Устройство для испытаний полупроводниковых приборов

ю ао ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬПИЙ Е ИЗОБРЕТЕКИ л(71) Научно"исследовательский институт Таллинского электротехническогозавода им. И.И.Калинина и Таллинскийэлектротехнический завод им.И.И.Калинина во СССР .04,77. СССР идетель 21/66,етельст 13/00,(53) 621,382(088.8)(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЙПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, содержащее теплоизолированные камеры сразмещенными в них транспортирующимироторами и механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, о т л и ч а ю щ е е с я тем,что, с целью улучшения эксплуатационных возможностей и упрощения конструкции, оно снабжено дополнительныммеханизмом перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, роторыразмещены в одной плоскости, а теплоиэолированные камеры выполнены ввиде кожухов, охватывающих внешниечасти окружностей транспортирующихроторов.4 1112Изобретение относится к технологическому оборудованию электротехни-ческой и электронной промышленностии предназначено для проверки электрических параметров силовых полупроводниковых приборов, например, приприемо-сдаточных испытаниях.Известно устройство для испытанияполупроводниковых приборов, содержащее коктактноЬ устройство, корпус, 10снабженный поворотно-фиксйрующиммеханизмом, и носители полупроводниковых приборов 1 .Однако это устройство не позволяетпровести испытания при двух существенно разных температурах. Кроме того, в устройстве отсутствует узел,осуществляющий коммутацию испытательно-измерительных устройств.Наиболее близким техническим ре" 20шенкем к изобретению является устройство для климатических испытаний, содержащее теплоизолированныекамеры тепла и холода с размещеннымив них транспортирующими роторами и 25механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами,Камеры тепла и холода разделены полостями, соединенными с окружающейатмосферой 2 .30В известном устройстве роторы размещены полностью в теплоизолированкых камерах друг кад другом, амеханизм перегрузки перегружает испытуемые приборы через все роторы с пер 35вого до последнего. Такая конструкция сложна, так как количество роторов должно быть равно количествутемпературных режимов. Кроме того,конструкция этого устройства требует40размещения позиций загрузки и выгрузки на разных концах устройства, чтоведет к усложнению эксплуатации устройства, так как при испытании силовых полупроводниковых приборовгеометрические размеры устройствабудут значительными. Цель изобретения - улучшение эксплуатационных возможностей и упрощение конструкции.. 50Указанная цель достигается тем, что устройство для испытаний полупроводниковых приборов, содержащее тепло- изолированные камеры с размещенными в них транспортирующими роторами и механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, снабжено дополнительным механизмом пе 594 2 регрузки полупроводниковых приборовмежду роторами, роторы размещены водной плоскости, а теплоизолированные камеры выполнены в виде кожуховохватывающих внешние части окружнос-.тей транспортирующих роторов,На фиг, 1 изображена схема устройства; на фиг. 2 - схема расположения кожуховУстройство содержит транспортирующие роторы 1 и 2 с пазами 3 иносителями 4 испытуемых полупроводниковых приборов, механизмы 5 и 6 перегрузки испытуемых приборов, камеру 7 нормальной температуры, теплоизолированную камеру 8 повышеннойтемпературы, теплоизолированную камеру 9 охлаждения, контактные узлы10 и 11. На фиг. 1 обозначены такжепозиции загрузки 12 и выгрузки 13.Роторы 1 и 2 расположены в однойплоскости, Камеры 7-9 выполнены в виде кожухов, охватывающих только вкешнюю часть роторов 1 и 2. Камера 9охлаждения охватывает ротор 1 час-.тично по длине окружности ротора.Для ускорения нагрева приборов камера 8 повышенной температуры продувается интенсивным потоком нагретого воздуха, температура которогоравна температуре испытаний. Соответственно камера 9 охлаждения продувается потоком охлажденного воздуха, (Направление потока воздуха кафиг. 1 изображено треугольниками, направление перемещения испытуемых приборов и прерывистое пошаговое вращение роторов на фиг. 1 показанострелками),Устройство работает следующим образом.Испытуемые приборы загружаются впозицию 12 загрузки и выгружаютсяиз позиции 13 выгрузки. Остальные.операции выполняются устройством автоматически. Загружекные приборы перемещаются ротором 1 в камеру 7 испытаний при нормалькой температуре, в которой оки на трех смежных позициях проходят три вида испытаний. Для этого контактные узлы 10 подключают к испытуемым приборам соответствующие испытательно-измерительные устройства (не показаны). После этого приборы перегружаются с ротора 1 ка ротор 2 при помощи механизма перегрузки 5 и затем попадают в камеру 8 повышен3 1112594 4ной температуры, в которой они в ходе Управление роторами, механизмами движения к позициям испытаний на- перегрузки, контактными узлами и греваются. В позициях испытаний кон- испытательно-измерительными устройтактные узлы 11 подсоединяют к испы- ствами, а также устройствами ввода туемым приборам испытательно-изме"и вывода информации (не показаны) рительные устройства для проведения осуществляется с помощью ЭВМ.семи видов испытаний; После испытаний при повышенной температуре приборы перегружаются механизмом 6 перегрузки с ротора 2 на ротор 1 ивводятся в камеру 9 охлаждения.Охлажденные приборы поступают впозицию 13 выгрузки. Изобретение позволяет улучшитьэксплуатационные возможности устрой- Ю ства при упрощении его конструкции,что повысит производительность проведения испытаний и выход годных иэ" делий. Составитель Г.Падучин едактор С.Пыжова Техред А.Бабинец Корректор И,Мусказ 6470/45 Тираж 782 ВНИИПИ Государственного ко по делам изобретений и 113035, Москва, Ж, Рауш