Способ измерения эдс от высокоомных датчиков

Номер патента: 1594435

Авторы: Волпянский, Губанов, Гусев, Крутиков

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК Н 9) 80 1 35 А 1 19 0 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГННТ СССР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ. (21) 4331282/24-21 (22) 18.11,87 (46) 23.09.90. Бюл. Р 35 (71) Всесоюзный научно-исследовательский институт электроизмерительных приборов (72) А.Е. Волпянский, В,В. Гусев, В.П. Губанов и Ю.В, Крутиков (53) 621317 (088.8) (56) Патент ГДР Р 224960, кл, С 01 К 27/14. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭДС ОТ ВЫСОКООМНЫХ ДАТЧИКОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения ЭДС от высокоомных датчиков в цепях с болыной постоянной времени. Цель изобретения - повышение точности измерений - достигается путем подключения к выходу измерительной цепи дополнитечьного управляемого низкоомного источника электрического тока одновременнно с подачей тока через исследуемый образец на время, необходимое для установления с заданной погрешностью ожидаемого значения выходного сигнала. Управляемый источник 1 тока соединен с токовым входом цифроуправляемого коммутатора 2, к измерительному входу которого присоединен исследуемый четырехконтактный образец 3, с потенциальным входом соединен цифроуправляемый электрометр 4, параллельно входу которого через корректирующий вход коммутатора 2 соединен цифроаналоговый преобразователь 5, вход которого вместе с управляющими входаФ ми вольтметра 4, источника 1 тока, коммутатора 2 и цифровым входом-выходом вольтметра 4 соединен с конт 1594135Изобретение относится к измерительной технике м может быть использова -нО при контроле полупроеОдниксвыхматериалов, например при измерении.ЭДС от высокоомных датчиковв цепях с большой постоянной времени,при исследованиях электрофизическихсвойств полупроводниковых материа. -лов методом Ван-дер-Пау на высокоомных образцах,Целью изобретения является повьппение точности результата измеренияза счет уменьшения динамической гуогрешности,Сущность способа закупочается втом, что динамическая составляюшаяпогрешности бХ обусловленнаяпостоянной времени измерительной цепи 1 определяющей процесс устаноуз- Упения измеряемого си.гнала на входе измерительного прибора и, соот ветственно, время измерения уи.может быть уменьшена не только увеличением времени измереня, но и умень":"шением абсолютного значения .Измеряемого сигнала Х = Е, участвующего впереходном процессе. Количественноцинамическая составляющая погрешности, напрумер, для случая апериодического переходного процесса описывается формулой,ИЗмДХ = Е.егде Е - измеряемый сигнал от дат"чика;"постоянная времени входнойцепи;время измерения.И ЬАЕсли емкость входной измеритель - ной цепи зарядить за воемя Т опор-. НЫМ СИГнаЛОМ От НИЗКОО 1 НОГО ИСтдни". ка, например ЦАПпо н которогс значения Е то зависимо"ть погрешносути измерения от времени измерения С , с учетом задержки Т на время,И ЬМ/ О необходкуое для установления значе" ния Е , можно представить в виде4.ГдХ = (Е - Е ) е ТРППри луобом фиксированном времени измерения) погрешность измереИЬВ ОЕ то И ния уменьдается в - ; е " раз,ЕуНа фиг, 1 представлена структурная схема устройства, реализууопуего данный способ; на фиг, 2 - зависимости погрешностей Д Х, и Д Х . отрвремени. 1 акуу.Об:. Нс 1, .О 1111 аеуся 1 Овышение 1,: и1 Рзола; Ом уле.уе 11 излереп Р 1 что, с 0 0-.; Оец, Обес - и е чив а;. г . О. ш11 н" .з г;с;, з в г уп 1 ,: , н о си; М Е . Е 1йУс гр . .тло, р ; низоу 0 споб, г ОДЕРжи11 фУ , ,",: " ,У;, Г;,1 т;Чу ИК тока п.дклуо :гл": т 1 Е 1,. у 1 од,.тууоп пупе .. л;1;0111;утаес. к и вг:.Рл" (л ч 0,"0 :ГОГО УУОУ 1 У.УПОЧ Н ИО; О "г- :;йу; - , , 1. Е 0 , уй 1 ЕУ 11 ЕУ Ю ""У" ,Г - 01Уу. -гп нига с,011 г гуо, 111 ф 0 Г ранЯ 11 У(К 1,(Иа 1 Ят,1ВПЕО 0 я; 1.0.У. ".: ( :К 1 у 1 ОИ 1тЕ С УР,.:,1 "и 1 ,,1 В .,оИ уи 1, , .;,:-0, . :11:стра : сое,.1; ,., ,т 00 2 1;,", - с,1: ,д;.Р гЮП 11:1 .: .-.Гг11 ОИГР.:ци,.,икут "к . 1" .,. ;.г,. -. а.уееУО КОУ, 1,0, :; Иотс .:.Ив- дает н.; ру. .:. 1, ":, НуГ .:.; - .-:а уоо-,оп 1, ,- ,1 , - Г;, - ",1,1 , Чво.;пикс;,"го и; ; .е - . у,.,зза 1 ька" й кЕу,l,; 1,п нар;з ууе к тр;:. 1оу 11 О, .о,:, еВЗ 1 ХОДЕ СОРаа ,а За З.Яус.Е. 0МЕНЬШЕЕ, ЧЕп. , С ГО. .",.З.1 1 .11 ИЗМЕ- ритель ;,1:.ик"; .;а-.,сзле кт Ро -гу,ол О ;, рч;,длнуя ДС слууу ау 0к; 10, , к;,.цо,-,- леРа Р; з;ука.,1 .;д11, 1 лу1,. ,ЯОт ВОО, И 1 Е 1 ;,Ч, Г,; -ле чего а сус, 1 сг, -уулк;..с;О -дИт уСа 11 СВЛ.;1 ЗЕЕРИЕ;. .1, НаРОВЕ Знс 101. ,31 . 01 ПЕГС 1 " .-тНСВИВШ 1 М; Я - .1 01 л. :образец, и за О .с;ту 0Составитель П. ТарТехред Г 1,Ходанич ко р О. Ципле Корр Редактор С, Пека Тир Заказ 282 В 11 ИИПИ Го Подписное та по изобретениям и откры Ж, Раушская наб;, д.дарственного коми 113035, Моск ям при ГКНТ СССР5 1 роиэводстненно-издательский комбинат "Пате нт, г, Уж род, ул. Гагарина, 10 5 159443 дит отсчет результата измерения, выдаваемого электрометром. Последовательность действий аналогична, для всех комбинаций коммутаций контактов исследуемого образца при различных направлениях пропускания тока. При этом за счет Форсированного вывода спомощью ДАП выходного сигнала образца в область его ожидаемого значения10 для любого момента времени после отключения ЦЬП динамическая погрешность измерения ЭДС будет уменьшена по сравнению с измерением ЭДС без использоьания данного способа, что приводит к повьпцению точности измерений. Формула изобретения Способ измерения ЭДС от высокоомных датчиков, состоящий в том, что 6подают вспомогательный импульс тока через исследуемый образец, который заряжает паразитные емкости измерительной цепи, учитывают перераспределение токов в. измерительной цепи, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений за счет уменьшения динамической по" грешности, одновременно с подачей то" ка через исследуемый образец на выход измерительной цепи подключают дополнительный управляемый ниэкоомный источник электрического тока на время, значительно меньшее времени измерения и необходимое для установления .уровня выходного сигнала, задаваемого источником, затем отключают дополнительный источник, причем измерение ЗДС осуществляют после истечения заданного времени измерения.

Смотреть

Заявка

4331282, 18.11.1987

ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ

ВОЛПЯНСКИЙ АЛЬФ ЕВГЕНЬЕВИЧ, ГУСЕВ ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ, ГУБАНОВ ВАЛЕРИЙ ПЕТРОВИЧ, КРУТИКОВ ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 19/00

Метки: высокоомных, датчиков, эдс

Опубликовано: 23.09.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1594435-sposob-izmereniya-ehds-ot-vysokoomnykh-datchikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения эдс от высокоомных датчиков</a>

Похожие патенты