Устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микролетра
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 271815
Автор: Силицкий
Текст
Секта Советских Социалистических Республик, ,/чатем х,Кл. 42 Ь, 12/01 Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 09,Ч.1967 ( 1161987/25-28) соединением заявкиомитет по дела М ПК 6 01 Ь 11/1 ПриоритетОпубликовано изобретений и открытипри Совете МинистровСССР 6.Ч.1970. Ьюллстець18ания описания 13.Х.1970 УЛК 531.715,(088,8)ата опублик Авторизобретения В, Силицкий явитель УСТРОЙСТВО ДЛИЗМЕРИТЕЛЬНЪХ НТРОЛЯ РАСПОЛОЖЕН И ЕРХНОСТЕЙ МИКРОМЕТ т оыть выполнено сц автоколлимация изменения хода перпендикулярном тика и параллельописываемое уст на фиг, 2 -Известно устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микрометра, содержащее стол с верхней базовой плоскостью, а также связанные со столом автоколлимационную отсчетную систему с при способлением для установки нулевого отсчета, оптическая ось которой параллельна базовой плоскости стола, и наклонное зеркало для измерения направления хода лучей автоколлимационной системы. 10Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что оно снабжено двумя поочередно устанавливаемыми на верхнюю базовую плоскость стола трехопорными мостиками, в которых соответственно укреплены 15 микровинт и микрометр, выполненными так, что две опоры каждого мостика образованы установочными винтами с износостойкими сферическими торцами, а третья опора образована измерительными поверхностями соот ветственно микровинта или пятки микрометра, Это позволяет проводить контроль в процессе доводки измерительных поверхностей для повышения ее точности и производительности.Кроме того, мостик, в котором укреплен 25 микровинт, может быть снабжен установочным зеркалом, перпендикулярным оси микро- винта, а нижняя плоскость стола может быть выполнена параллельной его верхней базовой плоскости. 30 Наклонное зеркало можеоворотным относительно онной системы на 180 дле лучей в направлении,становочному зеркалу мосом плоскостям стола.На фиг. 1 изображенотво, продольный разрезринципиальная схема. Описываемое устройство содержит стол 1 с верхней базовой плоскостью 2, а также связанные со столом автоколлцмациоццую отсчетную систему 8 с приспособлением для установки нулевого отсчета, оптическая ось которой параллельна базовой плоскости стола, и наклонное зеркало 4 для изменения направления хода лучей автоколлимационной системы.Устройство снабжено также двумя поочередно устанавливаемыми на верхнюю базовую плоскость 2 стола трехопорными мостиками б и б, в которых соответственно укреплены мцкровинт 7 и вшкрометр 8, выполненньпш так, что две опоры каждого мостика образованы установочными винтами 9 с износостойкими сферическими торцами, а третья опора образована измерительными поверхноностямп соответственно микровинта 7 или пятки микрометра 8.Мостик 5, в котором укреплен мцкровицт, снабжен установочным зеркалом 10, перпендикулярным оси микровпцта, а никняя плоскость 11 стола выполнена параллельной его верхней базовой плоскости 2, Наклонное зеркало 4 выполнено поворотным относительно осц автоколлимациоццой системы ца 180 для изменения ода ее лучей в направлении, перпендикулярном установочному зеркалу мостика и параллельным плоскостям стола.Устройство работает следующим образом.Перед началом работы устройство устанавливают ца нуль по плоскости 2 с помощью эталона 12 параллельности путем совмещения обоих перекрестий сетки 13, наблюдаемого в окуляр 14.Затем на плоскость 2 устанавливают мостик 5 с микровинтом 7 так, чтобы зеркало 10 находилось против отверстия, Если поверхность зеркала 10 не параллельна поверхности 2, то перекрестия сетки 13 це будут совмещены. Совмещение перекрестий производят перемещением мостика с помощью винтов 9. После совмещения перекрестий осуществляют доводку измерительной поверхности микровинта 7. По окончании доводки вновь проверяется совмещение перекрестий доведенной поверхности и зеркала 10.Перед доводкой измерительной поверхности пятки микрометра 8 устройство снова настраивают ца нуль по плоскости 2 стола 1. При этом зеркало 4 переворачивают ца 180, а мостик 6 с микрометром 8 устанавливают ца плоскость 2, причем установку осц микрометра перпендикулярно плоскости 2 производят по доведенной измерительной плоскости микровинта 7. После этого производят доводку измерительной плоскости ца плоском притире с контролем, как описано выше. Предмет изобретения 1. Устройство для контроля расположенияизмерительных поверхностей микрометра,5 содержащее стол с верхней базовой плоскостью, а также связанные со столом автоколлимационную отсчетную систему с приспособлением для установки нулевого отсчета,оптическая ось которой параллельна базовой10 плоскости стола, и наклонное зеркало для измерения направления хода лучей автоколлимационной системы, огличающееся тем, что,с целью проведения контроля в процессе доводки измерительных поверхностей для повы 15 шения ее точности и производительности, оноснабжено двумя поочередно устанавливаемыми на верхнюю базовую плоскость стола трехопорными мостиками, в которых соответственно укреплены микровинт и микрометр, выпол 20 ценными так, что две опоры каждого мостикаобразованы установочными винтами с износостойкими сферическими торцами, а третьяопора образована измерительными поверхностямп соответственно микровинта или пятки25 микрометра.2. Устройство по п. 1. отличающееся тем, чтомостик, в котором укреплен микровинт, снабкен установочным зеркалом, перпендикулярным оси микровинта, а цикняя плоскость сто 30 ла выполнена параллельной его верхней базовой плоскости,3, Устройство по пп. 1 и 2, отличавшеесятем, что наклонное зеркало выполнено поворотным относительно осц автоколлимационЗ 5 ной системы ца 180 для изменения хода еелучей в направлении, перпендикулярном установочному зеркалу мостика и параллельномплоскостям стола,, С. Сударенкова ррек Заказ 2303 Тираж 480 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 пография, пр. Сапунов
СмотретьЗаявка
1161987
В. Силицкий
МПК / Метки
МПК: G01B 11/14
Метки: измерительных, микролетра, поверхностей, расположения
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-271815-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-raspolozheniya-izmeritelnykh-poverkhnostejj-mikroletra.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микролетра</a>
Предыдущий патент: Бесконтактный пневматический прибор с увеличенными пределами излерения
Следующий патент: Электростатический подвес
Случайный патент: Арочный трубопроводный переход для транспортирования жидкости или газа