Устройство для измерения деформаций

Номер патента: 1278571

Авторы: Русов, Тотьмянин, Шиляев, Шрамек

ZIP архив

Текст

ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ЬР 3 70 9 11 Ф СУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ Н А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТ(71) Устиновский механический институт(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯДЕФОРМАЦИЙ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано дляизмерения деформаций крупногабаритныхузлов и деталей. Целью изобретения является повышение информативности при контроледеформации в и точках конструкции. Поддействием управляющего сигнала с управляющего элемента 4 источник 5 изл учения излучает световой поток. Поток через первый светоделительный элемент 6, световол 16, второй светоделительный элемент 7 попадает через полупрозрачный электрол0 жидкокристаллической панели 9 на зеркальный электрод 11. Один из и светофильтров 8 пропускает излучение на соответствующий ему фотодиод 2. Тензомост 1 запитывается. При возникновении деформации разбаланс тензомоста 1 приводит к изменению напряжения, прикладываемого к электролам 10, 11. При этом изменяется интенсивность светового потока, отражаемого электродом 1, что регистрируется регистратором4. Выбирая другую длину волны источника 5 излучения. подключают следующий тензомост, измеряющий деформацию в другой точке конструкции. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.Изобретение относится к измерительной технике, а именно к тензометрическим устройствам для измерения деформаций, и может быть использовано для измерения деформаций крупногабаритных узлов и деталей в процессе работы в условиях электромагнитных помех.Цель изобретения - повышение информативности при контроле деформации в п точках конструкции.На чертеже схематически изображено устройство для измерения деформации.Устройство содержит тензомосты 1 (всего их и), в диагонали питания которых включены фотодиоды 2, блок 3 управления тензомостами 1, выполненным в виде управляющего элемента 4, источника 5 излучения, первого светоделительного элемента 6, второго светоделительного элемента 7 и и светофильтров 8. В измерительную диагональ каждого тензомоста включен электрооптический преобразователь, выполненный в виде жидкокристаллической панели 9 с полупрозрачным 10 и зеркальным 11 электродами, электрод 11 подключен к одним выходным шинам тензомостов 1 непосредственно, а электрод 10 - к другим шинам через разделительные диоды 12. Устройство содержит также фотоприемник 13, регистратор 14, в который входит блок 15 обработки данных, и световод 16. Устройство для измерения деформаций работает следующим образом.Под действием управляющего сигнала с управляющего элемента 4 источник 5 излучает в первый светоделительный элемент 6 световой поток, длина волны которого соответствует длине волны пропускания одного из светофильтров 8. Пройдя через световод 16, световой поток попадает во второй светоделительный элемент 7, который направляет этот поток на светофильтры 8 и жидкокристаллическую панель 9. Поскольку длина волны светового потока равна длине волны пропускания только одного из светофильтров 8, то только фотодиод 2, находящийся напротив этого светофильтра, освещен. Под действием света фотодиод 2 вырабатывает фото ЭДС, которой запитывается тензомост 1. Напряжение разбаланса тензомоста 1, определяемое деформацией, прикладывается к электродам 10 и 11 жидкокристаллической панели 9. Диоды 12 служат для развязки тензомостов 1.Световой поток, который второй светоделительный элемент 7 направляет на жидкокристаллическую панель 9, проходит через полупрозрачный электрод 10 и отражается от зеркального электрода 11, а интенсивность отраженного светового потока зависит от величины напряжения, приложенного к электтродам 10 и 11, т. е. от напряжения разбаланса тензомоста 1. При изменении деформации объекта в месте, контролируемом20 25 30 поток, длина волны которого соответ 35 ствует длине волны пропускания следующего Формула изобретения 51015 40 45 50 55 тензомостом 1, происходит изменение величины напряжения разбаланса тензомоста 1 и, соответственно, изменение величины приложенного к электродам 10 и 11 напряжения и, следовательно, изменение интенсивности отражаемого электродом 11 светового потока пропорционально изменению деформации. Отраженный световой поток, интенсивность которого пропорциональна величине разбаланса тензомоста 1, через второй светоделительный элемент 7, световод 16 и первый светоделительный элемент 6 попадает на фотоприемник 13, преобразующий световой сигнал в электрический, который далее поступает на вход блока 15 обработки данных,В блоке 15 обработки данных в соответствии с калибровочной характеристикой тензомоста 1, поступающей на управляющий вход блока 15 обработки данных с выхода управляющего элемента 4, производится обработка поступающей информации, определяется величина деформации в месте, контролируемом тензомостом 1, а результаты регистрируются регистратором 14. Затем под действием управляющего сигнала с управляющего элемента 4 длина волны, излучаемой источником 5 излучения, становится равной длине волны пропускания другого светофильтра 8 и фото ЭДС фотодиода 2, находящегося напротив этого светофильтра, запитывает соответствующий тензомост 1, а интенсивность отраженного от электрода светового потока зависит уже от ве шчины деформации в месте, контролируемом этим тензомостом 1. Затем под деиствием управляющего сигнала с элемента 4 источник 5 излучения излучает световой светофильтра и процесс измерения продолжается. 1. Устройство для измерения деформаций, содержа щее тензомост с источником питания, включенным в диагональ питания тензомоста, электрооптический преобразователь, включенный в измерительную диагональ тензомоста, световод, фотоприемник и регистратор, отличающееся тем, что, с целью повьпдения информативности при контроле деформации в и точках конструкции, оно снабжено итензомостами с источниками питания, блоком управления тензомостами, выполненным в виде последовательно соединенных управляющего элемента и источника излучения, первого светоделительного элемента, размещенного по ходу светового потока между источником излучения и световодом, второго светоделительного элемента, размещенного по ходу светового потока между световодом и электрооптическим преобразователем, и п светофильтров, оптически связанных с вторым светоделительным эле278571 Составитель Т. Николаева Редактор М. Бланар Текред И. Верес Корректор Е. Рошко Заказ 6817/33 Тираж 670 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4ментом, фотоприемник оптически связан с первым светоделительным элементом, электрооптический преобразователь подключен к измерительной диагонали каждого тензомоста, выход управляющего элемента связан с регистратором, источник питания каждого тензомоста выполнен в виде фотодиода, а каждый светофильтр оптически связан с соответствующим фотодиодом. 2. Устройство по п, 1, отличающееся тем, что электрооптический преобразователь выполнен в виде жидкокристаллической панели с полупрозрачным и зеркальным электродами, один из которых подключен к одной выходной шине каждого тензомоста, а другой через развязывающие диоды - к другоЙ выходной шине тензомоста.

Смотреть

Заявка

3951162, 04.09.1985

УСТИНОВСКИЙ МЕХАНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ

ШРАМЕК ВЛАДИМИР БАЯНОВИЧ, ШИЛЯЕВ ВАЛЕРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, РУСОВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ, ТОТЬМЯНИН ВЛАДИМИР ЮЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: деформаций

Опубликовано: 23.12.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1278571-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформаций</a>

Похожие патенты