Нарусон

Номер патента: 1112594

Опубликовано: 07.09.1984

Авторы: Ази, Видерман, Вийл, Иоспа, Коост, Косой, Кютт, Нарусон, Попов, Пукспуу, Тислер, Тоомла, Тоомсоо, Унт

МПК: H05K 13/00

Метки: испытаний, полупроводниковых, приборов

...возможностей и упрощение конструкции.. 50Указанная цель достигается тем, что устройство для испытаний полупроводниковых приборов, содержащее тепло- изолированные камеры с размещенными в них транспортирующими роторами и механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, снабжено дополнительным механизмом пе 594 2 регрузки полупроводниковых приборовмежду роторами, роторы размещены водной плоскости, а теплоизолированные камеры выполнены в виде кожуховохватывающих внешние части окружнос-.тей транспортирующих роторов,На фиг, 1 изображена схема устройства; на фиг. 2 - схема расположения кожуховУстройство содержит транспортирующие роторы 1 и 2 с пазами 3 иносителями 4 испытуемых полупроводниковых приборов, механизмы 5 и 6...