Диэлектрический волновод

Номер патента: 1000861

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Архипова, Гуров, Иванов, Ключник, Соколов, Тучин

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезии, диэлектрической, металлических, пленок, подложке, тонких

...Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, И, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент", г. Ужгород, улПроектная,3лических пленок к диэлектрической подложке, заключающемся в том, что подложку с пленкой размещают в электромагнитном поле заданной частоты и увеличивают до отслоения пленки его на пряженность, по которой судят об адгезии, используют электромагнитное поле сверхвысокой частоты 0,640000 ГГц.Способ осуществляют следующим об разом.Тонкую металлическую пленку наносят на диэлектрическую подложку одним из известных методов, например напылением. Подложку размещают в элек тромагнитном поле сверхвысокой частоты. При падении электромагнитной волны на поверхность тонкой металлической пленки происходит...

Номер патента: 1363029

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Кулешов, Попандопуло, Софронова, Юрин

МПК: G01N 21/45

Метки: диэлектрической, неоднородности, пленки, подложке

...преломления. Изменяют угол освещенияпленки с подложкой и определяют уголБрюстера для каждого пятна неоднородности по изменению окраски цветовогопятна неоднородности на интерференционной картине до белого цвета иопределяют величину неоднородностипо показателю преломления по формуле К Б ф Бф где- угол Брюстера для пленки; д - угол Брюстера для пятна неЕ однородности на пленке,В способе специально устраняют явление:, интерференции выбором света, 5 1 О 1 г 20 25 30 35 40 поляризованного параллельно плоскости падения, и направлением луча подуглом Брюстера. Нахождение угла Брюс.тера облегчается при использованиибелого света, так как интенсивностьотраженного света, поляризованногопараллельно плоскости падения, вблизи угла Брюстера...

Номер патента: 1599722

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Кузин, Кулешов, Леонтьев, Филатов, Юрин

МПК: G01N 21/45

Метки: диэлектрической, неоднородности, пленки, подложке

...исследуемой пленки. с подложкой производят через дополнительную интерферирующую пленку, нанесенную на поверхность исследуемой пленки,Составитель С.Голубев редактор Т.Парфенова Техред Л,Сердюкова Корректор А,ОсауленкоЗаказ 3137 Тираж 514 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-иэдательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул. Гагарина, 101 верхности интерферирующей пленки, та.к кк эта пленка освещается не под углЬм Брюстера.В местах неоднородности исследуемой неинтерферирующей пленки по показателю преломления свет падает уже не под углом Брюстера и возникает интерференция лучей, отраженных от исппедуемой пленки и нанесенной...

Номер патента: 381002

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезии, диэлектрической, пленки, подложке, электропроводящей

...при котором в образце возникает ионизация. Регистрируемое значение напряжения начала ионизации сопоставляется со значениями этого напрякения, полученными в аналогичных условиях измерения для образцов с известной величиной адгезии. Необходимым условием осуществления метода является гарантия отсутствия цонизаццц между подложкой и контрольным электродом. Исследования, проведенные на образцах ситалла с напыленными на них металлическими покрытиями показали, что при прикладывашш соответствующего переменного напряжения в переходном слое возникают ионпзационные процессы. Прц этом величина напряжения начала ионизации зависит от степени неоднородности переходного слоя и, следовательно, от качества адгезии.Способ реализуется с помощью...

Номер патента: 1033937

Опубликовано: 07.08.1983

Авторы: Архипова, Гуров, Суминов, Тучин

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезии, диэлектрическим, металлических, пленок, подложкам, тонких

...поглотитель мощностиэлектромагнитного поля, который размещают между источником электромагнитного поля и пленкой, уменьшаютобъем поглотителя до тех пор, покапленка не отслоится, и по изменениюобъема поглотителя судят об адгезиипленки к подложке,Способ осуществляют следующим образом.На диэлектрическую подложку наносят одним из известных методов металВНИИПИ Заказ 5615/4Филиал ППП Патент ,лическую пленку, Размещают подложку с пленкой в электромагнитном поле сверхвысокой частоты таким образом, цтобы поверхность металлической пленки находилась сб стороны источникаэлектромагнитного поляРазмещают между источником электромагнитного поля и поверхностью пленки поглотитель мощности электромагнитного поля, например, дистиллированную воду,и...