Устройство для измерения магнитных параметров объемных экранов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советсммз Социалмстичеснмх Республмк) Дополиительн е к авт, свил-ву2 Заявлено 19.04.77 21)2476195/18-21 5 М, Кл.С. 01 Р 33/О заявкиприсоедине дервтввнае камитатСССРделам нзееретеии еткрмтий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕМНЫХ ЭКРАНОВтел относится встИзвестны устройства для определения коэффициента экранирования объем-, ных экранов. Они содержат генератор однополярных импульсных токов, нагруз кой которого является концентратор однородного магнитного поля, например кольца Гельмгольца 1Эти устройства имеют низкую чувствительность 10Бель изобретения - повышение чу вительности.Данная цель достигается тем, что в предложенном устройстве для измерения магнитных параметров объемных экранов, 15 содержащем концентратор внешнего магнитного поля, экран и датчик магнитного поля, последний расположен вне объе ма экрана.Датчик магнитного поля выполнен в 20 виде рамочной антенны из двух контуров, включенных встречно на общую нагрузку, при этом геометрические размеры этой антенны выбраны не менее размеров экрана, а контуры рамочной антенны расположены симметрично относительно оси, перпендикулярной вектору напряженности, внешнего магнитного поля и делящей экран нв две равные части.На чертеже показана система предло женного устройства, содержащего концентратор поля 1 (кольца Гельмгольца), внутри которого размещают исследуемый экран 2, генератор тока 3, датчик 4 магнитного поля, регистратор (осциллограф) 5, фидер (кабель) 6.Измерение магнитных параметров магнитных экранов производится следуюшим образом. Как известно, эффект экранирования у немагнитных экранов состоит в том, что под действием внешнего магнитного поля Н, ( т. ) в экране наводятся токи, создающие лоле наведенных токов Н (С), направленное в полости экрана навстречу внешнему. Суперпозиция полей Й 1(Ф.) и Й Ь) длит поле внутри экрана Йз (С), т.с ЙВ)фСоставитель Н. Филипповао 11 Т, Орловская Техред 3. Фанта Корректор Небола Заказ 10(,/ЗГ,по1130 Подписнокомитета СССоткрытийРаушская наб. Тираж 696И Государственногделам изобретений35, Москве, Ж 35 4 ПП "Патент, г роектная, 4 ород, ул 1;Г.ПЕОНЕ диагоаммел ееатеГ)ОГлеепГости Гееопееедикулярна вектору Й) . Этоусловиелегко контролируется, так как в этомслучае на экоане осциллографа 5 сигналотсутствует. Затем в концентратор поля.1 вносят экран 2 так, как это показанона чертеже, и после оегистрации сигнала, взяв отношение амплитуд при 1 Еееауи С Еп 1 Е 1 , получают значение коэффициента экраееироваееГГЯ. формула изобретения 1. Устройство для измерения магнитных параметров объемных экранов, содержашее концентратор внешнего магнитного ноля с расположенными внутри его объема экраном и датчиком магнитного поля, отличаюш еся тем,что,с целью повышения чувствительности, датЧИК ,ГОГЕГЕЕТЕЕОГО ПОГГЯ РОГ ГЕОПГОКГЧЕ Е 1 ЕЕР объема э кр Она.2. У:-,тройство по и, 1, о т л и ч О-ю ш е е с я те е что дат ГГек магнит 5 ного поля выполнеее в веед;1 ОГ еофГееойеантееееп,е из двух контуров, ГекГГючеееееьеГГ встречно на общую нагрузку, при этом геометрические размеры рамочной антенны выбраны не менее размеров экраЕ 0 на, а контуры рамочной антенны расположена симметрично относительно оси, перпендикулярной вектору напряженности внешнего магнитного поля и ценящей экран на две равные части.Источники информации, принятые во внимание нри экспертизе1. Коленский Л. Л. и др. Экранирукицие свойства металлической оболочки но отношению к импульсному магнитному полю. "ИзмеритГ.льная техника", 1971, % 6,
СмотретьЗаявка
2476195, 19.04.1977
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8584
ВАСИЛЬЕВ ВИКТОР ВЛАДИМИРОВИЧ, МЕДВЕДЕВ ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, СТЕПАНОВ БОРИС МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/00
Метки: магнитных, объемных, параметров, экранов
Опубликовано: 05.02.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-646281-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-magnitnykh-parametrov-obemnykh-ehkranov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения магнитных параметров объемных экранов</a>
Способ измерения поля анизотропии тонких магнитных пленок с одноосной анизотропией
Номер патента: 207261
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Торотенков
МПК: G01R 33/12
Метки: анизотропией, анизотропии, магнитных, одноосной, пленок, поля, тонких
...поля определяют анизотропию исследуемой пленки.С целью пояснения описываемого способа на чертеже приведена схема устрой:тва для его осуществления.При измерении поля анизотропии вдоль оси легкого намагничивания создают импульсное магнитное поле, меняющееся по знаку, Импульсы магнитного поля должны иметь длиочную для перемагничиватной пленки из насыщенного м направлении в насыщен- противоположном направле207261 Составитель В. Агапов 2 ЬлгОои Типография, пр. Сапунова При дальнейшем увеличении постоянного поля по оси трудного намагничивания вид сигналов с тонкой магнитной пленки принципиально не меняется, уменьшается лишь их площадь и амплитуда за счет меныпего отклонения намагниченности от о и трудного намагничивания импульсами поля по...
Устройство для измерения напряженности поля анизотропии тонких магнитных пленок
Номер патента: 746362
Опубликовано: 05.07.1980
МПК: G01R 33/12
Метки: анизотропии, магнитных, напряженности, пленок, поля, тонких
...Гельмгольца," З 5подключено к выходу генератора 12 прямоугольных импульсов, связанного также со вторым входом блока 7 переключения и через интегрирующий блок 13 свычислительным блоком 9. 4 ОРаботает устройство следующим образом.Тонкую ферромагнитную пленку 14 перемагничивают полем проводника 2 с то.ком от звукового генератора 3. Величи "йу тока звукового генератора выбираюттакай, чтобы магнитное поле, создаваемое этим током, было достаточно для ,поворота вектора намагниченности наугол до ЗОО . Сигнал потока переключе Ония с выхода датчика 4 поступает визбирательный усилитель 5 и детекторб, с выхода которого снимается йостоянное напряжение, пропорциональное амплитуде второй гармойикМсйгналапотока переключения пленки.Общее...
Способ определения параметров магнитной анизотропии магнитных пленок
Номер патента: 1401421
Опубликовано: 07.06.1988
Авторы: Лисовский, Чижик, Щеглов
МПК: G01N 27/72, G01R 33/12
Метки: анизотропии, магнитной, магнитных, параметров, пленок
...пленку10 (фиг.2) воздействуют постоянныммагнитным полем и переменным магнитным полем (Н и Ь соответственно).При этом постоянное магнитное полеформирует в пленке вдоль линии изме"кения направления вектора напряженности на противоположное плоскую доменную границу. Переменное магнитноеполе вызывает колебания этой границыс частотой, равной частоте этогополя. Границы наблюдаемой областиколебаний (удвоенная амплитуда колебаний) показаны пунктирными линиямина фиг. 2.Меняя частоту переменного магнитного поля, снимают зависимость относительной амплитуды А/А (где А, -амплитуда при Г- О) колебаний границы от частоты этого поля (фиг.3),после чего устанавливают частоту назначение Г , соответствующее области максимальной крутизны...
Способ измерения поля анизотропии тонких магнитных пленок
Номер патента: 205372
Опубликовано: 01.01.1967
Автор: Август
МПК: G01R 33/12
Метки: анизотропии, магнитных, пленок, поля, тонких
...значения к текущему измеряют мгновенное значение результирующего поля вдоль оси легкого намагничивания,В качестве входной величины при измерении предлагаемым способом используется амплитуда составляющей индукции пленки, направленной вдоль трудной оси. Эта величина пропорциональна з 1 пО, где О - угол между направлением намагниченности и легкой осью. Так как поле, приложенное вдоль трудной оси, мало,тох(0) =Аз 1 пб=СН,з 1 пМ где:Н, - амплитуда поля, приложенного вдольтрудной оси;ш - частота этого поля; ное значение поля Нс= й и, в частности, при и= ный способ основан на том, ч ии намагничивания смещением" ( - .) в 1 п 6, сов 6, яп 6 = - з 1 п 8,.1Л Составитель В. М. ЩегловТехред Т. П, Курилко Корректор М. П. Ромашова Редактор...
Блок магнитного набора магнитной колонки
Номер патента: 415046
Опубликовано: 15.02.1974
Авторы: Изобретени, Рабинович, Свириденко, Синица, Якунин
МПК: B03C 1/00
Метки: блок, колонки, магнитного, магнитной, набора
...зону,притягиваферроприажении экрние экрансборник.внутрь бло0 колонку. го набора магнитной к пучего материала от ф сей, включающий постоя отличающийся тем, ч качества очистки, он ным упором и разгрузо ыполнен коробчатым. Блок магнитно 15 ки для очистки смагнитных приме магниты и экран, ислью повышения жен ограничитель 20 откосом, а экран лон- рронныео, с наб- ным Изобретение относится к обогащению полезных ископаемых.Известен блок магнитного набора магнитной колонки, включающий постоянные магниты и плоский экран.Описываемый блок отличается от известного тем, что он снабжен ограничительным упором и разгрузочным откосом, а экран выполнен коробчатым. Это позволяет повысить качество очистки сыпучего материала от ферромагнитных примесей.На...
Предыдущий патент: Устройство для контроля микроэлектронных логических схем
Следующий патент: Устройство для измерения напряженности магнитных полей
Случайный патент: Способ горизонтального перемещения самоподъемной морской платформы и устройство для его осуществления