Способ двумерной оптической фильтрации

ЗИ 51 О ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик ависимое от авт. свидетельствааявлено 31 Л.1972 (М 1743344/26-2 присоединением заявкиПриоритет 01 ч 1128 осударственный квмите 1Савета Минивтрав СССРнв делам изобретенийи аткрытий 50,8 Д 4(088.8 Опубликовано 25,ч 11.1973, Бюллетень31Дата опубликования описания 28.Х 1.1973 А, Б. Беклемишев и Д. А. Кутуков Авторыизобретен Всесоюзный научно-исследовательский институт геофизических метод разведкиЗаявите ЕРНОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ФИЛЬТРАЦИИ СПОСОБ 20 Изобретение относится к области сеисмической разведки и может быть использовано при анализе и обработке сейсмической информации.Известен способ двумерной оптической фильтрации, в котором перед когерентным световым пучком помещают микрокопию сейсмического разреза. Благодаря явлению дифракции и в соответствии с теорией Фурье происходит разложение сейсмического разреза. Дифрагированные разрезом волны, пройдя ряд линз оптической системы, формируют в фокальной плоскости двумерный спектр пространственных частот оптического сигнала. Для фильтрации пространственных частот, т. е, устранения (ослабления) некоторых составляющих спектра, определенные участки двумерного спектра закрывают специальными непрозрачными заслонками и тем самым вычитают из исходного разреза сигналы с определенными частотами, а также оси синфазности определенных направлений,В известном способе, основанном на формировании спектра микрофильма - монтажа сейсмограмм по частоте и волновому числу, устранении отдельных фрагментов спектра в процессе обработки и,восстановления фильтрованного изображения временного разреза, при необходимости изменения параметров фильтрации приходится заменять заслонки вручную, что создает неудобство и замедляет процесс обработки сейсмической информации, особенно при многократной фильтрации с различными параметрами.Цель изобретения - повышение скорости обработки.Для этого спектральный световой поток пропускают через ограниченную системой параллельных прозрачных контактов жидкокристаллическую среду, прозрачность которой изменяют путем изменения напряжения, прикладываемого,к выбранным контактам.Предлагаемый способ может быть осуществлен следующим образом.Используется свойство жидких кристаллов изменять прозрачность под действием электрического поля. При этом тонкий слой жидкокристаллического вещества помещают между стеклянными прозрачными пластинами, на внутренние поверхности которых наносят прозрачные проводящие покрытия (например, из окиси олова) необходимой конфигурации, выполняющие роль электрических контактов, Распорки из полимеров, например тефлона, позволяют установить необходимую толщину жидкокристаллического вещества, которая может составлять величину порядка 0,01 мм.При отсутствии напряжения на пластинах (покрытиях) жидкокристаллическое вещество находится в состоянии покоя и прозрачно.391510 Предмет изобретения Составитель Е. Вишняков Текред 3. Тараненко Корректор А. Дзесова Редактор А. Батыгин Заказ 311212 Изд.848 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Государственного Комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр, Сапунова, 2 Приложение к пластинам напряжения порядка 5000 в/см или 5 - 70 в при реальной толщине жидкокристаллической среды вызывает помутнение последней: вещество в пространстве между пластинами рассеивает свет.Прозрачные контакты имеют выводы наружу, и при переборе параметров фильтрации эти выводы по соответствующей программе электрически соединяются с источником напряжения в необходимых сочетаниях.Фильтрация жидкокристаллическими средами в принципе позволяет получить значительно большую гибкость при изменении параметров оптических фильтров. Открываются возможности управления и электрического регулирования пропускающей способностью используемых оптических фильтров. Способ двумерной оптической фильтрации,основанный на формировании спектра микро фильма - монтажа сейсмограмм по частотеи волновому числу, устранении отдельных фрагментов спектра в процессе обработки и восстановлении фильтрованного временного разреза, отличающийся тем, что, с целью по вышения скорости обработки, спектральныйсветовой поток пропускают через ограниченную системой параллельных прозрачных контактов жидкокристаллическую среду, прозрачность которой изменяют путем измене ния напряжения, прикладываемого к выбранным контактам.