Ячейка для измерения диэлектрических параметров твердых диэлектриков

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДОВЛЬСТВУ(45) Дата опубликования описания 03.11.77(51) М. Кл, б 01 % 27/26 Гавудеретееней кеинтет Веавтв Мнннатрев СЫР ее деми нзебретенне н еткрОнй(54) ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ Изобретение относится к радиотехнике,в частности к измерению диэлектрическойпроницаемости и тангенса угла потерь, иможет использоваться при неразрушаюшихметодах контроля диэлектрических материалов и изделий,Известна ячейка для измерения диэлектрических параметров твердых диэлектриков,содержа 1 цая цилиндрический резонатор сотверстиями связи и соосным отверстиемдля введения образца 1 1.Однако это устройство характеризуетсянеобходимостью измерения геометрическихразмеров образца, что сушественно снижаетточность определения диэлектрической прони-Зцаемости и тангенса угла йоерь и, крометого, связано со сложностью, долговременностью и трудоемкостью определения расчетных соотношений параметров.Цель изобретения - повышение точности епизмерений при ускорении процесса измеренияа,Для этого В ячейке для измерения диэлектрнческих параметров твердых диэлектриков,содержащей цилиндрический резонатор с Ж отверстиями связи и соосным отверстием для введения образца, цилиндрический резонатор выполнен с дополнительным полым металлическим спаканом, соосно прикрепленным к торцу цилиндрического резонатора, при этом высота полого металлического стакана равна высоте цилиндрического резоцатора, а соотношение их диаметров91 Я ЬтЪЦа ,в.мгде В - диаметр цилиндричнского резонатора, заполненного средой с диэлектричес- кой проницаемостью с,Ва - диаметр полого металлического стакана, заполненного средой с диэлектрической пронниаемостьюВти. и Вгп"п,ф - корни функции Бесселя, определяюшпе распределение полей в соответствующих резонаторах.На чертеже изображена предлагаемая ячейка.Ячейка для измерения диэлектрических параметров твердых диэлектриков содержит цилиндрический резонатор 1 Яе) с отверс573774 ных материалов квантовой электроники, диз.лектрических кристаллов и контроле качества готовых диэлектрических изделий,формула изобретения Ячейка для измерения диэлектрических параметров твердых диэлектриков, содержащая цилиндрический резонатор с отверстиями связи и соосным отверстием для введения образца, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью повышения точности измерений при ускорении процесса измерения, цилиндрический резонатор выполнен с дополнительным полым металлическим стаканом, соосйо прикрепленным к торцу цилиндрического резонатора, при этом высота полого металлического стакана равна высоте цилиндрического резонатора, а соотношение их диаметров где П - диаметр цилиндрического резонатора, заполненного средой с диэлектрической проницаемостьюФВ - диаметр полого металлического стакана, заполненного средой с диэлектрике кой проницаемостью 6В 1 ЮгВтащи иВМп- корни функции Бесселя, определяющие распределение полей в соответствующих резонаторах.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1 Брандт А.А Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах, М., физматгиз, 1963, с, 88-128 ф 3тиями связи и соосным отверстием ( 6для введения образца. Цилиндрический резонатор 1 выполнен с дополнительным полым металлическим стаканом 2 (9),соосно прикрепленным к торцу цилиндрического резонатора 1, при этом размеры цилин.дрического резонатора 1 и полого металли.ческого стакана 2 выбраны из условия равенства резонансных частот до введенияисследуемого диэлектрика. Цилиндрический Нрезонатор 1 и полый металлический стакан2 (каждый) заполнены текучими средамис различными коэффициентами диэлектричеокой проницаемости (и Я ) и с малыЙми диэлектрическими потерями (например, 1 бодной средой может быть воздух, а другойнеполярная жидкость), причем соединены онимежду собой таким образом что распределения полей в цилиндрическом резонаторе 1 ив полом металлическом стакане 2 симметрич ны относительно вводимого в них исследуемого диэлектрика,Исследуемый образец вводят в областьс одинаковым законом распределения полей.Независимо от геометрических размеров исель 25дуемого образца для определения его диэлектрической проницаемости () и тангенсаугла потерь ( у У ) достаточно измеритьприращение частот ЬФ, ЬсО и нагруженных добротностей Ь Й и Ь ЮЗОПредлагаемая ячейка позволяет создатьприборы с непосредственным отсчетом измеряемых параметров 8 и В 8, чтоповышает эффективность испытаний диэлектрических материалов и изделий, и можетиспользоваться при идентификации непрозрачилиад ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная Тираж 1101 Государственного комитета Сове по делам изобретений и 13035, Москва, Ж, Раушская