Устройство для ориентации по-лупроводниковых приборов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 801144
Авторы: Гизунтерман, Доманцевич
Текст
Союз Советских Соцналнстнческнх Республик(22) Заявлено 01.03.79 (21) 2731506/18-21с присоединением заявки йо(51)М. КлН 01 Ь 21/00 Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий(72) Авторы изобретения И.И.Гизунтерман и А.А.Доманцевич Специальное конструкторское бюро Гомельского эайда" радиотехнического оснащения(54) УСТРОИСТВО ДЛЯ ОРИЕНТАЦИИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ Изобретение относится к электронной технике, в частности к устройствам для ориентации полупроводниковых приборов, и может быть испольэованб при автоматизации ряда технологических операций.Известно устройство для ориентации полупроводниковых приборов, содержащее вибролоток с продольным пазом и угловым вырезом, выполненным в стенке продольного паза вибролотка, подпружиненный рычаг, опорный конец которого расположен в угловом вырезе 1,Однако известное устройство не 15 надежно в работе и не обеспечивает высокой производительности работы.Цель изобретения - повышение производительности и надежности работы.Поставленная цель достигается тем, 20 что в устройстве для ориентации полупроводниковых приборов, содержащем вибролоток с продольным пазом и угловым вырезом, выполненным в стенке продольного паза Жибролотка, подпру жиненньй рычаг, опорный конец которого, расположен в угловом вырезе, снабжен приводом и выполнеч с пазом, сост ветствующим профилю продольного паза .вибролотка, а в вершине углового вы реза выполнено седло, причем обестороны углового выреза наклонены кстенке продольного паза под острымуглом.На фиг. 1 и 2 показано устройство,общий вид; на фиг. 3 - разрез А-Ана фиг. 2.Устройство содержит вибролоток1 с продольным пазом 2 и угловым вырезом 3, подпружиненный рычаг 4,снабженный приводом 5, причем в вершине .углового выреза выполнено седлоб.Устройство работает следующим об"разом,Подпружиненный рычаг 4 находитсяв исходном состоянии в левом положении. Если полупроводниковый приборориентирован правильно, то поворотана 180 не происходит.В а р и а н т 1. Ориентацию полупроводникового прибора необходимопроизводить. Прибор двигается эасчет вибрации вибролотка или под:,действием собственного веса и попадает крайним выводом:,в седло б, далеевключается, например по команде отфотодатчика, привод 5 и подпружиненный рычаг занимает правое положение,при этом за счет собственного веса801144 формула изобретения оставитель В, Титов ехредН.Ковалева Корректор Е. Рошко актор Л. Пчелинс 3 Тираж 795 Под ВНИИПИ Государственнагс комитета ССС по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., даказ 10445/7 н 4 лиал ППП фПатент", г, Ужгород, ул. Проектн прибора или эа счет вибрацйй виброло 1 ка возникает крутящий момент относительно крайнего вывода прибора, находящегося в седле б и происходит поворот прибора на 180 ф, т.е, ориентация, В кснце поворота крайний вывод автоматически выходит из седла и прибор двигается дальше по вибролотку в оринтированном состоянии,.В. а р и а н т 2. Ориентацию приора производить не нужно. По команде, например от фотодатчика, подпружиненный рычаг 4 приводится от привода 5 через тягу в правое положение и полупроводниковый прибор проходито зону ориентации беэ поворота на 180 Устройство для ориентации полупроводниковых приборов, содержащее вибролоток с продольным пазом и угловым вырезом, выполненным в стенкепродольного паза вибролотка, подпружиненный рычаг, опорный конец которого расположен в угловом вырезе,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, сцелью повышения производительностии надежности работы, подпружиненныйрычаг снабжен приводом и выполнен спазом, соответствующим профилюпродольного паза вибролотка, а в вершине углового выреза выполнено седло,причем обе стороны углового вырезанаклонены к стенке продольного пазапод острыми углами15 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССРР 558329, кл. Н 01 Ь 21/68 1975.
СмотретьЗаявка
2731506, 01.03.1979
СПЕЦИАЛЬНОЕ КОНСТРУКТОРСКОЕ БЮРОГОМЕЛЬСКОГО ЗАВОДА РАДИОТЕХНО-ЛОГИЧЕСКОГО ОСНАЩЕНИЯ
ГИЗУНТЕРМАН ИГОРЬ ИЦКОВИЧ, ДОМАНЦЕВИЧ АРКАДИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01L 21/00
Метки: ориентации, по-лупроводниковых, приборов
Опубликовано: 30.01.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-801144-ustrojjstvo-dlya-orientacii-po-luprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для ориентации по-лупроводниковых приборов</a>
Двусторонние ножницы для прорезания продольных диаметрально противоположных пазов в стенках труб различного профиля
Номер патента: 96570
Опубликовано: 01.01.1953
Автор: Карел
МПК: B24B 57/02
Метки: двусторонние, диаметрально, ножницы, пазов, продольных, прорезания, противоположных, профиля, различного, стенках, труб
...целью создания точки опоры и обеспечения рабочего поворота ножей, внутри профиля трубы, между внутренними обращенными одна к другой сторонами ножей, помещен ролик 8. Для удержания последнего между ножами применены две, расположенные по обе стороны ролика, винтовые пружины 9.Прореза ние продольных пазов в трубах производится одновременно двумя д 11 амет 1 ральнс-прстивспсло 1;- ными нокам 114 или 7.В первом варианте (фиг. 1) давление, создаваемое прессом или96570 Фиг. 1 вручную, передается на свободные концы ножей 4, которые поворачиваются вокруг осей 5 и своими режущими кромками оказывают режущее действие на стенки трубы с внешней стороны. Процесс прорезания пазов продолжается по мере продвигания оправками вдоль трубы.Во втором варианте...
Способ пайки полупроводниковых кристаллов с корпусами приборов
Номер патента: 1013155
Опубликовано: 23.04.1983
Авторы: Зверев, Кузнецов, Мурашов, Петрова, Цывин
МПК: B23K 1/20
Метки: корпусами, кристаллов, пайки, полупроводниковых, приборов
...толщине слой стекла, который вдальнейшем выполняет роль припояпри соединении кристалла с основанием корпуса.. Процесс изготовления слоя стеклав этом случае прост, технологичен,универсален, исключает отходы, егопродолжительность не превышает 1020 с и определяется толщиной слоя,концентрацией суспензии и напряжением на электродах,На чертеже показана электро-химическая ячейка для нанесения слоястекла на пластине полупроводника,снабженного сильнолегированным слоем р+ или и+ типа./П р и м е р. В процессе изготовления. структур на пластине 1 из кремния и+ типа с р =7,5 Ом см на обРатной стороне одним из известных методов (диффузия, ионное легирование)создают сильнолегированный слой 2 р+типа с поверхностной концентрациейй =1101...
Устройство для измерения продольных и угловых деформаций
Номер патента: 482616
Опубликовано: 30.08.1975
Авторы: Лосев, Писаренко, Полевой
МПК: G01B 7/16
Метки: деформаций, продольных, угловых
...связанас корпусом 11, а тяга 8 посредством кониче. ского ролика 23, шлицевого соединения 24 и зубчатой передачи,25 - соответственно с якорем 15 преобразователя линейных деформаций и с якорем 16 преобразователя угловых деформаций.Измерение деформаций устройством производится следующим образом.В исходном состоянии корпус 11 и ползун 14 отводятся в крайние положения до упора соединенных с ними контргрузов 5, 6 в ограничители 9 хода и удерживаются в этом положении до соединения тяг 7, 8 с рычагом 22 и с ползуном 14. Для этой цели оси шлицевого соединения 24 и рычага 22 совмещаются с осями отверстий в кронштейнах 19, 20, а тяги 7, 8 вводятся в соответствующие гнезда и закрепляются. После выполнения этой операции контргрузы 5, 6 освобождаются...
Тензометр для измерения продольных и угловых деформаций
Номер патента: 1145240
Опубликовано: 15.03.1985
МПК: G01B 5/30
Метки: деформаций, продольных, тензометр, угловых
...продольного и углового смещения, и датчики угловой и продольной деформации, одни концы каждого из которых жестко связаны с первым кольцом 2 .30Однако данным тензометром нельзя достичь высокой точности измерений вследствие наличия конструктивных зазоров, которые необходимы для обеспечения возможности взаимного перемещения элементов тенэометра.35Целью изобретения является повьшение точности измерений.Указанная цель достигается тем, что тензометр для измерения продольных и угловых деформаций, содержащий два кольца с подпружиненными опорами, предназначенными для установки на образец, связанные между собой с возможностью взаимного продольного и углового смещений, и датчики угловой и продольной деформаций, одни концы каждого из...
Тензометр для измерения продольных и угловых деформаций
Номер патента: 1337647
Опубликовано: 15.09.1987
Автор: Лодус
МПК: G01B 5/30
Метки: деформаций, продольных, тензометр, угловых
...осевой деформации и зависят от шага пазов 11и 12. При таком повороте барабановпроисходит смещение пиков записи сигналов датчиков 5 и 6 относительнопиков записи сопротивления датчика15. Взаимное смещение пиков датчиков5 и 6 отсутствует. Смещение пиковдатчиков 5 и 6 относительно пиковдатчика 15 пропорционально осевойдеформации образца и определяется сучетом шага пазов 11 и 12.При появлении угловой деформацииобразца 4 происходит взаимное угловоесмещение колец 1 и 2. Угловые повороты колец 1 и 2 посредством роликов 13 и 14 выражаются во взаимномповороте барабанов 9 и 10. Щетки датчиков 5 и 6 смещаются друг относительно друга, что приводит к взаимному смещению пиков на линиях записидатчиков 5 и 6, По величине этогосмещения пиков с учетом...
Предыдущий патент: Перемычка для соединения тонко-пленочных элементов микросхем
Следующий патент: Способ механической обработкизаготовок
Случайный патент: Способ выбора изоляционного материала для покрытия заземленного электрода электрокоронного сепаратора