Измеритель крутильных деформаций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскикСоциалистическихРеслублнк н 11932222(22) Заявлено 151080 (21) 2994632/25-28 51 М. Кл. з с присоединением заявки Мо 6 01 В 11/16 Государственный комитет СССР по делам изобретенийн открытий(088,8) Опубликовано 30,0 Ь 82, Бюллетень Мо 20 Дата опубликования описания 30. 05. 82(72) Авторы изобретен и Н.В.Иванов, Р.С.Шевелевич и С.И.Гришин жский политехнический инс В аявите(54) ИЗМЕРИТЕЛЬ КРУТИЛЬНБХ ДЕФОРМАЦИЙ даетний,ный хтребу е с Изобретение относится к измериельной технике, а более конкретно области измерения механических деормаций оптическими методами.Известно устройство для измерения еформаций, содержащее источник изучения, кодовый диск и фотоприемики 1) .Однако такое устройство не обланеобходимой точностью измеретак как измерения имеют дискрет арактер, а оптическая система ет тщательной юстировки. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является измеритель крутильных деформаций, содержащий установленные вдоль оптической оси источник излучения, оптическую секторную шторку и фотоприемник 21.Основным недостатком такого измерителя является низкая точность измерений. вследствие больших размеров светового пучка и нелинейного характера зависимости выходного сигнала от деформацииЦель изобретения - повышение точности измерений.Поставленная цель достигает я тем, что измеритель крутильных деформаций, содержащий установленные вдоль оптической оси источник излучения, оптическую секторную шторку и Фотоприемник, снабжен двумя фоконами, один из которых установлен меж ду источником излучения и шторкой, а другой - между шторкой и фотоприем ником, торцы Фоконов, обращенные к источнику и фотоприемнику выполнены в сечении круговыми, а противоположные торцы - кольцевыми.На чертеже представлен схематично измеритель.Измеритель крутильных цеформаций состоит иэ установленных вдоль оптической оси источника 1 излучения, фокона 2, оптической секторной шторки 3, второго Фокона 4 и,фотоприемника 5, торцы 6 и 7 фоконов,обращенные соответственно к источнику 1 и фотоприемнику 5, выполнены в с чении круговыми, а противоположные торцы 8 и 9 - кольцевые.Измеритель работает следующим обраэом.Пучок светового излучения От источника 1 направляется в фокон 2, в которой сечение пучка излучения изменяется круговое на кольцевое, причем яркость кольцевого пучка, равно932222 14 Подписное ул. Проектная,мерно распределена по сечению торца 8. Секторная шторка 3, связанная с объектом 10, перекрывает часть кольцевого сечения торца 9, что умень шает интенсивность излучения, проходящего через кольцевой торец фокона 9 к фотоприемнику 5 пропорционально углу поворота секторной шторки З,т.е. величина излучения, реО гистрируемая фотоприемником 5; пропорциональна углу поворота секторной шторки 3. Изобретение обладает более высокой точностью измерений эа счет линейной зависимости вели-, чины выходного сигнала от угла поворота, кроме того, применение гибких фоконов позволяет дистанционную передачу информации об угле поворота, что снижает влияние помех на результаты измерений. НИИПИ Заказ 3740/55 Ти илиал ППП "Патентф, г, Ужг формула изобретенийИзмеритель крутильных деформаций,содержащий установленные вдоль оптической оси источник излучения, оптическую секторную шторку и фотоприемник, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повьвюния точности измерений, он снабжен двумя фоконами,один иэ которых установлен междуисточником излучения и шторкой, адругой между шторкой и фотоприемником, торцы фоконов, обращенные кисточнику и фотоприемнику, выполненыкруговыми в сечении, а противоположные торцы - кольцевыми.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Патент США В 3560961,кл. 340-347, 1971.2. Известия И 1 СССР, Сер.Неорганические материалы. 1970, т. б,У 7, с, 1327, (прототип).
СмотретьЗаявка
2994632, 15.10.1980
ВОРОНЕЖСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ИВАНОВ НИКОЛАЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ШЕВЕЛЕВИЧ РАФАИЛ СЕМЕНОВИЧ, ГРИШИН СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, измеритель, крутильных
Опубликовано: 30.05.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-932222-izmeritel-krutilnykh-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Измеритель крутильных деформаций</a>
Устройство для бесконтактного измерения деформаций
Номер патента: 1101672
Опубликовано: 07.07.1984
Автор: Быков
МПК: G01B 11/16
Метки: бесконтактного, деформаций
...биссектрисы угла междупучками,и электронным фазометром,опорный и измерительный входы которого подключе ны к выходам фотодетекторов.,На чертеже представлена схемаустройства для бесконтактного измерения деформации.устройство содержит установленные 45,вдоль оптического пучка лазер 1,коллиматор 2, расщепитель 3, формирующий два пучка света, оси которыхпересекаются в плоскости расщепленияи дифракционную решетку 4, преднаэначенную для установки на исследуемой поверхности в зоне пересеченияпучков перпендикулярно биссектрисеугла между осями этих пучков, оптический частотный модулятор 5, Фотоприемный блок б, выполненный издвух жестко связанных друг с другомфотодетекторов 7, установленныхв плоскости расщепления симметричноотносительно биссектрисы...
Устройство для измерения деформаций диффузно отражающих объектов
Номер патента: 1126812
Опубликовано: 30.11.1984
Автор: Хопов
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, диффузно, объектов, отражающих
...исто и;ик когеоенсного ИЗЛУЧЕНИЯ ТОЯНСП ЯР а Ств НО 1 Г интерферо метр сдвига, состосгший Двух параллелььщх дифракционньгсрешеток с параллельно ориентированньий штрихями дна 0:ОтопнееиИка Б фаэометр, подключенный к выходам фОтоприРмникон, снЯбженосЯновлении между источником кс гер нтногсизлучения и транспарантом ГетероДИННЫМ ИНТРРфЕРОИЕТРОМ С;,Внга С апертурной диафрагмой, всличи; сдвига которого равна диаметру етс япертурнОй ИафряГмы трявспарант выполнен н виде спекл-фотографии с разнесенной спекл-структурой., промОдулировяннОй Бнтерфаренииониь 2 иполосами, ориентированными перпендикулярно вектору смещения рыка- СЕННОИ СПЕКПтруктуы и ,ЛЕН ПОД УГЛОМ ВРЗГГЯ К ОПТИЧЕСЭТЯК ЧТО НЯПРЯВсЕНИЕ ПВ 7 РРд.родичного интерферометря лент з...
Устройство для измерения деформаций
Номер патента: 1278571
Опубликовано: 23.12.1986
Авторы: Русов, Тотьмянин, Шиляев, Шрамек
МПК: G01B 7/16
Метки: деформаций
...10 и 11 жидкокристаллической панели 9. Диоды 12 служат для развязки тензомостов 1.Световой поток, который второй светоделительный элемент 7 направляет на жидкокристаллическую панель 9, проходит через полупрозрачный электрод 10 и отражается от зеркального электрода 11, а интенсивность отраженного светового потока зависит от величины напряжения, приложенного к электтродам 10 и 11, т. е. от напряжения разбаланса тензомоста 1. При изменении деформации объекта в месте, контролируемом20 25 30 поток, длина волны которого соответ 35 ствует длине волны пропускания следующего Формула изобретения 51015 40 45 50 55 тензомостом 1, происходит изменение величины напряжения разбаланса тензомоста 1 и, соответственно, изменение величины приложенного...
Устройство для измерения деформаций диффузно-отражающих обьектов
Номер патента: 487297
Опубликовано: 05.10.1975
Авторы: Власов, Пресняков, Проценко, Смирнова
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, диффузно-отражающих, объектов
...и выполненного в виде непрозрачного экрана 7 с отверстцямц Я - 12.Центр отверстия 8 размещен на оптической 15 ссц, центры двух пар отверстий 9, 10 ц 11, 12расположены на взаимно перпендикулярных прямых симметрично относцтельно оптической оси, а центр отверстия 13 - на прямой, проходящей через центры отверстий 11, 12, оим О метрично центра отверстия 12 по отношениюк опверстию 11.Устройство работает следующим ооразом.Исследуемый объект 14 устанавливают вфокальной плоскости линзы 4.25 Лучом лазера 1 через блок формагрованияпучка освещают объект 14. Дефорюгруют объект и снимают интерферограмму. Фильтр пространственных частот имеет отверстие 8, лропускающее пространственную частоту, созо ответствующую зеркальному отражению, две;ары...
Способ измерения деформаций
Номер патента: 502210
Опубликовано: 05.02.1976
Автор: Богданов
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций
...света с помощью тарировочной кри вой определяют величину деформации.На чертеже изображена общая схема измерения деформаций.Луч света 1 от источника света 2, пройдядважды через светопоглоща 1 ощпй слой 3 и 10 отразившись от светоотражающего слоя 4,нанесенных на поверхность исследуемого объекта 5, попадает на фотоэлемент 6, измеряющий силу света, Последняя зависит от плотности светопоглощающего слоя 3, которая в 15 свою очередь зависит от величнны,деофрмации в даннои точке поверхности объекта.Суть изобретения состоит в следующем.На поверхность объекта наносят двухслойное покрытие с внутренним светоотражаю щим и наружным светопоглощаощнм слоем,освещают его лучом света и нагружают исследуемый объект, что приводит к деформнрованию...
Предыдущий патент: Устройство для бесконтактного измерения наружного диаметра проката
Следующий патент: Способ определения напряжений в изделиях из диэлектрических материалов
Случайный патент: В п т б