Устройство для измерения временных параметров импульсов на экране осциллографа
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1658123
Автор: Чубатенко
Текст
клапан 12 по цепи электрического управления соединены последовательно. Каждый оптический вход 10 соединен световодом с соответствующим оптическим выходом 13 через оптический кла 5 пан 12 за исключением входа 1), и выхода 13,), которые соединены световодом мещу собой непосредственно.Устройство работает следующим образом.На вход осциллографа от импульсного генератора подают сигнал и наблюдают на его экране иэображение электрического импульса. Устанавливают ли нейку 1 Фоточувствительной поверхностью вплотную к экрану, располагая ее на уровне ,5 амплитуды импульса параллельно линии развертки осциллограФа. При этом линия луча осциллографа пересекает линейку 1 в двух местах - (на линии Фронта и линии спада). Причем видимый след 16 линии в каждом месте накрывает ряд Фотоприемников, в цепи. которых возникает световой поток, Все эти сигналы подают на вход блока 2 селекции. Например, с выходов Фотоприемников 9, ,9),1, накрывающих, например, линию Фронта импульса, потоки Фотонов поступают на входы 1)1,) блока 2. Однако только в световоде одного выхода 13,1 блока 2 появляется выходной сигнал, поскольку только один клапан 12 открыт. При этом ключ 111,1 У закрыт, цепь подачи управляющего электрического воздействия от клемм 14 и 15 на клапан 12 ,1 разорвана, вследствие чего поток Фотонов из входного свето- вода 1(р 1 транслируется в выходной световод 13,) . Все другие входные40 световые сигналы этой группы блока 2 перекрываются в клапанах 12 младших позиций.45Аналогично выделяют крайний сигнал и в месте пересечения линии спада импульса. Таким образом, в блоке 2 выделяют в каждом иэ двух мест пересечения линейки Фотоприемников с линиейее 50 иэображения импульсов по одному край нему" сигналу из ряда сигналов освещенных групп Фотоприемников, поэтому линейка 1 чувствует перемещение линии луча осциллографа на величину, меньшую, чем ширина линии.1Поступающие из блока 2 оптические сигналы сдвигают к нулю в нульсдвигателе 4, масштабируют в блоке 6, коди)уют в преобразователе 7 и в цифровом индикаторе 8 индицируют числовое значение временного параметра. импульса.Формула изобретения1, Устройство для измерения временных параметров импульсов на экране осциллографа по авт. св.1527620, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено дополнительной линейкой из точечных Фотоприемников и блоком селекции сигналов крайних освещенных Фотоприемников, состоящим из группы оптических входов, соединенных с выходами соответствующих Фотоприемников дополнительной линейки, групп электрических ключей, оптических клапанов, первой и второй электрических клемм и группы оптических выходов, причем одноименные электрические ключи и оптические клапаны включены последовательно между первой и второй клеммами, последний оптический вход блока селекции соединен непосредственно с его последним выходом, остальные оптические входы - с соответствующим входом блока селекции через соответствующий оптический клапан, оптический управляющий вход ключа соединен с оптическцм входом старшей позиции блока селекции, .а оптические выходы блока селекции - с соответствующими точечными Фотоприемниками основной линейки.2. Устройство по и. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что электрический ключ выполнен в виде Фоторезистора и оптически контактируемого с его фотоприемной поверхностью входного световода, а оптический клапан в виде жидкокристаллического элемента с электрическим управлением и оптическим контактируемых с его рабочей поверхностью входного и выходного световодов.енко евская оррект 268 П но и ГКНТ СССР Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. 10 а Заказ 2433ВНИИПИ Государстве нно 303 омитета поМосква, Жзобретениям и Раушская наб крытиямд, й/5
СмотретьЗаявка
4717857, 12.07.1989
КИЕВСКИЙ ИНСТИТУТ АВТОМАТИКИ ИМ. ХХУ СЪЕЗДА КПСС
ЧУБАТЕНКО ВАСИЛИЙ ЯКОВЛЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G04F 13/02
Метки: временных, импульсов, осциллографа, параметров, экране
Опубликовано: 23.06.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1658123-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-vremennykh-parametrov-impulsov-na-ehkrane-oscillografa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения временных параметров импульсов на экране осциллографа</a>
Устройство для обработки криволинейных поверхностей оптических деталей
Номер патента: 1042960
Опубликовано: 23.09.1983
Авторы: Дьяков, Маляренко, Филонов
МПК: B24B 13/00
Метки: криволинейных, оптических, поверхностей
...перемещения вдоль этой оси конические шестерни 5, входящие в зацепление снеподвижной шестерней 6. С шестернями5 посредством шлицевого зацепления связаны с возможностью осевого перемещенияшпиндели 7, с закрепленными на них обрабатываемым и деталями 8. Обработка последних осуществляется при помощи абразивных инструментов 9, рабочая часть которых выполнена по радиусу, равному заданному радиусу кривизны обрабатываемых1 Б криволинейных поверхностей деталей. Сдругой стороны шпиндель 7 связан с составным ползуном, состоящим из двух кулачков (фиг. 2) 10 и 11 и пружины 12 сжатия, помещенной между кулачками. На верхней части кулачков 10 и 11 нарезаны пазы,представляющие собой часть спирали Архимеда, которые, в свою очередь,...
Устройство для обработки сферических поверхностей оптических деталей
Номер патента: 1726209
Опубликовано: 15.04.1992
МПК: B24B 13/00
Метки: оптических, поверхностей, сферических
...дополнительно на оправках выполненыпо меньшей мере три равномерно расположенных по окружности сквозных вертикальных паза, а узел крепления деталивыполнен виде корпуса с закрепленными на нем кольцевым базирующим элементом и охватывающими его по меньшей мере тремя зажимными элементами, связанными со средством зажима и предназначеннымидля прохождения через указанные пазы, приэтом оправки жестко закреплены в диске сориентацией их относительно оси его поворота.На фиг,1 изображено транспортноеустройство - диск с оправками, жесткозакрепленными в его отверстиях с ориентацией их относительно оси поворота диска с уложенными в оправки обрабатываемыми деталями, соосно с одной из оправок расположен в нижнем разжатом положении узелкрепления; на...
Устройство для контроля дефектов поверхностей оптических деталей
Номер патента: 1242780
Опубликовано: 07.07.1986
Авторы: Великотный, Калинин, Потапова, Прохорова
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, оптических, поверхностей
...светового потока,рассеянного дефектами, соответству ющего участка поверхности, котораяпропорциональна площади дефектов на.данном участке поверхности, а значит - и удельной плотности дефектовна данном участке, если площадь 40 участков одинакова. Исходя из этогоможно определить пороговые значенияамплитуд сигналов фотоприемника 10,соответствующие границам классовчистоты поверхностей оптических де талей по формуле ную оптическую систему на фотоприемник 10. Диафрагма 8 установлена в приемной оптической системе для того, чтобы исключить возможность попадания на фотоприемник 10 световых лучей, рассеянных дефектами на нижней поверхности и внутри контролируемой оптической детали, Чтобы обеспечить прохождение светового потока в осветительной и...
Способ определения качества поверхностей оптических изделий
Номер патента: 1455292
Опубликовано: 30.01.1989
Авторы: Антонов, Болошин, Павлишин, Суденков, Юревич
МПК: G01B 17/08, G01N 29/00
Метки: качества, оптических, поверхностей
...образец-кЬимпульса б =5 1 и трижды про ошедшего 0 = б Г определяют зату 5 охание акустических сигналов о 6 в образце 3 и амплитуду возбуждаемого иа облучаемой поверхности сигналами Кроме того, для большей точности измерений необходимо регистрировать сигналы при разных чувствительностях осцилграфа 5,большим временвьи разрешением. Это достигается за счет использования работы измерительного осциллографа 5 в режиме "Поочередно". Часть мощ .ности от оптического квантового генератора 1 с помощью светоделителя 2 направляется на фотодиод б. Импульсом последнего запускается генератор 7 задержки, выдающий импульс через время Т, = Ь/С который запускает генератор 8 парных импульсов.С выходов генератора 8 парных импульсов снимаются два импульса:...
Станок для обработки сферических поверхностей оптических деталей
Номер патента: 1281380
Опубликовано: 07.01.1987
Авторы: Ванькович, Самуйлов, Яцевич
МПК: B24B 13/02
Метки: оптических, поверхностей, станок, сферических
...дополнительный вал 15, на одномконце которого жестко закреплена коническая шестерня 16, входящая взацепление с коническим колесом 12винта планшайбы, а на другом концеустановлена подвижно вдоль оси (свозможностью сцепления с зубьямикорпуса редуктора или с зубьями выходного вала редуктора) зубчатая полумуфта 17. 1 ил. полумуфтой 14 выходного вала 7 редуктора. На зубчатой полумуфте 13, установленной на корпусе редуктора,закреплена пневмокамера 19.5 Станок работает следующим образом.На шпинделе 2 закрепляют блок 20с оптическими деталями 21. Наблок20 устанавливают инструмент 22, ко- Юторый прижимают к блоку 20 поводкомголовки 3. Затем включают станок.Для этого включают электродвигателипривода вращения шпинделя 2 и привода качания...
Предыдущий патент: Устройство для проводки рулонной бумаги в ротационном электрофотографическом аппарате
Следующий патент: Двухконтурная однорегуляторная многоканальная система регулирования
Случайный патент: Распределитель импульсов