Способ определения полей магнитной анизотропии поликристаллических ферритов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик 1 и 958994(61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 2306,80 (21)2943665/18-21 1511 М. Кл.з 0 01 .а 33/12 с присоединением заявки Нов Государственный комитет СССР ио деюм изобретений и открытий(531 УДК 621. 317, .44(088,8) Опубликовано 15.09,82. Бюллетень Мо 34 Дата опубликования описания 150982 72) Авторыизобретени Т.С. Касаткина, Ю.Н. Носков и А.Е. Ляд 1) Заявите(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛЕЙ МАГНИТНОЙ АНИЗОТРОПИИ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ФЕРРИТОВ 2 Изобретение. относится к радиоэлектронной промышленности, в частности к методам измерения параметров материалов для радиоэлектронной промышленности, и предназначено для измерения эффективных полей магнит- ной анизотропий поликристаллических ферритов, в.том числе фЕррогранатов.Известен способ определения палей магнитной анизотропии в поликристаллических ферритах, включающий анализ спектров магнитной проницаемости 1).Однако этот способ является косвенным и,в основном, пригоден для измерения относительно больших полей, т,е. имеет ограниченный диапазон применения.Известен другой способ определения полей магнитной анизатропии поли- кристаллических ферритов, включающий определение ширины линии ферромагнитного резонанса (ФМР) образца и вьделение составляющей, пропорциональной полю анизотропии 12).Способ имеет невысокую точность 25 вследствие того, что ширина линии ФМР в общем является суммой пяти- шести составляющих, и выделение составляющей, пропорциональнбй полю аниэотропии, возможно лишь, когда ЗО большинство остальных составляющих пренебрежимо мало.Кроме того, способ обладает невысокой чувствительностью, которая зависит от намагниченности образца.Цель изобретения - повышение точ- ности способа.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения полей магнитной аниэотропии поли- кристаллических ферритав, включающем определение ширины линии ферромагнитного резонанса образца, определяют зависимость ширины линии ферромагнитного резонанса образца от частоты, регистрируют максимальное н минимальное значение ширины линии " Ферромагнитного реэонанса образца, а о. величине поля аиизотропии судят по разности максимального и минимального значений ширины линии ферромаг нитного резонанса образца, при этом зависимость ширины линии ферромагнитного резонанса образца от частоты определяют в диапазоне частот1/Эу 4.М -У 4 ЛМзгде г - гиромагнитное отношение 4 ЛМ 5 - намагниченность насыщени образца,
СмотретьЗаявка
2943665, 23.06.1980
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1216
КАСАТКИНА ТАТЬЯНА СЕРГЕЕВНА, НОСКОВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ЛЯДОВ АНАТОЛИЙ ЕВГЕНЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/12
Метки: анизотропии, магнитной, полей, поликристаллических, ферритов
Опубликовано: 15.09.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-958994-sposob-opredeleniya-polejj-magnitnojj-anizotropii-polikristallicheskikh-ferritov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения полей магнитной анизотропии поликристаллических ферритов</a>
Предыдущий патент: Способ дистанционного измерения изменения намагниченности насыщения ферроматериалов и устройство для его осуществления
Следующий патент: Способ поверки ваттметров
Случайный патент: Способ производства солода