Способ определения относительного изменения межплоскостных расстояний в монокристаллах

Номер патента: 1249415

Авторы: Габриелян, Демирчян

ZIP архив

Текст

,5;гталл ов опоедел сть 1 (Д Р" ту у;1 лгосудАРстненныи номитет сссРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ 75 ОЯЯ,Якер 3, : . Рентгеновскаяоптика. - М.: 1 аука, 198 Авторское свидетельства СССР 15. 93077, кл, " 01 ь 23/О. 1982,.1541 С 51 ОСОБ 01 РЕ;1 Е 51 ЯНИЯ ОТ 11 ОСИТ, 11. НОГО ИЗ 11 Н 1 Е 1 И 151 МЕ)НГ 1 ОСКОСТ 11 ЫХ РАССТОЯНИЙ В МОНОКРИСТА 11 ЛАХ ) г, 07Изобретецие отнас.ится к реш Гс ноинтерферометринескпм исс 3 слован " структурнс о с.овершенствд моцокр 11.и позволяет повысить то.шаения относите:1 ьцого изменеИ межплоскостцых рас 3 сто 51 ний сс./з, Нд систему из лнух толстых моцокрист лов нс 3 пра 13 ля 3 т:Сцтообрас 3 цый гунак,ЯО 3249415 рент сцогска 0 излунеция, Рдсстоя 11 ие ме:-:.пу мои акрист аллами вьбирдк 5 т . дс 1"1, чтобы п 1113 ше 13 ш 13 Й и дифрдгиравдцць 1: в первом ьсоцокристал:1 е 1- 1 к 1 прас-.рдп - ст 13 е 1110 ее це раздел ял 11 с и нд выхГ 5 -в ТОроГО 10 цакаис . длл д Об 11 дза 1311 в д лись:ц 1-, ер.ерецц 11 оцпь:е па,11 сы, Была 1- НЕ 1;,113 пт;тРЕ ЦЕ 1 С СРЕ Д ЦД С 1 ЛСЦР 1 5 Ч криста 31013 абсспени 13 дет условис цс: - ИРЕРЬГд 55 0 Г О 1 ЗМ 1513 ЦИЯ 13 аС а Яви ц Мд-" - ;1 у 1 с 3 ПС 5 хрцсдя,.с Мс 1 тС;1 ГИц. Р,:ц 1 а из монако:1 тдл:с.И.,11 ри вялс;псспсипгде 3 - дл 13 пд цоспсы аеп.: с.с 1 ЗаксГО изс;унецпя; А - ;,лица зкс Ицкпиис-,. - Гол Ясльс 5 д 1;3и . - расстояние ме 3 Гду моцокрисд:1,дм: и талш:1 цд первого мацок 13 и - стдплд в сенс 3 ц 13115 соатвстст ишем ме - су 13 дзрь 13 д 11 цтерфс реп "иоц.1 ьх ли 1 Й иптерфереццианцые .1 и:1 ии пртерпе 13 дя; разрыл, Измерив та 3 шину , с и расс". ояцие ; .в .", па формуле (11 мов;на о 1 ределит 1. относительное изменение межпласкастных расстояци 13,5, Л. 1 ил.сИзобретение относитс к рант: ецоицтерферометрическим 3 с",)л даава:тия,труктурного совершенства вО Окрис: аллов,Цель изобретения - повъш .Яе :оч " ности измерений,На чертеже 1/оказана схем ре,=лиэа 1 еии спосо а,ЦЛОСКЕ 11 Е тдО,вас т ГЕО,)КО - ,;1 сзПУЧЕНИЯ ЦалотацттяЮТ НаЛОЦ)спи ГН 5 3 ТОЛЩИНОЙ Г, С КГ)С 1ВНУТ-/Е;с:. тс; С .ЕЗ )3,;И С МЕЖПЛОСКОСТЦЫМ РаС ТОЯЦИЕМ с ПОд УГЛОМ ВуЛЬфа-Брзс-Га Е),; .)рзМЕ - жутке между двумя кристъ 5 ле)м рс)про)- страняются цооходяща 5 . и с ) аже цца с ВОЛНЫ, РЗСС 1 ОЯНИЕ 3; ст)Х/тс КОИ,"ап7 Л сКОЕ т 1;) 3,ЯРО.ТРанстнСЕ 5 тО ЕШЕ 1)Р )ав . И 334 нтен)еРендиолеаЯ ктзРти. т;1,:.бРа, Ба 1 яая наложением дифрагироваццх .: крц- .стЛЛЕ. МЕЖТтЛОСКОС т 1 ПМ Р,Сот .)Я Ес) Е :1. ) ;1, +,1 1. и толщ 1 цой 1с/ )радС,"сЕС 5 Ею Об Ой Г,1 С" с;2: 3,) Г -. ПЕЛЬНЫъ ЛИ 1 ИХ-. Оао)СТОЯН Р 3,Ж". с Кс;П. рыми зав)сит от тс)1)ъНы:., а также от рассОне)51 ЕГ 11.51 1.1 Г о;/1", тОЛИН ЦЕРВОГГ КРИСТНЛЛа 3:т, Г)Г.С.тсс 3 Ояция;-; ., "вя ае 311 х с с;.3 с .Кс нъми расстояциями,1, иу.: Гс;1 3( ) - длина рентгеновской вотъ) ДЛИНа ЭКСтИНКДИИ РЕНТГЕНОВ.КХХ ПУ"1 сй разность между волнами б истиови 3 СЯ ПОСТОЯННОЙ И ИцЕРфЕРЕЦПИОЦЦЫЕ )стинии исчезают. Измеритз тю щицурасстояние между кристаллаь и ;-в СЕЧЕНИИ СООтВЕтстВУЮЩЕМ МСт 5 Гт ЕЗНОВЕЦИЯ ИНТЕРфЕРЕЦ.:,ИОЦЦ,Х ,ЛЦ;тй "а топограмме, можно тс данной;1 к;руле определитьО,/, .1249415 Составитель Т, ВладимироваРедактор Е. Папп Техред П.Олейник Корректор Л. Пилипенко Заказ 4228/44 Тираж 778 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4

Смотреть

Заявка

3789629, 27.07.1984

ЕРЕВАНСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

ГАБРИЕЛЯН КАРЕН ТАРХАНОВИЧ, ДЕМИРЧЯН ГАГИК ОГАНЕСОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/20

Метки: изменения, межплоскостных, монокристаллах, относительного, расстояний

Опубликовано: 07.08.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1249415-sposob-opredeleniya-otnositelnogo-izmeneniya-mezhploskostnykh-rasstoyanijj-v-monokristallakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения относительного изменения межплоскостных расстояний в монокристаллах</a>

Похожие патенты