Способ измерения линейных размеров объектов с отражающей поверхностью
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН ЯО 132 И 401 В 11/ СССР НРЫТИ ОБРЕТЕН ИСА У СВИДЕТЕЛ ВТОРСН ОСУДАРСТВЕННЫИ НОМИТЕ ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ ОБЪЕКТОВ С ОТРАЖАЮЩЕЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных размеров объектов. Цель изобретения - повышение точности и производительности измерения за счет сокращения количества фиксаций и замеров положения отраженного луча. Направляют на отражающую поверхность 2 измеряемого объекта под углом а световой луч, фиксируют отраженный луч и по положению отраженного луча определяют линейный размер.Предварительно светсвой луч направляют на образцовую диаметральную отражающую поверхность 1 диаметра Р, на расстоянии 1 от нее устанавливают параллельно направленному лучу приемную п.поскость 3 и фиксируют на ней первоначальное положение отраженного луча. Затем располагают измеряемую поверхность 2 концентрично образцовой поверхности 1, после чего на приемной плоскости 3 замеряют расстояние а между точками фиксации лучей, отраженных от измеряемой и образцовой поверхностей 2 и 1.После этого определяют уго.п в между нормалями к измеряемой и образцовой поверхностям 2 и 1 в точках падения луча и диа- Ж метральный размер д измеряемого объекта ф по соответствующим соотношениям. 1 ил. ЪФ ф= ассса 2 с- 2 асрх ожноизме ормула изобретения 5 аск(, (со 5 Псу сс- 2 ас.аС О 5 С. з 1 па(а+ р) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных размеров объектов.Цель изобретения - повышение точности и производительности измерения путем сокращения количества фиксаций и замеров положения отраженного луча.На чертеже изображена схема, поясняющая способ измерения линейных размеров объектов.Световой луч направляют под углом а к образцовой отражающей поверхности 1 с заданным диаметром Р с центром в точке О. Концентрично к поверхности 1 располагают отражающую поверхность 2 измеряемого объекта диаметром с 1, подлежащим определению, а приемную плоскость 3 устанавливают параллельно направленному световому лучу на расстоянии К измеренном по нормали к образцовой поверхности от точки А падения луча. Далее на приемной плоскости 3 в точке М первоначально фик сируют отраженный от образцовой поверхности 1 луч. Затем направляют тот же световой луч на отражающую поверхность 2 измеряемого объекта. Отраженный от точки В луч фиксируют в точке Е приемной плоскости 3. Расстояние а между точками М и Е фиксации лучей, отраженных от образцовой и измеряемой поверхностей, характеризует диаметральный размер д.Расстояние а определяется суммой смещений а 1 и а 2 отраженного луча, соответ ственно из-за линейного смещения точки падения направленного луча и углового смещения отраженного луча: Из треугольника АВО, знаяпределить диаметральный размеряемого объекта: Способ измерения линейных размеров объ ектов с отражающей поверхностью, заключающийся в том, что направляют световой луч на отражающую поверхность объекта, фиксируют отраженный световой луч и по его положению определяют линейный размер, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности изи+ + асцос -2 с.5 ф. 2 со 5 Ъ(в = асссн Из треугольника АВО следует Из треугольника ВСЕ с учетом равенИз формул (1) - (3) с учетом тригоетрических преобразований следует Решая уравнение (6) с учетом соотноений (5), получаеммерения диаметральных размеров, предварительно направляют тот же световой луч на образцовую отражающую поверхность диаметром О, устанавливают параллельно направленному лучу приемную плоскость, на которой фиксируют первоначальное положение отраженного луча, затем располагают измеряемую поверхность концентрично образцовой, измеряют на приемной плоскости расстояние а между точками фиксации лучей, отраженных от образцовой и измеряемой поверхностей, и определяют угол р между нормалями к образцовой и измеряемой поверхностям в точках падения светового луча и диаметральный размер с 1 объекта из соотношений1320658 Составитель Л. Лобзова Редактор А. Огар Техред И. Верее Корректор А. Ильин За каз 2649/44 Тираж 677 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 13035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4где а - угол падения луча на образцовую отражающую поверхность; 8 - расстояние от образцовой поверхности до приемной плоскости, измеренное по нормали к образцовой поверхности в точке падения луча.
СмотретьЗаявка
4024911, 21.02.1986
МВТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
ИВАНОВ ВЯЧЕСЛАВ СЕРГЕЕВИЧ, СПИРЕНКОВ НИКОЛАЙ ПАВЛОВИЧ, КОЛТУНОВ СЕРГЕЙ ЮРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/02
Метки: линейных, объектов, отражающей, поверхностью, размеров
Опубликовано: 30.06.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1320658-sposob-izmereniya-linejjnykh-razmerov-obektov-s-otrazhayushhejj-poverkhnostyu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения линейных размеров объектов с отражающей поверхностью</a>
Предыдущий патент: Створофиксатор
Следующий патент: Способ измерения распределения толщины волноводной пленки и устройство для его осуществления
Случайный патент: Калориметрический измеритель сверхвысоко-частотной мощности