Способ настройки ультразвукового дефектоскопа

и 879449 Союз СоветскикСоциалистическинРеспублик ОП ИСАЙИ ЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУво делам изобретений н открытий(72) Автор изобретения Я. Ф. Аникеев 7 ) Заявитель ПОСОБ НАСТРОЙКИ УЛЬТРАЗВУКОВОГО ДЕФЕКТОСКОПА отраженныхвнутренней ио обеспечива т й змеро Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может бытьиспользовано при ультразвуковом контроле тонкостенных труб.Известен способ настройки ультразвукового дефектоскопа по испытательному образцу, заключающийся в том,что на образец наносят нормированныепротяженные дефекты (как на наружную,так и на внутреннюю его поверхность),определяют чувствительность дефектоскопа путем раздельного сканирования. поверхности образца и определения максимальной амплитуды отраженных сигналов 1,Дефекты наносят в виде рисок прямоугольной или треугольной формы иориентируют их параллельно и перпендикулярно оси испытатепьного образца(например, трубы,ЮНаиболее близким по техническойсущности к изобретению является способ настройки упьтразвукового дефектоскопа по испьггательному образцу, заключающийся в том, чтона наружную ивнутреннюю поверхности образца наносят дефекты, раздельно сканируют наружную и внутреннюю поверхности образца, выявляют максимальные амплитудыотраженных сигналов от дефектов и поним определяют чувствительность дефектоскопа 1 2. При этом необходимым условием настройки является максимальное совпадение амплитудсигналов от дефектов нанаружной поверхностях,ется подбором соотношенэтих дефектов. Недостатками этйх способов является большая трудоемкость настройки, обусловленная сложностью нанесения нормированных, равномерных по протяженности дефектов на поверхности образца (особенно на внутренней поверх ности труб малого диаметра), а также низкая точность настройки из-за сложности индификацииразмеров дефектов.449 4ним дефектам при фиксировании максимальной амплитуды,Таким образом, применение изобретения повышает точность настройки, так5как эа эталон при определении чувствительности использован один и тот женормированный дефект на наружной поверхности испытательного образца. Кроме того, изобретение менее трудоемко,О, так как отпала необходимость в нанесении нормированного дефекта на внутреннюю поверхность образца. 3 879елью изобретения является увеличение точности и снижение трудоемкос"ти настройки,Эта цель достигается эа счет того,что дефект на наружной поверхности иэ"готавливают нормированным, наружнуюповерхность сканируют симметричными5, нормальными волнами, определяютчувствительность дефектоскопа по поверхностным дефектам, не изменяя этойчувствительности внутреннюю поверхность сканируют асимметричной оо волной и определяют чувствительность повнутренним дефектам. Формула изобретенияСпособ настройки ультразвукового5 дефектоскопа по испытательному образцу, заключающийся в том, что на наружную и внутреннюю поверхности образцананосят дефекты, раздельно сканируютнаружную и внутреннюю поверхности образца, выявляют максимальные амплитуды отраженных сигналов от дефектов ипо ним определяют чувствительностьдефектоскопа, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью увеличения точностии снижения трудоемкости настройки,дефект на наружной поверхности изготавливают нормированным, наружную по верхность сканируют симметричными 5 онормальными волнами, определяют чувствительность дефектоскопа по поверхностным дефектам, не изменяя этойчувствительности внутреннюю поверхность сканируют асимметричной а, волной и определяют чувствительность повнутренним дефектам.З 5Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. ГОСТ 17410-72, стр. 3.2. Технологическая инструкцияТИ/ВНИТИ 354-17-10-74 (прототип),Способ заключается в следующем.Наносят нормированный дефект на наружную поверхность испытательного образца, а на внутреннюю поверхность - ненормированный дефект. В качестве дефекта может быть применена капля вязкой жидкости, например машинного масла.При иммерсионном варианте устанавЛивают образец в ванну с жидкостью, С помощью искателя ультразвука возбуждают симметричную нулевую 5 О волну и сканируют наружную поверхность образца до появления максимального отраженного сигнала от поверхности дефекта. фиксируют положение этого искателя и устанавливают требуемое усилие на электронном блоке дефектоскопа. Затем, не изменяя чувствительности дефектоскопа, внутреннюю поверхность сканируют асимметричной а, волной. Это,.можно получить путем изменения угла ввода ультразвуковых колебаний искателя до образования волны типа а, и определяют чувствительность дефектоскопа по внутренЗаказ 9709/13 Тираж 910 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 3035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5