Устройство для определения осей у и z в кристаллических элементах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сфез Советски кСфциаимстмчасимаРеспублик в 938364)М, Кл. Ноа НЗ/О с присоединением заявки Яэрстеююй кей СССР аваам изобретен и втеритвЯ. И. Богаткин аявит ВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСЕЙ У И 2СТАЛЛИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТАХ(54) УСТ Изоб ке, мож пения к в крист Недостатком извести является низкая точнос осей У и 2 Цель изобретения 5 ности определения осей Данная цель достига устройстве для определ в кристаллических элем основание и электроды,щающиеся в вертикальн ной плоскостях, верхний нен в виде вращающейся элемента полоски с прого устройств ть определения Известно ус и регистра опт фических харак версального по ционного м ройством,ки. 15 На чертеже устройство для. в кристаллическ Устройство 2 в кристалл го основание 1 с у ним электродом одним нз вывод 4 с щюрезью 5показано предлагаемоеопределения осей У и 2их элементах.для определения осей У иических элементах содержатстановленным на нем аюв 2, который соединен св 3, верхний электроддля разметки элементаможность вращения вокруг етение относится к пьезотехниет быть использовано для опредесталлографических осей У и Г лических элементах, совершаюебания сдвига по толщине. тройство для определения ических и кристаллогратеристик, состоящее из униворотного стола и поляриоскопа с регулирующим еспечивающим автоматнегистрации 11. зацию процесса рНедостатком, известного устройствается невозможность его использовадля определения осей У и 2.Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемом результату является устройство для определения осей У, и 2 в кристаллических элементах, содержащее основание и элек тропы, взаимно перемещающиеся в вертикальной и горизонтальной плоскостях повышение точУ и сется тем, что вния осей У и 2ентах, содержащем взаимно перемей и горизонтальэлектрод выполвокруг центра орезью для размет3 ОЗВМ 4 4центра элемента и Вертикального переме- Предлагаемое устройство позволяетц 3 ения относительно нижнего электрода одновременно определять с высокой точпосредством резьбовой втулки 7, соеди- ностью направл ниавление осей У и Е в крисвен с другим выводом 8. таллических элементах любой конфигураебания сдвига поОриентация кристаллического элемен ции, совершающих кол ания сдта осуществляется следующим образом. толщине, что приводит к повышению паИспытуемый элемент 6 размещают , раметров изделий и уменынает их разброс.по центру нижнего электрода 2, Сверхуна элемент 6 путем вращения резьбовойвтулки 7 опускается верхний электрод 4. ф о р м у лф ла изобретенияЭлектроды 2 и 4 с помощью выводов 3и 8 обеспечивают подключение кристалли Устройство для определения осей У ического элемента. к ужд.6 к возб ающему ге. в кристаллических элементах, содернератсру. Зазор между элементом 6 и жащее основание и верхний и нижний элеверхним электродом 4 может быть уста- ктроды, взаи35 имно пе емещающиеся в верРновлен минимальным С помощью возбуж- тикальной орой и г изонтальной плоскостях,отличающееся тем,что,сдающего генератора производят настройопределенияцелью повышения точности определеУ Лверхний электрод выполта по отклонению стрелки индикатораэлемента полоски с прорезью для разметным вращением верхнего электрода 4вокруг центра элемента добиваются максимального отклонения стрелки индикатоИсточники ив 3 ормации,ра, что происходит при максимальноминятые во внимание и экспертизевозбуждении элемента. Положение верхне принятыего электрода 4 при этом совпадает с1. Авторское свидетельствидетельство СССРнапрвлением си т и выходом оси У" О 01"М 21/60 1967М 381980, кл,ЭДля разметки элемента на .нем наносят2. Авторское свидетельствово СССР5 а Ы 451168, кл.уда 4.
СмотретьЗаявка
2964514, 25.07.1980
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Х-5332
БОГАТКИНА ВАЛЕНТИНА НИКОЛАЕВНА, БОГАТКИН АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ, ГЕРАСИМОВ ЕВГЕНИЙ ВАЛЕРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: H03H 3/02
Метки: кристаллических, осей, элементах
Опубликовано: 23.06.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-938364-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-osejj-u-i-z-v-kristallicheskikh-ehlementakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения осей у и z в кристаллических элементах</a>
Предыдущий патент: Регулятор тембра для электромузыкального инструмента
Следующий патент: Устройство для поляризации трубчатых пъезокерамических элементов
Случайный патент: Устройство для измерения амплитудно-фазового распределения поля в раскрыве передающей антенны