Патенты опубликованные 10.05.2011

Способ химико-термической обработки металлических изделий

Загрузка...

Номер патента: 1603822

Опубликовано: 10.05.2011

Авторы: Люленков, Чалков, Шинкаренко

МПК: C23C 10/28

Метки: металлических, химико-термической

Способ химико-термической обработки металлических изделий, включающий контакт легирующего состава с обрабатываемым изделием при нагреве, отличающийся тем, что, с целью интенсификации процесса насыщения, сокращения энергетических затрат, повышения износостойкости, контакт легирующего состава с обрабатываемой поверхностью осуществляют в локальной зоне, при этом легирующий состав вносят в зону обработки по касательной к поверхности изделия со скоростью от 90 до 150 м/с под давлением 0,12-40 МПа и при перемещении зоны обработки по поверхности изделия со скоростью от 1 до 200 м/с.

Способ получения n-оксидов 1-гидрокси-3-(п-r-фенацил)-1, 2, 4a, 5, 6, 7, 8, 8a-октагидро-2-хиноксалонов

Загрузка...

Номер патента: 1564990

Опубликовано: 10.05.2011

Авторы: Андрейчиков, Володарский, Питимирова, Тихонов

МПК: C07D 241/52, C25D 3/18

Метки: 1-гидрокси-3-(п-r-фенацил)-1, 8a-октагидро-2-хиноксалонов, n-оксидов

Способ получения N-оксидов 1-гидрокси-3-(п-R-фенацил)-1,2,4а,5,6,7,8,8а-октагидро-2-хиноксалонов общей формулы I где R-OCH3, Cl, отличающийся тем, что 5-арил-2,3-дигидрофуран-2,3-дион общей формулы II где R-Cl или OCH3, подвергают кипячению с эквимолярным количеством 1,2-дигидроксиламиноциклогексана в среде абсолютного органического растворителя.

Эллипсометр

Загрузка...

Номер патента: 1448831

Опубликовано: 10.05.2011

Авторы: Алгазин, Рыхлицкий

МПК: G01J 4/00

Метки: эллипсометр

Эллипсометр, содержащий последовательно установленные и оптически связанные поляризатор, компенсатор и анализатор, а также устройства поворота компенсатора и анализатора, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности измерений, он дополнительно содержит определитель измерительных зон, выполненный в виде поступательно установленных и имеющих общую ось вращения панели, диска компенсатора и диска анализатора, причем панель выполнена с двумя окнами в первом и третьем 90°-ных секторах, имеющими форму четверти кольцевой прорези, с двумя окнами во втором и четвертом 90°-ных секторах, имеющими форму четверти круга, с окном лимба анализатора, имеющим форму четверти...

Устройство для измерения спектрального коэффициента яркости земной поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1289183

Опубликовано: 10.05.2011

Авторы: Журавлев, Корсаков, Рыхлицкий

МПК: G01J 3/18

Метки: земной, коэффициента, поверхности, спектрального, яркости

Устройство для измерения спектрального коэффициента яркости земной поверхности, содержащее оптически связанные телескопический объектив, спектральный прибор, снабженный входной щелью и фотоприемником, а также матовое стекло, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, спектральный прибор содержит дополнительную входную щель с закрепленной на ней призмой, оптически сопряженную с матовым стеклом, а фотоприемник выполнен в виде матричного фотоприемного блока, при этом размер дополнительной щели, по крайней мере, на порядок меньше размера основной по высоте.