Способ определения толщины покрытия

Номер патента: 1732238

Опубликовано: 07.05.1992

Авторы: Абдылдаев, Чокоев, Эстебесов, Юнусов

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезии, качества, неразрушающего, пленочного, подложке, покрытия

...покрытия и подложки,кг/мз; 20Си С 2 - соответственно теплоемкостьматериала пленочного покрытия и подложки, Дж/кг (;Ь - толщина пленбчного покрытия,. м; 25а - температуропроводность ма 2териала подложки, м /с,га затем после воздействия импульсалазерного излучения сравнивают площадь участков с большей температурой, чем номинальная температура пленочного покрытия, с площадью всегопокрытия.Сущность способа заклюцается вследующем.На подложку наносят пленку. Затем 35на нее со стороны покрытия воздействуют лазерным импульсом с равномерным поперечным распределением интенсивности при этом около 903 тепловойФ40энергии концентрируется в материалепленки. Оптимальный режим облучениявыбирают иэ следующих условий:зна"чение длительности импульса...

Номер патента: 939591

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Гимельфарб, Дорожкин, Кашицын, Пик, Щербаков

МПК: C23C 7/00

Метки: внутренние, вращения, нанесения, поверхности, покрытий, порошковых, тел

...крышки и керамической трубы размещеныасбестовые прокладки 11 и 12. Внутри полого вала 3 на подшипниках 13 скольжения установлена 50 штанга 14, оснащенная самостоятельным приводом вращения (не показан) и не имеющая воэможности воэвратнопоступательного перемещения по оси детали. На конце штанги 14 с помощью 55 шарнира 15 крепятся днуплечие рычаги 16 с закрепленными на них грузами 17 и двумя парами роликов 18 и 19, иэ которых первые являются деформирующими, а вторые - копирующими. Копиру 60 ющие ролики 19 находятся в контакте с Формоэадающим элементом 20 копира 4,Устройстно работает следующим образом. Подвижную каретку 1 отводят в крайнее праное положение. При этом деформирующие ролики 18 оказываются выдвинутыми за пределы керамической...

Номер патента: 1394028

Опубликовано: 07.05.1988

Автор: Ильин

МПК: G01B 7/06

Метки: диэлектрической, пленки, толщины

...от измерительного устройства 4, которое позволяет изменять величину напряжения в требуемых пределах, регистрировать наличие частичных разрядов и измерять напряжение, подаваемое на электроды, Площадь прилегающего электрода выбирают таким образом, чтобы на его краях не возникали частичные разряды при напряжениях, меньших по величине напряжения возникновения начальных частичныхразрядов в воздушном зазоре. Регистрацию начальных частичных разрядов осуществляют известными способами. При контроле толщины покрытия на проводящей основе в качестве прилегающего электРода используют основу.Для использования способа при контроле толщины изоляции эмалированных проводов большой длины применяют дополнительный электрод, который устанавливают рядом с...

Номер патента: 1384940

Опубликовано: 30.03.1988

Авторы: Зуев, Скрябин

МПК: G01B 11/06

Метки: азотосодержащих, покрытий, толщины

...газообразного азота из покрытия его необходимо не просто разрушить, но и разложить как химическое соединение.Нижняя граница интервала плотности мощности определяет условия, при которых температурные покрытия достигают температуры разложения покрытия (в данном случае нитрида).Экспериментально были установлены зависимости величины аналитического сигнала азота от плотности мощности для покрытий различной толщины.Источником азота является лишь область покрытия, непосредственно подвергнутая лазерному нагреву, т.е. лежащая в зоне фокального пятна лазерного излучения.Зона имеет форму цилиндра, т.е.2(=Н.С4 и,где Я - количество выделившегося азота; до - диаметр фокального пятна; Н - толщина покрытия; С - концентрация азота в покрытии,так...

Номер патента: 1539528

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Демшевский, Степчук

МПК: G01B 21/08

Метки: покрытия, слоя, толщины

...напряжения с заданным,2 с,п. Ф-лы, 1 ил, 1539528Участок подложки 3 без покрытия 2 или образец-свидетель материала подложки 3 помещают в устройство между излучателем 1 и диафрагмой 13, перекрывая в последней оба отверстия с установленными в них Фотоприемниками 4-1 и 4-2. Поток излучения от излучателя 1, проходя через подложку 3, попадает на оба фотоприемника: ре гулярная составляющая прошедшего потока попадает на Фотоприемник 4-1, расположенный на одной оптической оси с излучателем 1, фотоприемник 4- 2 регистрирует часть излучения, пропорционального диффузно-рассеянному свету в подложке 3. Фототок приемника 4-1 преобразуется с помощью измерительного преобразователя 5-1 в напряжение, пропорциональное регулярной составляющей прошедшего...