Способ определения постоянной времени релаксации объемного заряда диэлектриков

Е 70907 оюз Советск пиалистическик Республик ОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 61) Дополнительное к авт, сви 51) М.1 л.- "б 9,00 2) Заявлено 0.11.77 (21) 25425021 присоединением за и Государстееиный комите(53) УД летень 4 24 17.8) 5) Дата опубликования описания 06.06.7(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОСТОЯННО ВРЕМЕНИ РЕЛАКСАЦИИ ОБЪЕМНОГО ЗАР ДИЭЛЕКТРИКА2 сации объп 2 12.рактернатоянной в стоянную времени рела ряда по формуле т=Л 1 Для этих способов ха чность определения по лаксации объемного зар мног экаяменя 5(Н, -- +1 Н,Изобретение относится к электроизмерительной технике, может быть использовано,для определения постоянной времени релаксации объемного заряда диэлектрических жидкостей,Известен способ определения постоянной времени релаксации объемного заряда т диэлектрического материала по его диэлек. трической проницаемости в и удельной объемной электропроводности у, в соответствии с которым измеряют диэлектрическую проницаемость материала и его удельную объемную электропроводность, и вычисляют постоянную времени релаксации по формуле т=еео/у Г 11. Известен способ определения постоянной времени релаксации объемного заряда диэлектрических жидкостей путем измерения времени полуразряда конденсатора, в котором в качестве изоляционного материала используется исследуемая жидкость, В соответствии с этим способом исследуемую жидкость помещают в пространство между двумя электродами-обкладками конденсатора, заряжают конденсатор, затем отключают его от источника напряжения и измеряют время Ы, за которое напряжение на обкладках снизится до половины начального значения. После этого вычисляю Целью изобретения является повышение точности определения постоянной времени релаксации объемного заряда диэлектрика путем исключения влияния на точность измерений выноса носителей заряда и около- электродных процессов. Цель достигается тем, что по способу определения постоянной времени релаксации объемного заряда диэлектриков, при кото. ром исследуемый, диэлектрик помещается в пространство между плоскопараллельными электродами, к электродам прикладывается постоянное напряжение и определяется постоянная времени изменения электрического сигнала на электродах, в межэлектродно. пространство вводят один слой вспомогательного диэлектрика с малой электропроводностью, а постоянную времени релаксации объемного заряда определяют по формуле:где 1 - постоянная времени релакса.циси объемного заряда исследуемого диэлектрика;тв - постоянная времени измененияэлектрического поля;е - диэлектрическая проницаемостьисследуемого диэлектрика;в - ,диэлектрическая проницаемостьвспомогательного диэлектрика;Н, - толщина слоя исследуемого днэлектрика;О, - толщина слоя вспомогательногодиэлектрика,11 а фиг, 1 показаны исследуемый ивспомогательный диэлектрики между электродами, сечение; на фиг, 2 изображеныкривые зависимости напряженности полна электродах и плотности заряда на границе раздела диэлектриков от времени.Предлагаемый способ состоит в следуощем. Для определения постоянной временирелаксации объемного заряда исследуемогодиэлектрика, например, диэлектрика 1, последний помещают между электродами 2 исоздают хотя бы один слой 3 из другого, 25вспомогательного диэлектрика с другимидиэлектрической проницаемостью в и электропроводностью . При этом полагают известными диэлектрическпе проницаемостив и в обоих диэлектриков (они могут быть 50измерены заранее или взяты из таблиц и,как известно, меняются незначительно в зависимости от изменения внешних условий),а также электропроводность вспомогательного диэлектрика у, либо в качестве вспомогательного выбран диэлектрик, электропроводность которого заведомо пренебрежимомала по сравнению с электропроводностьюисследуемого диэлектрика, К электродам 2прикладывают постоянное напряжение и определяют постоянную времени те изменения напряженности электрического поля наодном из электродов.При наличии возможности коммутацииэлектродов эту постоянную времени наиболее удобно определять по спаду напряженности после отключения напряжения и замыкания между собой электродов 2. В этомслучае благодаря тому, что заранее извесгна конечная величина напряженности (она 50равна нулю) постоянная времени т можегбыть определена, например, по времени по Фор мул а и за бр етения Способ определения постоянной времени релаксациями объемного заряда диэлектриков, при котором исследуемый диэлектрик помешается в пространство между плоско- параллельными электродами, к электродам прикладывается постоянное напряжение и определяется постоянная времени изменения электрического сигнала на электродах, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, в межэлектродное пространство вводят один слой вспомогательного диэлектрика с малой электропроводностью, а постоянную времени релаксации объемного заряда определяют по формуле2 постоянная времени релаксации объемного заряда исследуемогодиэлектрика; постоянная времени изменения электрического поля; диэлектрическая проницаемость исследуемого диэлектрика; диэлектрическая проницаемость вспомогательного диэлектрика; толщина слоя, исследуемого диэлектрика; толщина слоя вспомогательногодиэлектрика. где т Источники информации, принятые вовнимание прои экспертизе: 1. Стреттон. Теория электромагнетизма, Гостехиздат, 1948, с. 27.2, А. К 11 ппепЬегд, 1, 1 ап йег М 1 ппе, Е 1 ес 1 гозта(1 с 1 п йе Ре 1 го 1 ецт 1 пс 1 цзгу, Е 1- вечег рцЫ 1 зЬ 1 пд согпр, ч. 1, р. 39. луспада от любой выбранной величины напряженности (на фиг, 2 этот отрезок времени обозначен Л 1).При отсутствии возможности коммутации электродов постоянную времени тв определяют по кривой изменения напряженности электрического поля либо графически, либо путем введения данных в электронно-вычислительную машину.,у2 фиг. ставитель А. Беляев Редакт араулова ехред А. Камышникова ректор С. фаин Изд.379 Тираж 1089ственного комитета СССР по делам изобретений и 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Тип. Харьк. фил. пред. сПате каз 458/835 НПО РосЦ 1 17 осле 8 ключени напряжет,я после оп 1 ключенияапряжения и замьи"ананд опектроХоЮ Подписноетий