Вийл

Устройство для испытаний полупроводниковых приборов

Загрузка...

Номер патента: 1112594

Опубликовано: 07.09.1984

Авторы: Ази, Видерман, Вийл, Иоспа, Коост, Косой, Кютт, Нарусон, Попов, Пукспуу, Тислер, Тоомла, Тоомсоо, Унт

МПК: H05K 13/00

Метки: испытаний, полупроводниковых, приборов

...возможностей и упрощение конструкции.. 50Указанная цель достигается тем, что устройство для испытаний полупроводниковых приборов, содержащее тепло- изолированные камеры с размещенными в них транспортирующими роторами и механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, снабжено дополнительным механизмом пе 594 2 регрузки полупроводниковых приборовмежду роторами, роторы размещены водной плоскости, а теплоизолированные камеры выполнены в виде кожуховохватывающих внешние части окружнос-.тей транспортирующих роторов,На фиг, 1 изображена схема устройства; на фиг. 2 - схема расположения кожуховУстройство содержит транспортирующие роторы 1 и 2 с пазами 3 иносителями 4 испытуемых полупроводниковых приборов, механизмы 5 и 6...

Стенд для градуировки расходомеров

Загрузка...

Номер патента: 231140

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Вийл, Гаммерман, Клотсман, Реймал, Хайтин

МПК: G01F 25/00

Метки: градуировки, расходомеров, стенд

...за счет отдельного располотксния питательного и мерного баков, сэелиняемых с помощью трубопроводов.Предлагаемый стенд позволяет уменьшить габариты градуировочного устройства и обеспечить постоянство расхода жидкости через 1 поверяемый расхолэмер за счет расположения измерительного бака в плавающем состоянии внутри питательного бака, заполненного жидкостью, причем, по мере заполнения измеритльного бака он погружается в жидкость пи тательного, вследствие чего в последнем со. храняется постоянный уровень, т, е. расход.1-а чертеже показана принципиальная схема предлагаемого стенда.Он состоит из питательного 1 и измери тльного 2 баков, насоса 3, поверяемогэ расходомера 4, перекидного устройства 5, датчиа линейных перемещений б, клапана 7...