Устройство для измерения профиля изделия

(19) ОИ д 1 С 01 В 11 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ 3 ВТОРСН выйолненной крайней мере зеркал, распо 1 точувствитель. емника и паа расстоянии перед фотопри в виде отража одного полупр ложенных накл ной поверхнос раллельно межд друг от друга мником и щего и п зрачного нно к св и фотопри у собой Вирникрско-.технолошневым коль-а п 12 ) (5 1 ельство СССР37.ии В 1492694прототип). ого полу-ала до е ИЗМЕРЕНИЯ щее источщий световое поверхность, к, регистриеряемой пои ч а юелью повыоно снабтановл.нной на ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Одесский конструктогический институт по порцам(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОФИЛЯ ИЗДЕЛИЯ, содерж ник излучения, направляю излучение на измеряемую и дискретный фотоприемн рующий отраженное от из верхности излучение, о щ е е с я тем, что, с шения точности измерения жено системой зеркал, ус расстояние от квждпрозрачного эеркпредыдущего;номер полупрозрачного зеркала;целое число;геометрический размер одного светочувствительного элмента фотоприемника в направлении измерения;размер эоны нечувствитель"ности фотоприемниКа;угол падения излучениязеркала,1084 бОО Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, в устройствах для автоматического бесконтактного измерения профилей и толщин изделий из различных материалов посредством определения координат точек;Известно устройство для измерения профиля изделия, содержащее оптически связанные осветитель и объектив 1 О с фотоприемником 1.Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является устройство для измерения профиля иэделия, содержащее источник излучения, направляющий световое излучение на измеряемую поверхность, и дискретный фотоприемник, регистрирующий отраженное от измеряемой поверхности излучение 2 1.Недостатком известных устройств является невысокая точность измерения, обусловленная ограниченной разрешающей способностью фотоприемни ка, 25Цель изобретения - повышение точности измерения.Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения профиля изделия, содержащее источник излучения, направляющий световое излучение на измеряемую поверхность, и дискретный фотоприемник, регистрирующий отраженное от измеряемой по верхности излучение, снабжено системой зеркал, установленной перед фо 35 топриемником и выполненной в виде отражающего и по крайней мере одного полупрозрачного зеркал, расположенных наклонно к светочувствительной40 поверхности фотоприемника и параллельно между собой на расстоянии друг от друга, равном"Ь;аЙ 2бфЬсозо( где Ь - расстояние от каждого полупрозрачного зеркала до предыдущего;1 - номер полупрозрачного зеркала;ь - целое число;50В - геометрический размер одного светочувствительного элемента фотоприемника в направлении измерения;Ь- размер эоны нечувствительности фотоприемника;О - угол падения излучения назеркала. 1На чертеже изображена принципиальная схема устройства для измеренияпрофиля изделия,Устройство содержит источник 1излучения, направляющий световое излучение на измеряемую поверхность,зеркало 2, дискретный фотоприемник3, регистрирующий отраженное от измеряемой поверхности излучение, сис.тему зеркал, установленную перед фотоприемником и выполненную в видеотражающего зеркала 4 и по крайнеймере одного полупрозрачного зеркала5, расположенных наклонно к светочувствительной поверхности фотоприемника 3 и параллельно между собой нарасстоянии друг от друга, равномЬ;=в+2 ) 5+Ь)созе,где Ъ - расстояние от каждого полупрозрачного. зеркала до предыдущего;т - номер полупрозрачного зеркала;ь - целое число;5 - геометрический размер одного светочувствительногоэлемента фотоприемника внаправлении измерения;- размер зоны нечувствитель.ности фотоприемника;с. - угол падения излучения назеркала.Устройство работает следующимобразом.Излучение источника 1 излученияфокусируется на поверхности измеряемого изделия 6. Благодаря системе зеркал 4 и 5 излучение, отразившись отзеркала 2, попадает на фотоприемник3 в виде двух световых пятен, смещен.ных одно относительно другого навеличину ( и +Х ) (5+0),. Если измеряемая точка расположена в номинальном положении, диаметрпятна на фотоприемнике 3 равен определенной величине, Отклонение положения точки поверхности изделия 6от номинального пропорционально изменению диаметра светового пятна нафотоприемнике 3.Поскольку пятно, отраженное зерка.лом 4, располагается на фотоприемнике 3 случайным образом, а второе пят.но смещено относительно первого наполовину цены деления шкалы фотопри( В+1,1емникаошибка измерения умень,шается в два раза,Составитель Л. Лобзоваедактор Л, Филь Техред Т,фанта Корректор А. Ильина те Щ ееЗаказ 1 974/34 Тираж 587ВНИИПИ Государственногопо делам изобретений и13035, Москва, Ж, Рауш одписно комитета СССРоткрытийская наб., д. лиал ПЛП "Патент", г, Ужгор л. Проектная, 4 3 1084600 4Если измеряемая поверхность 6 займет точностными возможностями техниположение 7,расстояние между световйми ки, используемой для того, что" пятнами на фотоприемнике 3 не изменится. бы установить два зеркала соМаксимальное количество зер- старпими номерами на заданном кал определяется ограниченными . 5 расстоянии.