Способ получения одноступенчатых реплик для электронно микроскопических исследований
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН САНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Всесоюзный научно-исследовательский институт минерального сырья (72) В.Т. Дубинчук, Г.Н. Батурин и С.В. Батурин(56) Авторское свидетельство СССР В 4 15547, клС 01 Б 1/28,. 1972.Авторское свидетельство СССР В 729477, кл, С 01 И 1/28, 1978. (54)СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ОДНОСТУПЕНЧАТЫХ РЕПЛИК ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ(57) Изобретение относится к области исследования физических и химических свойств веществ, в частности к технике препарирования объектов, и может быть использовано в просвечивающей электронной микроскопии при исследовании гигроскопических образцов. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей способа. На нерабочую поверхность образца наносят коллодиевую пленку пуЯО 1264039 А 1(51)4 6 01 Ю 1/28 Н 01 Л 37/26 тем погружения образца в раствор коллодия в изоамилацетате. Охлаждают весь образец до температуры жидкого азота для замораживания воды в поровом пространстве образца. Затем наносят на рабочую поверхность в низком вакууме (10 -10торр)1ионным распылением металлическую пленку, и помещают образец в высокий вакуум (10 торр) для напыления на рабочую поверхность угольной реплики. Затем на реплику наносят каплю раствора желатина в дистиллированной воде, замораживают образец и помещают его на охлажденную жидким азотом металлическую пластину. После Е этого отделяют желатин вместе с угольной репликой, отмывают реплику в дистиллированной воде и просматри- С вают ее в электронном микроскопе. Способ позволяет изучить рыхлые гиг роскопичные образцы без разрушениямикроструктуры, что обеспечивает по-лучение данных о взаимном расположе"- ер нии минеральных фаэ исследуемых еб - разцов.4 Р20 25 30 Изобретение относится к исследованию физических и химических свойств веществ, в частности к технике препарирования объектов, и может быть использовано в просвечивающей электронной микроскопии при исследовании гигроскопических образцов.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет обеспечения исследования гигроскопических образцов.Сущность способа заключается в том, что предварительно на поверхность образца; кроме рабочей, с которой затем будет получена реплика для просмотра в электронном микроскопе, наносят коллодиевую пленкуи охлаждают весь образец до температуры жидкого азота для замораживания воды в поровом пространстве образца. После этого для уменьшения скорости испарения льда наносят на, рабочую поверхность в низком вакууме путем, например, ионного распыления металлйческую пленку, например алюминиевую, Затем образец помещают в высокий вакуум, наносят известным способом углеродную пленку, отделяют ее с помощью желатина, очищают от прилипших частиц раствором клея "Суперцемент" в ацетоне при 5-10 С, отмывают реплику и просматривают препарат в электронном микроскопе.Нанесение коллодиевой пленки на поверхность образца осуществляют путем погружения образца в 57-ный раствор коллодия в изоамилацетате на 10-15 мин. Такой режим обработки обеспечивает формирование сплошной коллодиевой пленки толщиной 0,3- 0,4 мкм. При нанесении пленок большей толщины в них образуются пузырьки, наполненные растворителем (изоамилацетатом), В вакууме пузырьки разрываются и разрушают коллодиевую пленку, предохраняющую образец от дегидратации в вакууме. Коллодиевая, пленка меньше указанной толщины является непрочной и разрушается в вакууме водяными парами. Охлаждение образца жидким азотом обеспечивает мгновенное замораживание внутрипоровой воды во всем объеме образца, Замораживание при более высокой температуре (-100 С) сопровождается вымораживанием воды из пор, приводящим к разрушению микроструктуры образца. Йанесение металлической пленкь на рабочую поверхность образца проводят в условиях низкого вакуума, что позволяет предотвратить разрушение образца в результате деградации. Данная пленка необходима для уменьшения скорости испарения замороженной ,внутрипоровой воды. 10 П р и м е р. Выпиливают из гигроскопического образца железо-марганцевой конкреции кусочек размером 5 х 5 х 5 мм. Одну из его сторонпринимают за рабочую. Образев опускают на 5-6 мин в смесь 57. коллодия и 957 изоамилацетата, оставляя не погруженной только рабочую поверхность. Затем его извлекают из раствора, помещают на фильтровальную бумагу и сушат на воздухе 10-15 мин. Приэтом испаряется изоамилацетат и образуется на поверхности образца коллодиевая пленка, Далее образец переносят на охлаждаемый жидким азотом столик вакуумной установки типа ВУПК,создают в установке низкий вакуум(13,3-1,33 Па) и путем ионного распыления наносят на рабочую поверх - ность, например, алюминиевую пленкуотолщиной 300 А Затем создают в установке высокий вакуум (0,013 Па) и напыляют на рабочую поверхность образца углеродную пленку. Далее на рабочую поверхность наносят каплю теплого раствора желатина (307 желатинаи 707 дистиллированной воды), помещают образец на охлажденную жидкимазотом металлическую пластину, после замораживания образца отделяютжелатин с репликой и для просушки помещают его в эксикатор на 1,5-2 ч.Очистку реплики от экстрагированных(извлеченных) частиц производят при5-10 С путем многократного нанесения на. реплику тонкого слоя смеси клеяСуперцемент и ацетона в соотношении 1:4. После очистки реплику отмывают обычным образом в дистиллированной воде и полученный препарат просматривают в электронном микроскопеформула изобретения Способ получения одноступенчатых реплик для электронно-микроскопических исследований, включающий напыление на рабочую поверхность образцаКорректор Е. Рашко Редактор Н. Киштулинец Тирах 778ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и .открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Заказ 5552/42 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 углерода и последующее отделение реплики, о т л и ч а ю щ е е с я тем,что, с целью расширения функциональных возможностей за счет обеспеченияисследования гигроскопических образцов без нарушения их микроструктуры,перед напылением углерода на нерабочую часть поверхности образца наносят коллодиевую пленку,замораживают образец до температуры жидкого азо та и наносят на рабочую поверхностьобразца металлическую пленку.
СмотретьЗаявка
3914357, 17.06.1985
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МИНЕРАЛЬНОГО СЫРЬЯ
ДУБИНЧУК ВИКТОР ТИМОФЕЕВИЧ, БАТУРИН ГЛЕБ НИКОЛАЕВИЧ, БАТУРИН СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 1/42, H01J 37/26
Метки: исследований, микроскопических, одноступенчатых, реплик, электронно
Опубликовано: 15.10.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1264039-sposob-polucheniya-odnostupenchatykh-replik-dlya-ehlektronno-mikroskopicheskikh-issledovanijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ получения одноступенчатых реплик для электронно микроскопических исследований</a>
Предыдущий патент: Способ определения урана ( )
Следующий патент: Способ приготовления гистологических препаратов для микроскопических исследований
Случайный патент: Прибор для изучения турбулентности водного потока