Устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 991159
Автор: Щербаков
Текст
ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскикСоциалистическихРесвублил п 11991159(22) Заявлено 1808. 81 (21)3332199/25-28 Я 1 М. Ка.з 0 01 .В 11/1 б с присоединением заявки Нов Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(088.8) Дата опубликования описания 230 183.К.Шербако Московское ордена Ленина, ордена Октябрьской Революциии ордена Трудового Красного Знамени высЙа техническо 4училище им, Н.Э. Баумана 1 Заявитель(5 ТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИ ТОНКОСТЕННЫХ ОБОЛОЧЕКИзобретение относитс тельной технике, а имен рениям деформацйй оптич дами. Г Известно устройство дл деформаций, содержащее о установленные по ходу оп пучка, матовый полупрозр с нанесенным на него рас делитель и фоторегистрат Недостатком устройств низкая скорость обработк вызванная необходимостью зиционного фотографирова для получения эталонногоя к измерино к измеескими метоокт я измеренияветитель и,ическогочный экран,ром светор 111. а является и информациидвухэкспония оболочки растра. р ОР.ка устпрохерпен деформа- одержит ем освеходу опНаиболее близким к данному изобретению по технической сущности является устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек, содержащее корпус, закрепленный на нем осветитель, установленные по ходу оптического пучка прозрачный экран с растром, светоделитель в виде полупрозрачного зеркала эталонную зеркальную оболочку, установленную в оптический пучок и располагаемую перпендикулярно световому пучку, отраженному от светоделителя, и фоторегистратор 12 3 . Недостатком устройства являетсянедостаточная точность измерений,вызванная низким контрастом муаровойкартины, из-за многократног пере"отражения пучков междуобъе ом иэталонной поверхностью.цель изобретения - повышение точности измерений эа счет .исключенияпереотражения пучков и повышенияконтраста муаровой картины.Поставленная цель достигается тем,что в устройстве для измерения деформаций тонкостенных оболочек, содержащем корпус, закрепленный нанем осветитель, установленные по хо"ду оптического пучка прозрачный экранс растром, светоделитель в виде полупро"зрачного зеркала, эталонную зеркальнуюоболочку, устанбвленную в оптический пучок, и фоторегист а , эталонная зеркальная оболоч анов"лена в оптический пучок, одящийчерез светоделитель, п дикуляр"но ему.На чертеже изображена оптическая.схема устройства,устройство для измеренияций тонкостенных оболочек скорпус 1, закрепленный на нтитель 2, установленные по991159 Формула изобретения ВНИИПИ Заказ 107/54 Тираж 600 Подписно филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектн тицеского пучка прозрачный экран 3 с растром 4, светоделитель 5 в виде полупрозрачного зеркала, эталонную зеркальную оболочку 6,. установленную в оптический пучок, проходящий через светоделитель 5, и фоторегистратор 7.Устройство работает следующим образом.Оптический пучок от осветителя 2 проход.;т через прозрачный экран 3, р и попадает на светоделитель 5, выполненный в виде полупрозрачного зеркала, который делит оптический пучок на две части.Часть излучения, проходящая через светоделитель 5,пойадает на эталоннуюзеркальную оболочку 6,отражается от нее и светоделителем 5 направляется на фоторегистратор 7, это излучение формирует эталонный растр.20другая часть излучения отражается светоделителем 5 на контролируемую, тонкостенную оболочку 8, отражается от нее и через светоделитель 5 проходит к фоторегистратору 7. Это излучение формирует рабочий растр.Взаимодействие двух растров вызывает появление интерполос в виде муаровой картины, которая регистрируется фоторегистратором 7, и по ней определяют деформации контролируе- ЗО мой тонкостенной оболочки 8. Применение предлагаемога устройства позволяет повысить контраст муаровой картины, упрощает настройку и повышает точность определения дефор" маций тонкостенных оболочек так как исключает переотражение растра от эталонной поверхности. Устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек, содержащее корпус, закрепленный на нем осветитель, установленные по ходу оптического пучка прозрачный экран с растром, светоделитель в виде полупрозрачного зеркала, эталонную зеркальную оболочку, установленную в оптический пучок, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повьвГения точности измерений, эталонная зеркальная оболочка установлена в оптический пучок, проходящий через свето- делитель, перпендикулярно ему.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1. Теокарис П, Иуаровые полосы при исследовании деформаций. И.Икр 1 1972 с. 190-199.2. Авторское свидетельство СССР Р 696281 кл, 6 01 В 11/161977 (прототип)
СмотретьЗаявка
3332199, 18.08.1981
МОСКОВСКОЕ ОРДЕНА ЛЕНИНА, ОРДЕНА ОКТЯБРЬСКОЙ РЕВОЛЮЦИИ И ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ВЫСШЕЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
ЩЕРБАКОВ ЮРИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, оболочек, тонкостенных
Опубликовано: 23.01.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-991159-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijj-tonkostennykh-obolochek.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек</a>
Предыдущий патент: Способ определения деформаций деталей сложной формы
Следующий патент: Устройство для проверки углоизмерительных приборов
Случайный патент: Источник сейсмических сигналов ударного типа