Устройство для определения размеров и глубины залегания скрытых дефектов в изделиях
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
1 лошядь В 1 Оро О 3,1 екав) ода-ОТ 115 жателя 2 может изменять я путем навиВки на его конец металличекой ленты б, вращением оси электродаотр ажателя 2. Размер площади н амотанной в виде спирали ленть; указывается на шкале 6.Процесс пользования устройством заключается в оравнении на экране осциллографа иззбраже 1 лий с 1 лгналов: полученных в дефектоскопс ири проверке действительного изделия с сигналом, полученным от модели.Как уже было указано, излучатель может перемещаться относительно отражателя 2, в результате чего служебный имиус 1 ьс переецается вдоль линии развертки по экрану электронного осцтЛлографа. Путем перемотки ленты площа,дь отражателя 2 также может 1 лзменяться, благодаря чему изменяется величина отраженного сигнала при- ,1 итого излучателем 8.Тякив образом для определения 311 Ви валентно пло 1 цади дефекта гнсобходимо перемещать излучатель 8 и изменять площадь отражателя 2, пока слуткебный импульс от МОДЕЛИ На ЭКРааче НЕ СОВПЯДЯЕГ ПО ьеллчине и положению с импульсом. отраженным от действительно: о дефекта. После этого эквьвалентна 5 площадь дефекта и расстоя 1 Ие 1 О дефекта определя:отея на 5 О 11,слн ио шкалам 4 и 6.На фиг. 2 приведен другой варна т предложенпого устройства. В пем также применен заполненный жидкостью сосуд с двумя эле.лродами излучателем 7 и отражателем 8, Оба электрода выполнены иоДВТ 1:КЧЫХИ И ИХ ПОЛО:КЕЛИЕ фИКСИ- руется на шкалах 9 и 10. Между электродами расположена диафрагмя /1 с крр.,1 ым рег.лир 1 емыь 1 Г ,11.:;, Г:1 см 1 и 11 ме ГР ко ГОРОГО можебыГВ Отсчитан иа и 1 калс 12В этом случае сигнал от излучатсл 51, прошедший через диафрагму, ирин;маегся отражателем 8, расположенным ня том же расстоянии От д;1 яф 1)ягъы, что и 13 Гучатель 7, по друггю сторону От нее.Предмет изобр сения1, Устройство для определения размеров и глубины 31 легат 51 я скрытых дефектов в 5 здел 5 ях, путем срявенБ 51 сигналя, Тол"1 сииого В УЛЬТОаЗВУКОВОВ Дефсктоскоис ОТ дсй тгзительного дефекта, с сигна- ЛОМ ИОЛУЧСННЫМ С ИОМО 1 ЦЫО ВСПО- могательной ультразвуково модели исследуемого тела со:тавленного из 3 аполненвого жидкостью сосуда с РЯСНОЛО КЕНИЫЪ 1:11 В НЕМ ДЗУМ 51 ЭЛЕК- тродами-излучаелем и отракатслсм, отличающееся тем, что, С ЦЕЛЬЮ ИРОИЗВОЛЬНОГО ИЗМЕГЕНИ 51 раямероз и глубины залегания исугсгвс 1 ного дефек Га, э;ект 1 родизлучатель ВВ 1 иолнсь передвижными, я электрод-От,яжятель ОстОит иЗ сзсрнутой з спираль металлической ЛСНТЬ:, СМЯТЬ;ВЯСХ 101 СО СП;Ка;И И:И ияматываемои ня иее для плавного изменения плогцяди электрода-отра 5 кятсля с тем, чтсбы путем измечя, ТО 511 ия 1 с;к;э тект родя ми и площади электрода-отражатс,1 я .,:жаио было изменять положснис и формсигня,1 я иолучас 110110 От модели,2. Видозме 1 лснле устройства по и. 1, о гл ичающееся тем, что ДГЯ ИЗМЕ 1 ЕНИП Р а 311 Е )ОЗ,ДЕ 11 ЕКТЯ Н 1 модели пригмснсна расположенная между электродами диафрагма, с рсгул 1 л 1 эуемым по Величине отверстием.Фиг. 1 1 1)иг. о о.ктот но дела 1 нзой)1)етеннй и открыт)111 нрн Сонете Мнннст 1)ов СССР дактор А. Е,;тейкнна Информационно-издательский отдел. Подп. и и:и. 8)11-1%58 гОбъем ,81 и. л. Ззк, 5291. Тираж )825. Цена 50 л Гор. Алатырь, типо фия 2 Мии рствэ культуры Чувашской АССР.
СмотретьЗаявка
584951, 23.10.1957
Ермолов И. Н, Краковяк М. Ф, Матвеев А. С
МПК / Метки
МПК: G01B 17/00, G01N 29/04
Метки: глубины, дефектов, залегания, изделиях, размеров, скрытых
Опубликовано: 01.01.1958
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-115743-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-razmerov-i-glubiny-zaleganiya-skrytykh-defektov-v-izdeliyakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения размеров и глубины залегания скрытых дефектов в изделиях</a>
Предыдущий патент: Пневмомеханический ручной пресс
Следующий патент: Способ придания поверхности металлов трущихся пар противозадирочных свойств
Случайный патент: Панель перегородки