Селективный дефектоскоп

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Сеюз Советснни Сцнапнстнчеснни Реснублни)М. Кл (1 01 Й 27/8 1) 2458906 25 2 3.027 22) Заявле присоеаи ением затет Государственный комитеСовета Мииистров СССРио делам изобретениИи отнрцтий(45) Дат бликования описания 150678) Авторы изобретения Заявитель но-исследовательски нститут автоматиэац(54) СЕЛЕКТИВ ФЕКТОСКО Изобретение предназначено для неРаэрушающего контроля качества поверхности цилиндрических изделий и может быть использовано для контроля длин- номерных цилиндрических иэделий в черной металлургии.Известен дефектоскоп селективного контроля поверхности проката, в котором для повышения надежности обнаружения продольно ориентированных дефектов используется запись информации о дефекте на движущийся магнитоноситель с последующим считыванием и логической обработкой этой информации в электронном блоке 1,Недостатком такого дефектоскопа является возможность пропуска протяженного дефекта, если такой дефект смещен относительно ферроэондов и ко-роче двойного расстояния между ними. Известен дефектоскоп наиболее близкий к изобретению по технической сущности, содержащий два одинаковых иэ" мерительных канала, выполненные каж" дый в виде последовательно соединен" ных феррозондового преобразователя, усилителя с детектором и амплитудно" го дискриминатора, первую схему совпа. дения, входы которой соединены с выи опытно-конструкторски черной металлургии ходами амплитудных дискриминаторов,и выходной индикатор(2,Известное устройство позволяет определить характер и местоположение деФекта, но не позволяет определять наличие дефектов, смещенных относительно преобразователей Ферроэондов.Целью изобретения является повышение точности контроля.Это достигается тем, что предлагаемый дефектоскоп снабжен второйсхемой совпадения, схемой ИЛИ,входы которой соединены с выходамисхем совпадения, преобразователемугла поворота и регистром сдвига, тактовый вход которого соединен с преобразователем угла поворота, а логический вход-с выходом одного из амплитудных дискриминаторов. Выход другого амплитудного дискриминатора и выход регистра сдвига соединены со вхо-:дами второй схемы совпадения.На чертеже изображена структурнаясхема селективного дефектоскопа.Селективный дефектоскоп для контроля длинномерных иэделий содержит.узел 1 сканирования, включающий основание 2, преобразователь 3 угла поворота, два канала, выполненные каждыйв виде Феррозондового преобраэовате;нем преобразователями 4 и 5 механи". , 5чески скреплено с узлом 1. Преобразователи 4 и 5 образуют два канала.измерения и соединены соответственно с усилителями .б и 7, выходы. кото"рых подключены ко входам амплитудных Юдискриминаторов 8 и 9. Выход дискриминатора 8 соединен с логическимвходом регистра 12 и одним входомсхемы 10 совпадения. Тактовый входрегистра 12 соединен с преобразователем 3, а выход - с одним входомвторой схемы 11, совпадения. Выходдискриминатора .9 соединен с другимивходами схем 10 и 11 совпадения, выходы которых соединены с входами схемы 11 ИЛИ, а ее выход - Ь индикатором 1.Через узел 1 сканирования движется иэделие 15 с условно показаннымидефектами 16.25Основание 2 вращается узлом 1 сканирования вокруг поступательно движущегося изделия 15. Когда деФект 16находится одновременно под обоимипреобразователями 4 и 5 то их сигЯ 0налц после усиления усилителями 6и 7 и оценки величины сигнала (глубины деФекта) амплитуднымн дискриминаторами 8 и 9 поступг от на оба входа схемы 10 совпадений, на. выходекоторой также появится сигнал. Сигнал с выхода схемы 10 совпадений через схему 13 ФИЛИ поступит наиндикатор 14 и дефект будет зафиксирован.Если деФект находится только под . 40преобразователем 4, то его сигнал,усиленный усилителем б и оцененныйпо величине амплитудным дискриминатором 8, поступит одновременно на одиниз входов схемы совпадений 30 и логический вход регистра 12. Так каксигнал на втором входе схемы 10 совпадений отсутствует, то и на ее выхаде сигнала не будет,Сигнал, поступивший на логиюеский вход регистра 12, через оборот, благодаря сигналу преобразователя 3, когда основание 2 окажется опять над тем же дефектоМ, появится на выходе регистра 12 и поступит на один из входов схемы 11 совпадений. Если дефект 16 длиннее, чем расстояние между преобразователями 4 и 5, то на другой вход схемы 11 совпадений так- . же поступит сигнал. С выхода схемы 11 совпадений сигнал через схему 13 ИЛИ поступит на индикатор 14 и дефект будет зафиксирован,:Предложенный селективный дефекто" скоп повышает точность выявления протяженных поверхностных дефектов при контроле длинномерных изделий цилиндрической Формы.формула изобретенияСелективный дефектоскоп, содержа" щий два одинаковых измерительных канала, выполненные каждый в виде последовательно соединенных феррозон,.свого преобразователя, усилителя и амплитудного дискриминатора, первую схему совпадения, входы которой соединены с выходами амплитудных дискримннаторовр и выходной индикатор,.о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,мс целью повьпаения точности контроля, он снабжен второй схемой совпадения, схемой ИЛИ, входы которой соединены с выходами схем совпадения, преобразователем угла поворота и регистром срвнга, тактовый вход которого соединен с преобразователем угла Поворота, а логический вход - с выходом одного из амплитудных дискриминаторсв выход другого амплитудного дискриминатора и выход регистра сдви" ге соединены со входами второй схемы совпадения.Источники инФормации, принятые во в-:1 мание при экспертизе1. Лдторское свидетельство СССР Р 376708, кл. 01 Я 27/86, 1968.2. Лвторское свидетельство СССР Р 4 02796, кл. С 01 Ц 27/88, 1971 .616579 Составитель А.МатвеевТехред М.Борисова Корректор С,Гараси едактор Л.Народ да 4/ 5, Филиал атен каз 4060/42 ЦНИИПИ Г 11