Способ определения диэлектрической проницаемости пластин

(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ПЛАСТИН путем измерения емкости между предварительно металлизированными сверху и снизу поверхностями исследуемого образца, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью повышения точности, в верхней металлиэированной поверхности делают зазоры, образующие замкнутые линии, охватывающие одна другую, над образцом на фиксированном расстоянии от него размещают электрод, соединяют его с нижней металлиэированной поверхностью, соединяют между собой все области верхней металлизированной1 поверхности, измеряют электрическую емкость С между верхней и нижней металлизированными поверхностями, соединяют области верхней металлизированной поверхности через одну, образуя две группы электродов, соединенных между собой, соединяют вторую группу, содержащую область металлиэированной поверхности, выходящей на край исследуемого образца, с нижней металлизированной поверхностью, измеряют электричес) ь с 1 а 11. де иЕ= С еп ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЦТ(56) Материалы диэлектрическиеМетоды определения проницаемосЕ 3 . ГОСТ 22372-77.Авторское свидетельство СССФ 226717, кл, С 01 К 27/2605.10.67. ЯО 1205067 д кую емкость Смежду первой группойобластей верхней металлиэированнойповерхности и нижней металлизированной поверхностью, отсоединяют вторуюгруппу областей от нижней металлиэированной поверхности, соединяют снижней металлиэированной поверхностью первую группу областей, измеряют электрическую емкость Сдмежду второй группой областей и нижней металлиэированной поверхностьюи вычисляют величины диэлектрическойпроницаемости св поперечном и с - впродольном направлениях к поверхности образца по формулам 3 толщина исследуемого образца,см;величина воздушного зазора между верхней металлизированной поверхностью исследуемого образца и электродом, см;площадь первой группы облас- тей верхней металлизи" рованной поверхности исследуемого образца, см0,0886:длина всех контуров зазоров в верхней металлиэированнойоверхности исследуемого образца, см;величина зазора, см.Изобретение относится к электроизмерениям и может быть использовано для определения анизотропии диэлектрической проницаемости пластин.Целью изобретения является повьше. ние точности, обусловленное измерением диэлектрической проницаемости в перпендикулярном и параллельном направлениях к поверхности диэлектрических пластин.На чертеже приведена схема реализации способа определения диэлектрической проницаемости.На схеме обозначены нижний 1 и верхний 2 электроды, исследуемая пластина 3, замкнутые линии зазоров 4 на верхней металлизированной поверхности исследуемой пластины, области 5 металлизации верхней поверхности исследуемой пластины, металлические штыри 6 - 9, измеритель 10 электрической емкости, перемычки 11 между верхним и нижним электродами.Исследуемая пластина 4 помещена между электродами 1 и 2, причем нижняя металлизированная поверхность электрически соединена с нижним электродом 1. Замкнутые линии зазоров на верхней металлизированной поверхности исследуемой пластины расположены одна в другой, и каждая область 5 металлизации подключена к соответствующему металлическому штырю 6, 7, 8 или 9, каждый из которых электрически изолирован от верхнего электрода 2.Определение диэлектрической проницаемости пластин производят следующим образом,Измерителем 10. электрической емкости измеряют емкость С между соединенными между собой металлическими штырями б - 9 и электродами 1 и 2.Металлические штыри 6 и 8 соединяют с первой клеммой измерителя О электрической емкости,с второй клеммой при этом соединены металличе ские штыри 7 и 9 и электроды 1 и 2.Производят измерение электрическоиемкости С,Металлические штыри 7 и 9 соединяют с первой клеммой измерителя 10,5 электрической емкости, второйклеммой при этом соединены штыри6 и 8 и электроды 1 и 2. Производят измерение электрическойемкости С .О По результатам измерений производят вычисление 1 и С по формулам: иЖ 4 Ц Т 5где Ь толщина исследуемои пластины 4, см:величина воздушного зазора между верхней металлизированной поверхностьюисследуемой пластины 4 иверхним электродом 2,см:площадь первой группыобластей верхней металлизированной поверхностисоединенных со штырямиб и 8, см0,0886;длина всех контуров зазоров в верхней металлизированной поверхностиисследуемого образца,см;величина зазора см. Чтобы при измерении емкости еского искажать структуру электрич поля между верхней поверхно следуемого образца и электр металлические штыри вводят отверстия в этом электроде но к его поверхности. Числ тых линий зазоров может быт например больше двух. стью исодом 2,ч р н ормальо замкнуь любым,1205067 у Ь Составитель Н.Крин Техред С.Мигунова Коррект етн Подписнокомитета СССРоткрытийая наб., д. 4/5 е ВНИИПИ Го по делам и3035, Москва,Филиал ППП "Патент городРедактор А. Лежни Заказ 8523/ аж 747дарственногозобретений иЖ, Раушс Проектная, 4