Устройство для поиска карт

Номер патента: 474841

Опубликовано: 25.06.1975

Авторы: Бордюгов, Темкин, Цишкевич

МПК: G11C 5/00

Метки: блоков, запоминающего, магнитных, оперативного, подвеска, рам, устройства

...трехосныйшарнир, одна ось которого соединена с кронштейном стойки, а две другие - с кронштейнами,ром магнитных блоков.На фиг. 1 представлена схема рамы магнитных блоков с подвеской, общий вид; нафиг, 2 - шкаф магнитного блока ОЗУ, обший вирд,Подвеска рам магнитных блоков дляоператцвного запоминающего устройства содержит закрепленные на стойке 1 я рамах 2магяитното блока кронштейны 3, между:когорыми установлен трехосный шарнир 4, одна ось 5 которого соедянена с кронштейном 3 стойки 1, а две,другие осн б - с кронштейяами 3 рам 2 магнитных блоков. Рамы 2 з закрытом положеньиц фсикоируют с помощью стопорных визитов 7, соедттияющих эти рамы между собой я со стойкой 1.При повороте одной рамы 2 щарннр 4 неподвижен относительно этой...

Номер патента: 177169

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Согомон

МПК: G01R 31/30

Метки: блоков, неисправных, поиска, систем, функционально-связанных, элементов

...пулевые элементы, неисправны.Нд чертеже. предстдвленд функциональнаясхем 11 предлдгдемОГО стройс гид д,1 я 11= 3.О В регистрах 1 - 3 на триггерах 1 записанатаблица пеиспрдвностеи, д в регистре 5 натриггера., 6 - пдрдметры проверяемого объекта. Собирательные схемы ПЛИ 7, инвер.торь; 8 и схемы совпадения 9 реализуют мат 5 рицу выборки, а инверторы 10, усилители 11и лампочки 12 - схему инди 1 ации,Если в регистре 5 проверяемого объектаодин из триггеров 6 находится в единице, тона его выходе установится высокий уровеньО напряжения, который передается на выходысобирательных схем 7 соответствующей строки, что эквивалентно ьычеркиванию строкив таблице неисправностей в соответствиис алгоритмом пОискд. Согласно длГОритму в5 оставшейся...

Номер патента: 1681304

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Лебедь, Особов

МПК: G06F 11/00

Метки: блоках, дефектов, логических, поиска

...замыкания между 1-м и всеми остальными проводниками в следующем такте проверки осуществляется проверка между следующим (+1)-м и всеми остальными проводниками, кроме -го, и т.д, до тех пор, пока не будут проверены все проводники. После окончания проверки ложных замыкания производится проверка целостности проводников.Если при проверке на ложные замыкания узел 24 измерения выработал признак замыкания между проверяемым 1-м и всеми остальными проводниками, начинает осуществляться процесс локализации дефекта определения конкретного проводника, с которым оказался замкнутый проверяемый. Процесс локализации требует 2 1 оц 2 гп тактов, где гп - количество несвязанных накоротко цепей в проверяемом блоке 15.Процесс локализации дефекта...

Номер патента: 1108451

Опубликовано: 15.08.1984

Авторы: Байда, Гладков, Подкопаев, Семеренко, Шпилевой

МПК: G06F 11/00

Метки: блоках, дефектов, логических, поиска

...генератор импульсов, три триггера, дешифратор, три элемента И,пять элементов ИЛИ, причем выход генератора импульсов соединен с первыми входами первого и второго элементов И, второй вход и выход первого элемента И соединены соответственно с прямым выходом первого триггера и со входом первого распределителя импульсов, первый - пятый выходы которого соединены соответственно с первыми входами первого - четвертого элементов ИЛИ и с шестым выходом блока управления, единичный вход первого триггера соединен с четвертым входом блока управления и нулевым входом третьего триггера, единичный вход и инверсный выход которого соединены соответственно со вторым входом блока управления и с первым входом третьего элемента И,выход которого...

Номер патента: 1260884

Опубликовано: 30.09.1986

Автор: Кордюмов

МПК: G01R 31/317

Метки: блоках, дефектов, поиска, цифровых

...с первым входом второго элемента И 58, с соответствующим выходом 63 анализатора состояний двунаправленных шин и с вторым входом блокируемого ключа 57, соединенного выходом с вторым входом второго элемента И 58, с двунаправленным выводом анализатора 8 состояний двунаправленных шин и свходом анализатора 55 логических состояний, соединенного выходом высокоимпедансного состояния с информационным входом второго Э-триггера 56, выходом негодного логического сигнала с соответствующим выходом 61 анали" затора 8 состояний двунаправленных шин, выход второго элемента И 58 соединен с соответствующим выходом 62 анализатора 8 состояний двунаправленных шин.В задатчике 26 длины последовательности дешифратор 64 соединен информационными входами с...