пЬ, - Ь 2ф радиус кривизны вогнутой контролируемой поверхности; радиус кривизны соответствующей выпуклой эталоннойповерхности; где К,ь,и Ь - перемещения контролиру 2емой детали относительно Составитель Е. РодионоваТехред И,Дидык Корректор Н. Король Редактор Н. Рогулич Заказ 5076/52 Тираж 683 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб ц. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 1. Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей, заключающийся в сравнении...
Устройство для шлифования цилиндрических поверхностей радиусом 40-50м
Номер патента: 522946
Опубликовано: 30.07.1976
МПК: B24B 3/00
Метки: 40-50м, поверхностей, радиусом, цилиндрических, шлифования
...2. Поворотный стол опирается на основной стол 3 станка при помощи роликов 4, вращающихся в сепараторе 5. Поворотный стол и сепаратор поворачиваются вокруг оси 6. В поворотном столе расположен упорный ролик 7, с которым соприкасается упорная планка 8 ползуна 9. К ползуну прикреплена гайка 10, перемещаемая винтом 1. Вдоль станины 12 расположена рейка 13, с которой сцепляется шестерня 14. Пара конических шестерен 15 и 16 служит для передачи вращения от шестерни 14 винту 11. Пружина растяжения 17 поджимает поворотный стол 1 к упорной планке 8 и служит для выборки зазора между упорной планкой 8 и роликом 7, Деталь шлифуется периферией шлифовального круга 18 с вертикальным расположением оси шпинделя,Работа устройства происходит следующим...
Устройство для контроля радиусов кривизны и местных ошибок оптических поверхностей деталей
Номер патента: 629447
Опубликовано: 25.10.1978
Авторы: Голиков, Гурари, Прытков
МПК: G01B 11/30
Метки: кривизны, местных, оптических, ошибок, поверхностей, радиусов
...схема предла 1 аемого устройства. 20Оно содержит источник 1 излучения,осветительную систему 2 юстируемуюплатформу 3 для крепления контролируемой детали, эталонное зеркало 4, рассеивающую пластину 5, светоделнтель 6, пространственный модулятор 7 излучения,наблюдательную систему 8. Индексом 9обозначена контролируемая деталь,Х У,- оси координат, где ось У перпендикулярна к плоскос 1 и чертежа. 30Устройство работает следующим обИзлучение от источника 1 излучениячерез осветительную систему 2 светоделитель 6 и рассеивающую пластину 5 одновременно освещает эталонное зеркало4 и контролируемую деталь 9.Предварительно получают пространственный модулятор 7 излучения путем регистрации через рассеивающую пластину5 голограммы...
Способ контроля точности угломерных лимбов
Номер патента: 566132
Опубликовано: 25.07.1977
Автор: Шульц
МПК: G01C 1/06
Метки: лимбов, точности, угломерных
...О - центр делительной окружности отсчет- ного лимба; О - центр делительной окружности изображения отсчетного лимба,В случае непосредственного сравнения положений штрихов 2 и 5 относительно центра О вращения системы в измерениях будет присутствовать ошибка в М, обусловленная смешением центров О врацения системы, и О делительной окружности,. Если сравнивать аналогично положения5661 32 исследуемого лимба, вращения влидады иуказанного иэображения должны лежать п.одной прямой.Числовое знвчение ошибки может быть получено различным путем, например, припомощи отсчетного приспособления, микрометра или цифрового преобразователя,Способ контроля точности угломерныхлимбов заключающийся в сравнении положения диаметрально противоположныхштрихов, о...
Гироскопическая система для азимутальной ориентации устройства, перемещаемого относительно подвижного объекта
Номер патента: 515941
Опубликовано: 30.05.1976
Авторы: Бейзеров, Карчевский, Тараканов, Шемораков, Щетинин
МПК: G01C 19/38
Метки: азимутальной, гироскопическая, объекта, ориентации, относительно, перемещаемого, подвижного, устройства
...датчиком курса подвижного объекта.На чертеже показана структурная схема предлагаемой системы.Она содержит две подсистемы: эталонного датчика курса и переносного гироскопа.Подсистема эталонного датчика курса состоит из сельсин-датчика 1 эталонного гироскопа, сельсин-приемника 2 указателя, усилителя 3 и двигателя обработки 4.Подсистема переносного гироскопа состоит из сельсин-приемника 5, сельсин-датчцка 6 указателя, усилителя 7 и двигателя отработки 8. изобретецп 2 в Форм лаГироскопическаяной ориентации усотносительно под30 щая эталонный д цстема ройства для азцмутальперемещаемого бъекта, содержа рса подвиж ног ижноготчик к Изобретение относи пического приборостр Известны гироскоп азимутальной ориент мещаемого относитель содержащие...
Предыдущий патент: Пакет пластинчатого теплообменника-рекуператора
Следующий патент: Способ определения несоосности ряда отверстий в детали
Случайный патент: Система охлаждения двигателя внутреннего сгорания