Устройство для измерения деформаций

Номер патента: 82409

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Умысков

МПК: G01B 11/16

Метки: биметаллических, деформации, нагрева, пластин, прибор, процессе, температурной

...пластины 9. При деформации пластины ее свободВи онец перемецается и через штиф 8 и рсгку 7 поворачивает стержеепэ 6, а Вместе с ним и плоское зеркало 3.Прибор погружается в масляную вашу 10 фиг. 2) установленпуо на электрической плитке 11. Температура масла и, следовательно, биметаллической пластины измеряется ртутным термометром 12. Перед:рпбором на расстоянии 1. от плоскости зеркала 6 устанавлпваетс 51 с.", Игровая труба .Чартенса 18 со шкалой 1-, в форъе дуги окружности ра.1 иуса 1., разделенной на градусы.Прог 1 б свободного конца ОиметаллиВской пласлпы опредсляетс 11по формуле1, - соз ) При небольших деформациях биметаллической пластины, когда угол отклонения не превышает 10, для определения прогиба пластины пользуются...

Номер патента: 1163227

Опубликовано: 23.06.1985

Авторы: Воронков, Максимов, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: деформаций, монокристаллических, пластин, упругих

...ориентация которой задана углами 1 имежду следами отражающейкристаллографической плоскости награнях пластины и ее ребрами, нафиг. 2 - схема измерений,На пластину действуют изгибающиеи крутящий моменты М 1, М и Н, которые создают определенное поле упругих смещений й(х,у,л) 1 4 1Исследуемую монокристаллическуюпластину облучают рентгеновским излучением от точечного фокуса Г. Коллиматор К 1 ограничивает размеры иугловую расходимость рентгеновскихлучей в одном направлении. Кристаллюстировкой на гониометрической приставке вводится в отражающее положение. Отражающие плоскости выбираются таким образом, чтобы выполнялосьусловие дифракции по Лауэ. Все отраженные рентгеновские лучи проходятчерез коллиматор К, который служитдля...

Номер патента: 1532856

Опубликовано: 30.12.1989

Авторы: Гаврилов, Золотоябко, Иолин, Косарев, Кувалдин, Райтман

МПК: G01N 23/20

Метки: деформаций, монокристаллических, пластин

...шлифованными боковымиповерхностями-, одна из которых под вергнута финишной химико-механической полировке, устанавливают на предметный стол установки так, чтобыона заняла относительно источника 1излучения отражающее положение(в геометрии Лауэ), На полированнуюповерхность пластины устанавливаютс помощью вязкой жидкости, напримерэпоксидной смолы без отвердителя,кварцевый пьезоэлектрический возбудитель колебаний на чертеже не показан). Пластину 5 облучают коллимированным пучком рентгеновскогоили нейтронного излучения, например, имеющим поперечное сечение0,052 мм, измеряют. приемником 4интенсивность отраженного излучения, затем с помощью возбудителяколебаний возбуждают в пластине поперечную ультразвуковую акустическую волну на частоте,...

Номер патента: 633211

Опубликовано: 15.12.1979

Авторы: Веригин, Резниченко

МПК: B23K 15/00

Метки: встык, кольцевая, кольцевых, подкладка, проплавлением, сварки, сквозным, швов, электроннолучевой

...корневых дефектов при сварке швов с перекрытием. 5Для этого в предлагаемой кольцевойподкладке каналы одной из боковых стенок формирующей полости ориентированыв направлении оси кольцевой подкладки,а каналы другой боковой стенки формирующей полости ориентированы тангенциаль но,На фиг, 1 показано сварное соединение с предлагаемой кольцевой подкладкой; на фиг. 2 - кольцевая подкладка,Подкладка устанавливается под кор"невой частью стыка свариваемых кромок, образованного свариваемьми деталями 1, Она выполнена в виде кольца2, по внешнему ободу которого расположена полость; в боковых стенках полости выполнены каналы 3 для отводапаров и газов. Формирующая поверхность 4 полости обеспечивает правильное формирование корня шва, а периферийные...

Номер патента: 1167419

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Соловьев, Тимофеев

МПК: G01B 7/16

Метки: напряжений, остаточных, трехосных

...деформаций в тех ее точках, которые находились до разрезки внутри 40 тела, а следовательно, исключена возможность определения остаточных напряжений внутри тела. Кроме того, неизвестность деформаций и прогибов наибольшей грани пластинки исключает 45 возможность определения тех комгонент остаточного напряженного состояния, которые действовали напластину до ее отсечения по плоскости будущего реза. Кроме того, отсутствие в способе операции, позволяющей измерить самоуравновешенные остаточные напряжения в самой отсеченной пластинке, существующие там вследствие невозможности осуществить полное ос вобождение пластины от остаточных напряжений механическими средствами, также снижает точность способа. Цель изобретения - повышение...