Способ определения относительных перемещений

(54) СПОСОБ ОПРНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ(57) Изобретентельной техникявляется повышти определениящений путем усности интерферлютным деформа тносится к изме тени ельн Целью изобрие производитносительных ер е ранения чувст граммы сдвига ионным переме абсониям,ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ ОПИСАНИЕ ИЗОБ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское свидетел9 444050, кл. С 01 В 9/ На отдельные фотопластинки регистрируют спеклограммы-сфокусированного изображения объекта в начальном и измененном состояниях, Каждую из спеклограмм восстанавливают плоской волной, осуществляют фильтрацию одного и того же порядка дифракции и . производят совмещение и запись на одной регистрирующей среде волн, восстановленных с соседних участков .спеклограммы. После проведения фотохимической обработки полученную на регистрирующей среде двухэкспозиционную спеклограмму освещают плоской волной и, осуществляя пространственную фильтрацию восстановленной волны, получают интерферограмму сдвига. Рас- Й шифровав по известным методикам пол- ченную интерферограмму, определяют относительные перемещения. 1 ил. С:136687 1 О 20 25 30 40 45 55 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при проведении когерентно-оптических интерференционных измерений на основе спекл-интерферометрии.Цель изобретения - повышение производительности определения относительных смещений путем устранения чувствительности интерферограммы сдвига к абсолютным деформационным перемещениям. На чертеже изображена структурная схема устройства для осуществленияпредлагаемого способа,Устройство состоит из, спекл-интерферометра А сфокусированного изображения, блока В оптической пространственной фильтрации и интерферометра С сдвига, Спекл-интерферометр Асфокусированного изображения содержит объектив 1 и позиционер 2, в который установлена Фотопластинка 3.Позицией 4 обозначен исследуемыйобъект. Блок Б оптической пространственной фильтрации содержит фотопластинку 3 с зарегистрированной на нейспеклограммой объекта 4, которую переносят в блок В из спекл-интерферометра А, позиционер 5, конфокальные ,линзы б и 7 и пространственный фильтр 8. Интерферометр С сдвига содержитсистему 9 сдвига по пространственным координатам световой волны и регистрирующую среду 10,Способ осуществляют следующим образом.Освещают объект 4 когерентным излучением, В спекл-интерферометре А на фотопластинке 3 регистрируют спеклограмму сфокусированного изображения объекта 4 в первоначальном состоянии, затем фотопластинку 3 вынимают, подвергают фотохимической обработке и устанавливают в позиционер5 блока В оптической фильтрации. Освещают спеклограмму на фотопластинке3 плоской волной когерентного излучения и в восстановленной световойволне осуществляют посредством фильтра 8 в фокальной плоскости линзы 6 пространственную фильтрацию, выделяя один отдельный дифракционный порядок.После оптической фильтрации восстановленные соседнимц участками спеклограммы волны направляют в интерферометр С сдвига, в котором система 9осуществляет сдвиг световых волн,приводящий к совмещению в плоскости 4 2регистрирующей среды 10 волн, восстановленных соседними участкамиспеклограммы. Затем первую спекло- грамму убирают и после воздействия на объект 4 в спекл-интерферометре А регистрируют спеклограмму сфокусированного изображения объекта 4 в измененном состоянии. После проведения фотохимической обработки полученную спеклограмму устанавливают в блоке В оптической фильтрации, осве" щают ее и выделяют тот же, что и для первой спеклограммы, дифракционный порядок. После оптической Фильтрации восстановленную волну направляют в интерферометр С сдвига, где осуществляют совмещение волн, восстановленных с соседних участков спекло- граммы, в плоскости регистрирующей среды 10. После этого осуществляют Фотохимическую обработку регистрирующей среды и полученную двухэкспозиционную спеклограмму освещают плоской волной когерентного излучения, Осуществляют пространственную фильтрацию восстановленной волны, в результате чего получают интерферограмму сдвига, несущую информацию только об относительных деформационных перемещениях. Осуществляют по известным методикам расшифровку интерферограммы сдвига и определяют величину относительных перемещений точек поверхности диффузно отражающего объекта 4.1Формула изобретенияСпособ определения относительныхперемещений точек поверхности диффузно отражающего объекта, заключающийся в том, что освещают объект когерентным излучением, получают двухэкспозиционную спеклограмму, восстанавливают с нее световую волну, осуществляют пространственную Фильтрацию вос-. становленной волны, фиксируют интерференционную картину, по которой определяют относительные перемещения, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности, при получении двухэкспозиционной спеклограммы регистрируют спеклограмму объекта в первоначальном состоя-. нии, освещают ее плоской волной, осуществляют пространственную фильтрацию восстановленной волны, производят сдвиг отфильтрованной волны по пространственным координатам иставитель В,Бахтихред М.Ходанич рректор А.Обруч актор А.Реви Заказ 6826/4 Оого комитета СССий и открытийская наб., д. 4/ Тираж 6 дарствен изобрете -35, Рауш одписное Н Г по дел13035, Москва роизводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, улПроектная, 4 1366874записывают ее на регистрирующей сре- становленной волны, производят сдвиг де, регистрируют спеклограмму объек- восстановленной волны по пространстта в измененном состоянии, осуществ- венным координатам и регистирируют ляют пространственную фильтрацию вос- ее вновь на регистрирующей среде.