Способ автоматического контроля содержания газов в жидких и газовых средах

.чт о ай ОП ИСЛййа ИЗОБРЕТЕН ИЯ) М Кл, 901 п, 27/2 Гасударственный квинтет Саввтв Министрав СССР аа делам иэееретений и аткрытий.В. ГАЛИНКЕР ГОР ОН ОВСКИЙ В, Б. БЕББОВ 72) Авторы изобретени ГОДСТВЕННОЕ ОБЪ Заявитель НАУЧНО-ПР"АГРОПРИБОР" ОМАТИЧЕСКОГО КОНТРОЕЯ СОДЕРЖАБИ ГАЗОВЖИДКИХ и ГАЗОВЫХ СРЕДАХ СПОСОБ А высокая чувствительность, вызывае= мая наличием небольшой остаточной концентрации электролита, чрезвычайно медленно обменивающегося с анализируемой средой или не обиенивающегося вовсе. В связи с этим снижается точность и надежность процесса контроля в целом.Для повышения точности и надеж-. ности процесса в кондуктометрической ячеИке при измерении электропроводности электролита одновременно производят непрерывное сорбирование продуктов взаимодействия анализируемого газа с электролитом ионообменными смолами.При осуществлении способа обеспечиваются быстродействие при производстве измерений, а также высокая чувствительность контроля.На фиг.1 показана принципиальная схема реализации способа автоматического контроля содержания газов в жидких и газовых средах; на фиг.2 - график зависимости эле 1Изобретение относится к спасо= бам автоматического контроля содержания газов в жидких и газовых средах и может быть использовано в химической, нефтехимической, угольной и горнорудной промышленйости, а также в других отраслях науки и производства, связанных с необходимостью автоматического контроля газового режима различных смесей 1 о газов и жидкостеи.Известен способ автоматического контроля содержания газов в жидких и газовых средах путем .пропускания анализируемого газа через мембрану из полимерных и других материалов, растворения его в электролите кондуктометрической ячейки и измерения электропроводности электролита.К недостаткам известного спосо о ба относятся значительная продолжительность установления равновесия между анализируемой средой и электролитом и, как следствие, большое запаздыванйе показаний, а также не4468 ктропроводыости электролита кондуктометрической ячейки от содержания анализируемого газа.При контакте мембраны 1 с анализируемой средой (раствором или газовой смесью) молекулы газа (например, СО) диффундируют через мембраыу в мЬжэлектродное пространство, заполненное электролитом 2. Значение электропроводности электролита измеряют непосредственно вблизи от мембраны в малом зазоре между параллельно расположенными электродами 3, один из которых непосредственйо прижат к мембране. 15 Смесь ионообменных смол Ф помещают за электродами (по отношению к мембране) и во избежание прямого электрического контакта с последними отделяют перфорированыои 2 о пластиной - сепаратором 5 из электроизоляционного материала. Кондуктометрическую ячейку размещают в корпусе б из электроизоляционыого материала. 25Продиундировавший газ изменяет электропроводность лсктролита в пространстве между электродами 5 в зависимости от содержания этого газа. Ьатем продукты зо взаимодействия анализируемого газа 19с электролитом сорбируются смесью ионообменных смол и быстро удаляются из межэлектродного пространства, благодаря чему поддерживается неизменным высокое удельное сопротивленйе электролита. Изменение электропроводности электроли-, та регистрируют мостом 7. Мембрана проницаема практически только для анализируемого газа, что обеспечивает селективность йзмерения его содержания.ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯСпособ автоматического контроля содержания газов в жидких и газовых средах путем пропускания анализируемого газа через мембрану из полимерных и других материалов, раствореыия его в электролите кондуктометрической ячейки и измерения электропроводности электролита, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и надежности процесса контроля, при измерении электропровод- ности электролита одновременно производят непрерывное сорбирование продуктов взаимодействия анализируемого газа с электролитом ионообменыыми смолами.446849 енуе ракию Составитель ТКУЗБМИНВк тор Н,КОРЧЬНКО Тех ред Е,Бор исоВ а аказ ЗАВУ Изд. М 6 Тираж бЯ инское Предприят 1 атент, Москва, 59, Бережковская наб НИИ И Государственного комитета Совета Министров СССРпа делам изобретений и открытийМосква, 13035, Раушская наб., 4