Смеситель

Номер патента: 980795

Опубликовано: 15.12.1982

Авторы: Власов, Гейзер, Левашов, Менакер

МПК: B01F 5/06

Метки: перемешивающих, смеситель, статический, элементов

...2 включает оправу 4 крутильного приспособления, неподвижную 5 и поворотную крышку 6.Смеситель работает следующим образом.В корпус 1, который может представлять собой участок трубопровода, подают поток перемешиваемых компонентов. Торцовой кромкой первого элемента 2 поток компонентов делится на два потока, каждый из которых входит в винтообразный канал смесителя, стенка которого образована элементом 2 и корпусом 1. В зоне столкновения потока со стенкой канала и уменьшения его скорости возникает местное повышение давления скоростного напора, а в диаметрально противоположной зоне - понижение давления, В результате перемещения компонентов из зоны повышенного в зону пониженного давления возникает закручивание потока компонентов. При...

Номер патента: 510640

Опубликовано: 15.04.1976

Авторы: Бочков, Глушков, Нелюбин

МПК: G01B 7/287

Метки: поверхности, профиля

...материала 4. Изоляционные прокладки 5 сл.жат для электрической изоляции дополнительных электропроводных штырей 3. Блок 6 регистрации контактов с поверхностью выполнен в виде схемы, включаощей в себя источник 7 питания, задающий релейно-коммутационный блок 8 и исполнительный релейно-коммутационный блок 9. Блск 9 связан с источником 10 питания, который также как и источник 7 замкнут на ксн 1 ролиремю лопатку,Ус-.ройствс р а ботает следующим образом.,акто Заказ 1419,4ЦЕ 41 т 1 Ео Пи Госсдарственното но телам иво 113(135, Мо, кваЕ:но:рафни и. Сен 1 нова, 2 Перед 1111 чялом ряботь. дл 51:111 сро 11 К;1 и о - ладки схсмы блока 6 рег 11 страцкк;гежду частямн 110 рпуса помоняетс 51 этялонпя.1 ло:1 ят. ка 11. Все основные штыри 2 привод 51 тся в...

Номер патента: 621965

Опубликовано: 30.08.1978

Авторы: Гайдучик, Головченко, Иванов, Павленко

МПК: G01B 15/04, G01F 23/288

Метки: поверхности, профиля, сыпучих, уровня

...измерения. Устройство состоит из блока 1 источника гамма-излучения, содержащего источник аннигиляционного гамма-излучения и д; - текторы 5 и 4, блока о приемника, содержащего один детектор, схеьы о распознаВания сигналов детекторов, устроиства задержки импульсов, Олока 8 упраВленн 51 11 ссрвонриводов 9 и 10.Устройство работает следующим образом.Блок 1 источника излучения оолучаег контролируемую поверхность двумя кол,щмированными пучками аннигиляционного гамма-излучения и поворачивается вокруг своей оси так, что облученные зоны перемещаются по контролируемой поверхности В направлении на олок 5 приемника, 11 рп зтом детекторы 3 и 4 регисрируюг соо.- Ветствующие потоки ашигнляционного гав- ма-излусни 51 противопоаОжпого папраВлспи 51....

Номер патента: 621966

Опубликовано: 30.08.1978

Авторы: Гайдучик, Головченко, Иванов, Павленко

МПК: G01B 15/04, G01F 23/288

Метки: поверхности, профиля, сыпучих, уровня

...гамма-излучения и подвижный детектор 3, блока 4 приемника,схемы 5 1 эаспознаванлля сппалов приюНика, схем совпадения 6 и 7, схемы 8 распознавания сигналов, блоков управления 9 и10 и сервоприводов 11 и 12.Устройство работает следующпм образом.Блок 1 облучает контролпруемуло поверхность коллпмпровалвыъ Пучкоъ аннпгпляциоппого гамма-излучения так, что на поверхности образуется узкая неподвижнаяоблученная полоса. Детектор 3 регистрирует часть соответствующего потока аннигиляционного гамма-излучения противоположного направления и перемещается вплоскости коллимации относительно источника,При этом контролируемая часть потокаизлучения, направленного па поверхность,тоже изменяет свое положение в простран621966 15 Составител ноземцева Текред...

Номер патента: 968621

Опубликовано: 23.10.1982

Авторы: Жегас, Рагульскис, Рондоманскас, Чуприн

МПК: G01H 3/08

Метки: неровностей, поверхности, профиля

...щупа с еемикронеровностями. Соударения, происходящие в микрообъемах, вызывают.появление сигналов упругих волн, ко"торые с помощью пьезоэлектрическогопреобразователя преобразуются вэлектрический. сигнал, Так как наконтролируемой трассе исследуемой пОверхности имеют место шероховатость,вОлнистость и другие дефекты с непрерывно изменяющимися значениямипараметров, то в каждый момент времени нри движении измерительного щупа интенсивность импульсов упругихволн изменяется. Величина среднегозначения и размаха варьирования интенсивности импульсов, определяемаяза равные последовательные интервалы времени, пропорциональные, например, базовой длине .контроля, харак"териэует качество поверхности через ее неоднородность. Оценка вероятности появления...