Способ магнитного испытания металлов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 129377
Автор: Городинский
Текст
СССР БнБ 11;3 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬС одписная группа Л" 17 И, А Городинский ПОСОБ МАГНИТНОГО ИСПЫТАНИЯ МЕТАЛЛОаявлено 3 оября 959 г. заб 4292025 в Комитет по делам изобретений и открытий прп Совете Министров СССР публиковано в Бюллетене изобретений2 за 96 Наиболее распространенным способом магнитного испытания металлов являе 1 ся способ, по которому изделие из испытуемого металла пропускается через катушку, питаемую переменным током, доводящим указанный металл до состояния насыщения и возбуждающим во второй цепи (образованной двумя встречно соединенными катушками) напряжение, амплитуда которого определяет наличие дефекта в изделии.Этот способ обладает высокой чувствиельностью к мельчайшим дефектам, однако он лишен избирательных свойств и в равной мере реагирует как на дефекты, так и на всевозможные изменения структуры и химического состава материала изделия и его размеров.В основу предлагаемого способа, обладающего большой избирательностью и возможностью регистрации дефек 1 ов одного какого-либо характера или только определенных свойств материала изделия, положена та закономерность, что наличие дефекта в изделии, намагниченном до насыщения, вызывает изменение амплитуды напряжения сложнои формы. При этом происходит увеличение амплитуды, главным образом, седьмой гармоники, причем в этом случае изменяется не только ее амплитуда, но и фаза.Особенность предлагаемого способа заключается в том, что из напряжения сложной формы на выходе вторичной цепи выделяется составляющая соответственно выбранной высшей гармоники и для определения свойств испытуемого металла или наличия в нем дефектов используются не только изменение ампли 1 уды, но и фазы этой гармоники.На фиг. 1 изображена блок-схема устройства для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 (а) - кривые, характеризующие сигналы от дефектоскопа; (б) - прямые, характеризующие импульсы от схемы управления.Дефектоскоп (фиг. 1) состоит из питаемой переменным током намагничивающей катушки 1, через которую пропускается испытуемое те. ло (пруток, проволока или т. п.), и двух дифференциально включен М 129377ных вторичных обмоток 2. Напряжения с этих обмоток подаются на вход усилителя,3 с системой фильтров, настраиваемых на частоту нужной гармоники. Полученное на выходе синусоидальное напряжение выбранной частоты гармоники изображается на экране катодного осциллографа 4. Для синхронизации развертки изображения кривой на экране служит часть схемы, включающей в себя фазорегулятор 5, на который подается напряжение питающей дефектоскоп сети 50 гц; искажающее звено б по типу насыщенного трансформатора, дающего искаженную форму кривой напряжения, и усилитель 7, настроенный на частоту выбранной гармоники.В зависимости от характера и размеров дефекта в контролируемом изделии синусоидальная кривая напряжения выбранной гармоники на экране осциллографа изменяется по амплитуде и смещается по фазе.Для избирательной сигнализации о наличии определенных дефектов или изменений структуры контролируемых изделий в схему введен дополнительный узел 8, названный щелевым усилителем. На этот узел подаются: с одной стороны, сигналы синусоидальной формы с частотой выбранной гармоники а и б (фиг, 2) от дефектоскопа, а с другой - узкие прямоугольные импульсы чой же частоты в, в, в" от схемы управления. Эти импульсы в течение каждого периода подаваемого сигнала отпирают на мгновение схему щелевого усилителя, на выходе которого получается кратковременный импульс г, г или г" с амплитудой мгновенного значения сигнала дефектоскопа Момент отпирания усилителя может изменяться в пределах одного периода сигнала путем смещения отпираю- щего импульса по фазе с помощью фазорегулятора б.Таким образом с помощью щелевого усиличеля и фазорегулятора можно избирательно настраивать систему на сраоатывание от сигнала нужной амплитуды и фазы, соответствующих данному характеру дефектов.Импульсы с выхода щелевого усилителя могут быть использованы для целей автоматической сигнализации о наличии дефектов определенного характера или для автоматической сортировки, например, при помощи схемы 9 по типу пикового вольтметра, на выходе которой включено реле 10, управляющее сортировкой.Предмет изобретенияСпособ магнитного испытания металлов, по которому изделие из испытуемого металла пропускается через катушку. питаемую переменным током, доводящим указанный металл до состояния насыщения и возбуждающим во второй цепи (образованной двумя встречно соединенными катушками) напряжение, амплитуда которого определяет наличие дефекта в изделии, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и селективности способа, из напряжения сложной формы на выходе вторичной цепи выделяют составляющую одной соответсчвенно выбранной высшей гармоники и для определения свойств испытуемого металла или наличия в нем дефектов, используют не только изменение амплитуды, но также и изменение фазы этой гармоники.Ло 129377 Фиг /а ддиг ло дагг 7
СмотретьЗаявка
642920, 03.11.1959
Городинский И. А
МПК / Метки
МПК: G01N 27/72, G01N 27/90
Метки: испытания, магнитного, металлов
Опубликовано: 01.01.1960
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-129377-sposob-magnitnogo-ispytaniya-metallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ магнитного испытания металлов</a>
Предыдущий патент: Способ определения сопротивляемости наплавленного металла образованию горячих трещин
Следующий патент: Устройство для визуального наблюдения ультразвуковых полей
Случайный патент: Способ лечения больных с сегментарнымгидронефрозом удвоенной почки