Способ фрезерования сферических углублений
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалнстических Реслублнк(51) М Кл Заявлено 0704,77 (21) 2471013/25-08 В 23 0 с присоединени (23) Приоритетая сударствениый комитет СССР о делам изобретений и открытиЮта опуб вания описания 23098(72) Авторы изобретения Натанов и М.д де аявите 54) СПОСОБ ФРЕЗЕРОВАНИЯ СФЕРИЧЕСКИХ УГЛУБЛЕНИ( реэы 1си вращть А-А ко ва щи ти езы 1 совготовки 2. ры которой гсй, где радиусу сфесфеэареерования которых округ и ку ведут Иэве ически отовку Ю - рричеспрофи2 на с к таУ й ко5 зобретение относится к механичесобработке и может быть использопри изготовлении деталей, имею- внутренние сферические поверхносстны способы фреэх углублений, прии фреэу вращают вающихся осей. Обработцевой фрезой 111.Однако известные способы недо точно производительны и требуют б ьшого количества применяемых инстр ментов.Цель изобретения - повышение производительности.Эта цель достигается тем, что обработку ведут дисковой фрезой, максимальный радиус которой равен радиусу обрабатываемой сферической поверхности, а радиус кривизны рабочей части меньше его, причем угол между осями выбирают равным 90 о, а плоскость максимального диаметра фреэы совмещают с осью вращения заготовки.На фиг. 1 представлена схема осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 - вид А на фиг. 1.Сущность способа заключается в следующем. Ось вращения дисковой ф ра полагают перпендикулярно о ения заготовки 2, а плоскосмаксимального диаметра фрмещают с осью вращения эаДисковую фрезу 1, параметвыбирают из соотношения 0адиус фрезы, равныйкого углубления, г - радиус ля фрезы, внедряют в заготовку требуемую глубину Н с подачей вреэания Бар . После этого заготовку 2 начинают вращать с круговой подач В результате сочетания двух вращательных движений (фрезы и заготовки), после полуоборота заготовки образуется сферическое углубление с радиусом й, равным радиусу фрезы 1. Вращательное движение заготовке можно сообщить и одновременно с началом вреэания в нее фрезы. В этом случае сферическое углубление требуемой глубины Н образуется после нескольких оборотов заготовки.Предлагаеьаюй способ прост в осуществлении и позволяет повысить производительность обработки сферических углублений при сокращении номенк865553 г Составитель М, Кольбичедэктор Т. КУГрьааева Техред Л.Пекарь КорректорМ, Шароши 943 21 1151нноготенийРаую За Подписномитета СССРоткрытийкая наб., д. 4/5/ Тирам ВНИИПИ Государствпо делам изобр 113035, Москва,.Ж-З Филиал ППП "Патент", г. ужгород,оектяая,латуры применяемых режущих инструментов,Формула изобретения Способ фрезерования сФерических углублений, при котором заготовку и Фрезу вращают вокруг пересекающихся осей, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения производительности, обработку ведут дисковой Фрезой, максимальный радиус которой равен радиусу обрабатываемой сФерической поверхности, а радиускривизны рабочей части меньше его,причем угоол между осями выбираютравным 90 , а плоскость максимального диаметра Фрезы совмещают с осьювращения заготовки. Источники инФормации,принятые во внимание при экспертизе1. Плотицын В.Г, Расчеты настроеки наладок Фрезерных станков, Л.,
СмотретьЗаявка
2471013, 07.04.1977
Заявители
НАТАПОВ ЛЕОНИД МИХАЙЛОВИЧ, МЕДВЕДЕВ МИХАИЛ ДМИТРИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: B23C 3/00
Метки: сферических, углублений, фрезерования
Опубликовано: 23.09.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-865553-sposob-frezerovaniya-sfericheskikh-uglublenijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ фрезерования сферических углублений</a>
Автоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей
Номер патента: 324489
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Ахремчик, Голод, Никитин, Обрадович
МПК: G01B 11/255
Метки: автоколлимационный, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических, сферометр
...ес це оа кривизиы с прсдмстиой плоскости обьг изооражсиия копцов итри:;ов сетки р." 30 ся в разиь 1 с стороны. Шторка 15 пГ25 30 35 перемещении перекрывает штрих сетки, при этом в цепи фотоприемников 12 и 13 возникает электрический ток. В случае совпадения концов штрихов сетки в электронный блок И с фотоприемников поступают совпадающие по времени электрические импульсы, и индикаторное устройство 17 покажет поль. Если совпадение концов штрихов сетки отсутствует, то в электроннын блок 14 поступят не совпадающие по времени электрические импульсы, и индикаторное устройство покажет значение, отличное от нулевого. Для отсечения электрических импульсов, возникающих при обратном ходе шторки 15, перед ней устанавливают обтюратор 18, выполненный в...
Способ контроля радиуса кривизны сферических поверхностей
Номер патента: 557621
Опубликовано: 05.03.1978
Авторы: Казанкова, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков
МПК: G01B 11/255
Метки: кривизны, поверхностей, радиуса, сферических
...поверхность с центром кривизны;5 - объектив; б - контрольный прибор. В качестве контрольного прибора, обеспечивающего формирование светящейся точки 1 и юстиронку схемы, используют .либо антоколлимационный микроскоп, либо интерферометр типа Тваймана-Грина.Способ осуществляется следующим образом. При контроле вогнутых поверхностей голограмму 2 устанавливают на)5 расстоянии К от светящейся точки и наблюдают ее антоколлимациопное изображение .(фиг,1), При контроле выпуклых поверхностей голограмму 2 устанавливают на расстоянии В от изображения С светящейся точки 1, сформированного объективом 5 (фиг.2). Это положение голограммы фиксируют с помощью щупа 3, производят первый отсчет, голограмму заменяют контролируемойповерхностью 4,...
Устройство для контроля радиуса внутренней сферической поверхности
Номер патента: 1270540
Опубликовано: 15.11.1986
Автор: Чекалов
МПК: G01B 5/22
Метки: внутренней, поверхности, радиуса, сферической
...закреплен одиниз базирующих элементов 5 На одномконце измерительного стержня 2 установлена микрометрическая головка6, микровинт 7 которой вставлен ввилку 8, Шарнир 3 также помещен ввилку 8. На другом конце измерительного стержня 2 закреплен измерительный наконечник 9, на котором с возможностью перемещения вдоль негоустановлен второй базирующий элемент10. Между измерительным стержнем 2и базирующим элементом 10 расположе- ЗОна пружина 11. По отношению к измерительному усилию микрометрическойголовки 6 усилие пружины 11 всегдаменьше.Устройство работает следующим образом,Базирующий элемент 5 устанавливают на контролируемую сферическую поверхность 12, затем вращают трещоткумикрометрической головки 6, крутящий а)момент передается микровинту...
Способ контроля радиуса кривизны сферических поверхностей оптических деталей
Номер патента: 1460600
Опубликовано: 23.02.1989
Авторы: Бакеркин, Контиевский
МПК: G01B 11/255
Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических
...1 фокусируют на контролируемую поверхность 2 40 (положение автоколлимационного микроскопа показано пунктирными линиями) и измеряют расстояние между двумя положениями .автоколлимационного микроскопа 1. По измеренному 45 расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа 1 оп-. ределяют радиус кривизны контролируемой поверхности 2. При фокусировке автоколлимационного микроскопа 1 на контролируемую поверхность 2 экран б убирают, а плоскопараллельную пластину 4 смещают по направлению к автоколлимационному микроскопу 1 или выводят иэ хода лучей. Если плос. копараллельная пластина 4 остается55 в ходе лучей, то радиус кривизны контролируемой поверхности 2 равен расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа...
Способ определения радиусов кривизны сферических поверхностей и устройство для его осуществления
Номер патента: 1562691
Опубликовано: 07.05.1990
Автор: Парняков
МПК: G01B 11/255, G01B 9/08
Метки: кривизны, поверхностей, радиусов, сферических
...объективов 43 и 43 и в которой проектируются два иэображениямарки 37. При наведении проекционныхсистем на контролируемую поверхностьточка пересечения осей этих системсовмещается с вершиной О сферической поверхности, При отражении отнее оба пучка лучей света проходят вобратном ходе оптические элементыпроекционных систем и с помощью светоделительного зеркала 40 направляются в линзу 45 приемной оптическойсистемы. С помощью линзы 45 и кубпризмы 49 с полупрозрачной гипотенузной гранью два изображения марки проектируются в плоскости марки 50, наблюдаемой через окуляр 51, в плоскости диафрагмы 47, расположенной перед фотоприемником 48. На фиг.2 показан в качестве примера двухэлементный фотоприемник, но вместо него возможно,...
Предыдущий патент: Фрезерный автомат
Следующий патент: Способ фрезерования нежестких деталей
Случайный патент: Устройство для синхронизации электрических машин