Устройство для контроля логических микросхем

О П И С А Н И Е (11) 432505ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Соеетскин Социалистичесюа Реслубликс(32) ПриоритетОпубликовано 15.06.74, Бюллетень М 2 Государственный комитет Совета Министров СССР во делам ивоорвтвнийи открытий(72) Авторы изобретения Е. Дворкин и О ра 1) Заявител ОНТРОЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ МИКРОСХЕМ 4) УСТРОЙСТ ли кодовые комбинации с возможности получить миИзобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано для обеспечения входного и выходного контроля логических микросхем, используемых, например, в цифровых вычислительных машинах.Известны устройства для контроля логических микросхем, с помощью которых производится полная и раздельная во времени проверка микросхем по статическим и динамическим параметрам. Это приводит к усложнению программы проверки и снижению производительности при частой смене видов проверки.Целью настоящего изобретения является повышение производительности контроля микросхем путем совмещения во времени проверки на функционирование с проверкой по динамическим параметрам,Сущность изобретения заключается в том, что в устройство введен кольцевой регистр сдвига, выход которого соединен с первым входом блока формирования сигналов, второй вход которого подключен к выходу. кольцевого регистра сдвига через группу вентилей, и дешифратор, управляющий вход группы вентилей соединен с первым входом устройства, второй вход которого подключен к первому входу кольцевого регистра сдвига, второй вход которого соединен с выходом задающего генератора. На чертеже представлена блок-схема устройства, в состав которой входят: кольцевой регистр 1 сдвига, задающий генератор 2, группа вентилей 3, блок 4 формирования сигналов, дешифратор 5, блок коммутаций б, блок измерений 7; 8, 9 - входы устройства; 10 - контролируемая микросхема.При работе устройства на проверяемую логическую микросхему подаются сигналы, соответствующие минимальным функциональным тестам каждого типа логических микросхем, формируемые по двухступенчатой закоммутированной программе.Предварительно в кольцевом регистре 1 15 сдвига устанавливается необходимый для проверки логической микросхемы 10 код, После этого подаются импульсы сдвига от задающего генератора 2, что обеспечивает сдвиг кода, записанного в кольцевом регистре сдвига.20 Формируемые после каждого импульса сдвигакодовые комбинации с выходов регистра 1 поступают на вход вентилей 3 и на блок 4 формирования сигналов.Для проверки большинства типов логпче ских микросхем набор кодовых комбинаций,подаваемых непосредственно с регистра 1, достаточен для получения минимальных функциональных тестов.В том случае, ес30 регистра 1 не даютнимального теста проверяемой микросхемы, открываются вентили 3 и кодовые комбинации с выходов кольцевого регистра сдвига поступают на входы дешифратора 5. Дешифратор образует дополнительные кодовые комбинации, необходимые для получения минимального функционального теста. Эти дополнительные кодовые комбинации выходов дешифратора 5 поступают на входы блока 4, обеспечивающего создание необходимых электрических режимов проверки микросхемы.Дешифратор 5 и кольцевой регистр 1 сдвига образуют первую ступень коммутаций программы проверки. Повторяемость программы проверки во времени обеспечивают тем, что разряды регистра 1 сдвига образуют кольцо.С выходов блока 4 кодовые комбинации подаются на блок коммутаций 6, образующий вторую ступень коммутации программы проверки, а с выходов блока 6 поступают минимальные функциональные тесты, которые за. тем подаются на проверяемую микросхему 10.Блок 6 обеспечивает необходимую коммута. цию выходов проверяемой микросхемы к бло. ку измерений 7 и входов микросхемы 10 к блоку 4 в зависимости от типа проверяемой микросхемы.Сигналы с выходов проверяемой микросхемы через блок коммутаций 6 поступают в блок 7, который служит для измерения и фиксации статических и динамических параметров проверяемой логической микросхемы, а также для ее проверки на функционирование.Кодовые комбинации с выходов кольцевого регистра 1 сдвига формируются или на низкой частоте (десятые доли герца), что позволяет совместить проверку логической микросхемы 10 на функционирование с проверкой по статическим параметрам, или на высокой частоте (несколько мегагерц), что позволяет совместить во времени проверку на функционирование с проверкой по динамическим параметрам.Для реализации проверки логической микросхемы в динамическом режиме и одновременно на функционирование блок 7 содержит высокочас; отныи двухчастотный осциллограф, На осциллографе в динамическом режиме наблюдают форму напряжения выхода данной проверяемой логическои микросхемы и сравнивают с известной формой напряжения .выхода исправной логической микросхемы данного типа, в случае несовпадения их форм проверяемую логическую микросхему признают негодной, а в случае совпадения - годной.Одновременно проводятся измерения динамических параметров логических микросхем.20Предмет изобретенияУстройство для контроля логических микросхем, содержащее блок коммутаций, соединен 2 э ный с блоком измерений и блоком формирования сигналов, задающий генератор, отличаю щ е ее я тем, что, с целью повышения производительности контроля, в него введен кольцевой регистр сдвига, выход которого соединен зО с первым входом блока формирования сигналов, второй вход которого подключен к выходу кольцевого регистра сдвига через группу вентилей, и дешифратор, управляющий вход группы вентилей соединен с первым входом устЗ ройства, второй вход которого подключен кпервому входу кольцевого регистра сдвига, второй вход которого соединен с выходом задающего генератора.432505Г 3Составитель А. ЖереновРедактор Б. Нанкина Текред Л. Богданова Корректор А. Дзесов Заказ 2917/8 Тираж 624 Подписно ЦНИИПИ Гос комитета Совета Министров СССР бретений и открытийРаушская наб., д. 4,5пография, ир. Сапунова,