Генератор свч

Номер патента: 1387798

Опубликовано: 20.08.1999

Авторы: Ковешников, Редькин, Старков, Юнкин, Якимов, Ярыкин

МПК: H01L 21/322

Метки: геттерирования, кремния, металлических, пластине, примесей

Способ геттерирования металлических примесей в пластине кремния, включающий обработку нагретой пластины в электрическом разряде в газовой атмосфере, отличающийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей процесса геттерирования путем снижения температуры геттерирования, обработку пластины проводят в разряде высокой частоты, в атмосфере смеси кислорода с фторсодержащим соединением при их объемном отношении (0,1-1) : 1 соответственно величине удельной мощности на единицу поверхности 0,4-1,3 Вт/см2 и рабочем давлении 6 10-3 - 6

Номер патента: 1789503

Опубликовано: 23.01.1993

Автор: Кравченко

МПК: B66F 3/22

Метки: грузоподъемное, кравченко

...штанг может быть расположен горизонтально между нижними штангами и выполнен с двумя штоками, каждый из которых связан с осноформула изобретения 1, Грузоподъемное устройство, содеркащее основание, грузоподъемный стол и механизм вертикального перемещения последнего, включающий расположенные в одной вертикальной плоскости верхние и нижние штанги, попарно и шарнирно связанные одними концами со столом и основанием соответственно, а другими - между собой со смещением последних шарниров относительно первых в сторону центральной части устройства, и силовой цилиндр поворота штанг, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения технологических 10 15 20 25 30 35 ванием и соответствующей нижней штангой посредством пары звеньев, одно из...

Номер патента: 861936

Опубликовано: 07.09.1981

Автор: Старостенко

МПК: G01B 11/08

Метки: глубины, объектах, поперечных, размеров, щели

...показан), объектив 1, расположенный соосно с осветителем, и экран 2, расположенный в зоне формирования дифракционной картины Фраунгофера. ЫСпособ измерения поперечных разме- ров и глубины щели 3 в объекте 4 например щели спектрального прибора или отверстия в фильтре, заключается в том, что формируют монохроматический когерентный поляризованный параллельный световой пучок и направляют его на пель 3 параллельно ее оси. За щелью 3 в зоне Формирования дифракционной картины Фраунгофера на экране 2 измеряют расстояние между экстремальными точками этой картины, симметричными относительно ее центра, и определяют углы между направлением светбвого пуч. ка и направлением центра щели 3 на экстремальные точки дифракционной картины.Затем наклоняют...

Номер патента: 1388528

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Борисов, Крившук, Лазебный, Назаров

МПК: E04F 21/165

Метки: заделки, между, панелями, щелей

...7 составляет 2-2,5 шириныпродольной пластины 2,Продольная пластина 2 снабженазатирочным элементом 8, установленным и закрепленным с ее наружнойстороны, Затирочный элемент 8 выполнен соответственно габаритам продольной пластины.Устройство работает следующим,образом.Продольной пластиной 2 корпусазахватывают раствор (из емкости)при этом необходимо, чтобы подвижная нижняя пластина 7 находилась ввертикальном положении, образуя емкость. Затем устройство за рукоятку6 поворачивается в положение, прикотором раствор перемещается на подвижную пластину 7 и в таком положении переносится к месту заделки щели. Стороной, снабженной раствором,устанавливают к обрабатываемой поверхности в угол потолочного шва, Рабочий, стоя внизу (на полу,...

Номер патента: 1244678

Опубликовано: 15.07.1986

Авторы: Бокша, Семенычев

МПК: G06G 7/19

Метки: второго, корреляционных, моментов, отношения, оценки, первого, порядков

...процессов х.) и у1 с 1 1,К - -Т1с 1 ь 1 ь- ЮОгде р - ноРмиРованная взаимокор.реляционная функция процессов.Целью изобретения является повышение точности устройства,Параметр К является самостоятельной характеристикой форм взаимокорреляционной функции р) . Кроме того,если у с) . -) и ) х с - и) йи, т . е . ее.оляется выходом линейного звена с импульсной характеристикой Ь(о), топодставляя, производя замену перемен.ных, можно показать, чтоМг Ь) Мо(Ь) Мг(х)К = +ЖМ,(Ь) ЙО) М,(х)где М (Ь) = и"Ь(ц)йгг, - моменты имипульсной характеристики;1;:М(х) =1К (т)ДФ - момент корре)оляционной функции Квходного проацесса х,Таким образом, имеется воэможностьоценивать параметр линейного звена,что весьма важно при диагностике, ресурсных испытаниях,...