Способ обнаружения дефектов в изделиях

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИРЕСПУБЛИН 1 11 29 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ А ВТОРСНОМУ ДЕТЕПЬСТ 1ой механи Г.Борщевс ельство СССР 29/04, 1986 ство СССР 9/04, 1982.НИЯ ДЕФЕКТОВ охл ажд относится к неразбл асти ерхно с з мерит и контролируемого издели ель 8, подключенньй к вых пьезопреобраз ов атель-эмиссионный прибор 10,выходом пьез опреобр аз овожет быть оверхност а акустиканенный сля 9,си гнал ет ся повышраскрытияхани че ски м об обнаружения дефекта осуществляют следующим Сп елиязам едваритель пов ерхноставлено устройство оба обнаружения де дл ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫГИЯМПРИ ПЮТ СССР(71) Институт техническАН УССР(57) Изобретение Изобретение относитсянеразрушающего контроля ииспользовано для контроляных дефектов в изделияхакустической, эмиссии (АЭЦелью изобретения явлние достоверности за счеповерхностных дефектов мнагружением иэделия и умбездефектного материаланым локальным охлаждениети На чертеже предоя реализации спасфектов в изделиях,Устройства содержит сосуд 1 Дюарас жидким хладагентом (например, азотом), электронагреватель 2, помещенный внутрь сосуда 1 Дюара, хладопровод 3, насадку 4, дроссслирующую прокладку 5, выполненную из волокнистогоили пористого материала, термопару 6,прижимаемую к локальному участку по-. рушакцему контролю и может быть использовано для контроля поверхностныхдефектов в изделиях по сигналам акустической эмиссии (АЭ ), Целью изобретенияя является повышение достоверностии з а счет р аскрытия поверхно стныхдефектов механическим нагружением изделия и уменьшения АЭ бездефектногоматериала предварительным локальнымохлаждением поверхности. Иэделие нагружают, локально охлаждают, наносятпенетрант и охлаждают повторно, При охлаждениях регистрируют АЭ и по отношению ее параметров при двух ениях судят о качестве изделий ил,Контролируемое иэделие 7 механически нагружают до заданной нагрузки, например создают растягивающие напряжения в стенках контролируемой емкости путем обеспечения внутри емкости избыточного давления, Устанавливают пьезопреобразователь 9 на поверхность изделий 7 на расстоянии Ь от контролируемого локального участка поверхности, измеряютпараметры сигналов АЭ прибором 1 О и ожидают, когда АЭ, связанная с напряженным состоянием материала, прекратится (давление внутри емкости остается постоянным весь пе 1587438риод испытаний). Затем хладопровод Э с насадкой 4 подводят к контролируемому участку поверхности иэделия 7 (емкости) и накладывают прокладку 5 на поверхность. Производят локальное охлаждение поверхности изделия 7, при этом зона охлаждения определяется размерами прокладки 5, через которую дросселируют газообразный хлацоагент. Р аз мер насацки 4 выбирают таким, чтобы вне ее не происходило кристаллизации водяных паров на поверхности изделия 7, т, е, темпер атур а поверхности была больше 0 С, 15Из меряют темпер атуру локально го контролируемого участка термопарой 6 и измерителем 8, Скорость и степень охлаждения регулируют электронагревателем 2, Перемещают прокладку 5 на 0 следующий контролируемый участок и производят его локальное охлаждение. Таким образом сканируют все участки изделия, подлежащие контролю (например, сварной шов), при этом регистрируют параметры сигналов АЭ приборами 10.Затем участки изделия 7подлежащие контролю, тщательно очищают от загрязнения, обезжиривают и высушивают, тем самым полностью освобождают поверхностные дефекты от загрязнения и влаги, Наносят на участки изделия 7 слой жидкого индикаторного вещества, обладающего высокой проникающей спо 35 собностью, например пенетранта, сО температурой кристаллизации 1 =-10 С, Затем с помощью очистителя, например этилового спирта, пенетрант удапяют40 с поверхности изделия 7 таким образом, чтобы сохранилась та его часть, которая заполнила полости открытых поверхностных дефектов. После повторной сушки контролируемые участки иэ 45 делия повторно локально охлаждают в порядкеаналогичном первоначальному охлаждению (первое и повторное охлаждения производят до одинаковой температуры 1), и производят регистрацию параметров сигналов АЭ, Сравнива 50 ют параметры АЭ при первом и повторном охлажцениях и по их отношению судят о наличии дефектов.Если при повторном охлаждении сигналы АЭ не наблюдаются или их уровень значительно меньше, чем при первом охлаждении, то делают вывод о бездефектности контролируемого участка иэделия (в силу эффекта Кайзера для беэ - дефектного материала при повторном нагружении, вызванном термическим воздействием до первоначальной температуры, АЭ отсуствует), Если при повторном термическом нагружении регистрируются интенсивные сигналы АЭ, делают вывод о наличии на контролируемом участке поверхностных дефектов, поскольку охлаждение сопровождается кристаллизацией пенетранта в полости цефекта.Таким образом, способ позволяет повысить достоверность контроля за счет предварительного механического нагружения и локального охлаждения поверхности изделия,фор мул а иэ обр ет енияСпособ обнаружения дефектов в иэделиях, заключающийся в том, что на поверхность иэделия наносят слой жидкого вещества, способного заполнять открытые поверхностные дефекты, удаляютего с поверхности, оставляя в полостях дефектов, производят локальноеохлажцение поверхности изделия до температуры охлаждения ниже температурыкристаллизации жидкого вещества, регистрируют сигналы акустической эмиссии, по их параметрам судят о наличиидефектов, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения достоверности,производят предварительное механическое нагружение изделия и локальное охлаждение поверхности изделия до температуры, равной температуре повторногоохлаждения, а о напичии дефектов судят по отношению параметров акустической эмиссии при первом и втором локальных охлаждениях,.Юрковецка т аказ 2417 5Издательский комбинат Патент Гагарина,Ужгор оизводствен НИИПИ Государственно 11303Составитель К, ХилкТехред М.дидык Тираж 506комитета по изобретениям и о Москва, Ж, Раушская наб.,Под пи сно ерытиям при ГКНТ ССС