Способ управления процессом механической обработки

ZIP архив

Текст

",Р Гр г. ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ тит ла. Е ению изоб:Ь СУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ ПРОСОМ МЕХАНИЧЕСКОЙ ОБРАБОТК(57) Изобретение относится к управточностью металлообработки. Цель ЯО 132815 ретения - повышение точности обработки. Способ заключается в том, что производят предварительный замер геометрической формы заготовки, полученную информацию передают в запоминающее устройство вычислительного комплекса, устанавливают заготовку на станке путем совмещения координат обрабатываемой поверхности и координат установочных элементов станка, задают текущие координаты геометрической формы точной готовой поверхности, измеряют датчиками, установленными на резце, фактическую глубину резания, сравнивают необходимую глубину резания и фактическую, по разности сравнения корректируют положение инструмента. 2 ил.30 35 40 45 Формула изобретения 50 55 Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано в металлообрабатывающих станках с ЧПУ,Цель изобретения - повышение точности механической обработки путем активного контроля и управления толщиной удаляемого слоя в каждой точке обрабатываемой поверхности.В процессе обработки определяют фактическую толщину удаляемого слоя по сигналам двух датчиков, установленных на инструменте, сравнивают ее с расчетной и по результатам сравнения корректируют положение инструмента.На фиг. 1 представлена схема способа управления процессом механической обработки на примере обработки на токарном станке; на фиг. 2 - схема расположения датчиков,При реализации способа используется измерительный стенд 1, где производится предварительный обмер поверхности заго. товки, вычислительное устройство 2, где производится соответствующее математическое преобразование по результатам введенной информации о вписанном в заготовку теоретически заданном контуре и поступающей информации от предварительного обмера поверхности заготовки на измерительном стенде 1, блок 3 памяти, где хранится информация, два датчика, установленных на обрабатывающем инструменте 4, причем первый из них перед инструментом (датчик 5 линейного размера), второй позади инструмента (датчик 6 коррекции), сумматор 7, к которому подсоединены датчики 5 и 6, сравнивающее устройство 8, к которому подсоединен сумматор 7. К блоку 3 памяти подсоединены датчики 9 и 1 О положения. Выход блока 3 памяти подсоединен к сравнивающему устройству 8, выход сравнивающего устройства подключен к исполнительному механизму 11. Обрабатываемую заготовку предварительно измеряют на измерительном стенде, наносят на нее соответствуюгцие метки, определяющие ее систему координат, в которых производилось измерение. В результате замера получают некоторую зависимость у = = 1(2,) (например, в цилиндрических координатах). Информация замера попадает в вычислительное устройство 2, хранящее в своей памяти информацию о поверхности, которую надлежит получить р,=1,(2, Т" ).Производится ориентирование поверхности детали внутри поверхности заготовки с учетом базирования и получения наиболее симметричного расположения одной поверхности относительно другой. Затем производится вычисление толщины материала 1 подлежащего удалению в каждой точке за- готовки 5 10 15 20 25 з =у - у =1( у) - 1 з (х у) = 9=ь Ъ ч) Эти данные заносятся в блок 3 памяти, после этого заготовка устанавливается в станке с совмещением ее координат с координатами станка (индикация координат станка ведется датчиками 9 и 10 положения).Датчик 5 линейных размеров измеряет расстояние до заготовки х. Поскольку расстояниеот датчика до линии кромки инструмента известно, то толщина удаляемого слоя (р материала определяется как разность установочного расстояния 1 и расстояния до заготовки хи. В процессе обработки происходит повышение температуры режущего инструмента, вызывающее его температурную деформацию, а также происходит износ режущей кромки. Таким образом, предварительно устанавливаемая величинаявляется нестабильной. Для исключения влияния на точность обработки температурной погрешности и погрешности от износа датчик 6 коррекции измеряет расстояние х до поверхности детали и в случае его изменения на величину бх, в сумматоре 7 происходит коррекция показания датчика 5 на величину диац.Таким образом, толщина фактически удаляемого слоя материала определяется как 1 =1 - хц+ьх,Сигнал, пропорциональный 1 Р, поступает на один вход сравнивающего устройства 8. На другой вход сравнивающего устройства 8 поступает хранящийся в блоке 3 памяти сигнал, пропорциональный 1 соответствующий точке поверхности с координатами, определяемыми датчиками 9 (линейных) и 1 О (угловых) перемещений.В сравнивающем устройстве 8 производят сравнение величины (, которая в настоящее время имеет место с величиной 1, вычисленной м атем атически для этой же точки, На выходе сравнивающего устройства 8 включен исполнительный механизм 11, который в случае несовпадения 1 р и 1 з выполняет коррекцию положения инструмента до их совпадения. Способ управления процессом механической обработки, при котором производят предварительный замер геометрической формы координат детали, полученную инфор мацию помещают в запоминающее устрой- ство вычислительного комплекса, в котором производят сравнение геометрической формы заготовки с теоретической поверхностью детали и определяют расчетную толщину удаляемого слоя в каждой точке обрабатываемой поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности обработки1328154 айаг.г Составитель В. А. Техред И. Верес Тираж 785го комитета СССР по дква, Ж - 35, Раушскафическое предприятие,ексеенко Корректор Л. Знмокосо Подписное бретений и открытий д. 4/5 од, ул. Проектная, 4 Редактор Г. Волкова Заказ 3435/ 8 ВНИИПИ Государственн 13035, Мо Производственно-полигревам изоя наб., г. Ужгор путем осуществления активного контроля толщины удаляемого слоя, в процессе обработки осуществляют измерение двумя датчиками, причем первым датчиком осу- ществляют измерение расстояний от режущего инструмента до необработанной поверхности детали, а вторым датчиком - от режущего инструмента до обработанной поверхности детали, по результатам измерения вычисляют фактическую толщину удаляемого слоя 1 по формуле1 р = 1 - ,Хц+ ЬХ,где- установочное расстояние первогодатчика;Х- текущее показание первого датчика;5 д Х - текущее отклонение показаниявторого датчика,сравнивают фактическую толщину удаляемого слоя с расчетной и по результатам сравнения корректируют положение инструмен О та, добиваясь равенства фактической и расчетной толщины удаляемого слоя по всемточкам обрабатываемой поверхности.

Смотреть

Заявка

3824479, 14.12.1984

ХАРЬКОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. В. И. ЛЕНИНА

КЛАДОВ ГЕННАДИЙ КУЗЬМИЧ, ГРИШКЕВИЧ АЛЕКСАНДР ВАСИЛЬЕВИЧ, НАЗАРЕНКО ВИКТОР ИВАНОВИЧ, БОЧКОВ ВАЛЕРИЙ САМОЙЛОВИЧ, ЯКОВЛЕВ АЛЕКСЕЙ ЮРЬЕВИЧ, ЖАРОВСКИЙ ОЛЕГ НИКОЛАЕВИЧ, КОЛЕСНИКОВ СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: B23Q 15/00

Метки: механической, процессом

Опубликовано: 07.08.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1328154-sposob-upravleniya-processom-mekhanicheskojj-obrabotki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ управления процессом механической обработки</a>

Похожие патенты