Способ измерения неоднородностей динамического магнитного поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 785818
Автор: Ефис
Текст
е7О П И С АНИ Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Сфвз Советскии Социалистнчеснив Республик(61) Дополнительное к авт. саид-ву(22) Заявлено 20. 07. 78 (21) 2 б 47116/18-21с присоединением заявки йф -(23) Приоритет -Опубликовано 07,1280, Бюллетень 89 45Дата опубликования описания 091230 КзС 01 Й 33/08 Государственный комитет СССР но дедам нзобретеннй н открцтнй(72) Автор изобретения Ю. М. ЕФис Ордена Трудового Красного Знамени Специальноеконструкторское бюро аналитического приборостроенияНТО АН СССР(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ ДИНАМИЧЕСКОГО МАГНИТНОГО ПОЛЯ Изобретение относится к области магнитных измерений, в частности копределению дополнительной неоднородности магнитного полк в межполюсном зазоре электромагнита, появляющейся в результате, например, вихревых то ков в сердечнике электромагнита или конструктивных элементах, ломен 1 енных в зазоре, т.е. предлагаемый способ позволяет определить топограФию ди- те намического магнитного поля на задан" ной наряженности и скорости развертки магнитного полн.Известен также способ измерения малых неоднородностей статических т 5 электромагнитных полейьН методом двух датчиков ядерного резонанса (ЯИР), при котором один датчик остается неподвижным, а второй перемещается по межполюсному зазору магнита Ц , 36Сигнал периФерийного датчика совмещается с сигналом центрального путем питания катушки Гельмгольца периФерийного датчика измеренным постоянным компенсационным током прн пе-йэ ременном питании катушек Гельмгольца двух датчиков развертывающим током.Такой способ позволяет измерить неоднородность постоянного магнитного поля, но не предназначен для измереник малых неоднородностей динамического магнитного поля.Целью изобретения является повышение точности измерения,Достнгается зто тем, что в способеизмерения неоднородностей динамического магнитного поля, основанном наиспользовании двух датчиков ядерногомагнитного резонанса, определяют разность во времени выхода сигналов двухдатчиков, калибруют эту разность в ди"намическом режиме путем подачи наодин из датчиков дополнительного постоянного магнитного поля и определяютвеличину дополнительного магнитногоноля в статическом режиме.На чертеже представлена схема реализации предложенного способа.К измерителю магнитной индукции 1параллельно подключают высокочастотные обмотки 2 и 3 двух датчиков, которые вместе с конденсатором 4 составляют входной колебательный контур ЯИРсигнала. На измерителе магнитной индукции 1 устанавливается частота,соответствуюшая такой индукции постоянного магнитного поля, на которойснималась карта постоянного магнитного поля, Частота контролируется электронным частотомером 5.785818 8836/50одписное При развертке электромагнитного ля ипои совпадения индукции электромагнитного поля с ЯМР частотой измерителя магнитной индукции 1 возникают с налы оют си гот обоих датчиков, а при наличии неоднократности магнитного поля эти сигналы возникают в разное время.Регистрация сигналов ЯМР осуществляется только при возрастающем или только при.убывающем магнитном поле, Сигналы обоих датчиков с измерителя магнитной индукции 1 поступают на ф вход шлейфного осцилографа 6. На ленте шлейфного осцилографа б определяется расстояние между сигналами, которое пропорционально неоднородности магнитного поля. Перемещая перифе- э рийный датчик относительно центрального и включая одну и ту же скорость развертки магнитного поля можно снять карту магнитного поля как разницу рас стояний на ленте шлейфного осцилогра- р фа между сигналами обоих датчиков.ОЕсли через обмотку 7=1 (7-2) пропустить ток, измеренный прибором 8Ю то дополнительное постоянное магнитное поле обмотки сместит сигнал датчика на ленте шлейфного осицлографа б на расстояние, равное величине введенного дополнительного магнитного поля.Н а постоянном электромагнитном поле можно найти зависимость дополнитель- ЗО ного магнитного поля обмотки от протекающего через обмотки тока, например, следующим методом.В зазоре электромагнита 9 устано вить наименьшую индукцию магнитного 35 поля; затем найти сигнал ЯРМ и уста"ановить его в центре экрана осцилог аф б. Частотомером 5 измерить ЯРМ часр тоту измерителя магнитной индукции Еот источника постоянного напряжения10 подать постоянный ток, измерен 40 ный прибором 8, при этом произоидет смещение сигнала ЯРМ; изменяя частоту измерителя магнитной индукции 1, вновь установить сигнал ЯРМ в центре экрана осцилографа б. Измерить ча томе ром 5 частоту измерителя магнитрить частоной индукции 1; определить разницу иежду полученными частотами. Через постоянную перечислить частоту в индукцию электромагнитного поля, а затем найти зависимость дополнительного магнитного поля от тока, протекающего через обмотку 7=1 (7-21.Сравнивая карты динамического с татического электромагнитных полей,го и можно определить участки в межполюсном зазоре электромагнита, где ухудшается неоднородность электромагнитного поля, например, из-за вихревых токов. Знание таких участков позволяет выявить причину появление дополнительной динамической неоднородности электромагнитного поля..Формула изобретения Способ измерения неоднородностейдинамического магнитного поля, основанный на использовании двух датчиков ядерного магнитного резонанса,отличающийся тем, что,с целью повышения точности, определяютразйость во времени выхода сигналовдвух датчиков, калибруют эту разноств, истьдинамическом режиме путем подачина один из датчиков дополнительногопостоянного магнитного поля и определяют величину дополнительного магнитного поля в статическом режиме.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССРР 231197, кл. 6 01 Р 33/08, 1967. Филиал ППП Патентг. Ужгород, ул. Проектная,4
СмотретьЗаявка
2647116, 20.07.1978
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ СПЕЦИАЛЬНОЕ КОНСТРУКТОРСКОЕ БЮРО АНАЛИТИЧЕСКОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ НТО АН СССР
ЕФИС ЮРИЙ МОИСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/08
Метки: динамического, магнитного, неоднородностей, поля
Опубликовано: 07.12.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-785818-sposob-izmereniya-neodnorodnostejj-dinamicheskogo-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения неоднородностей динамического магнитного поля</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов
Следующий патент: Проточный измерительный зонд
Случайный патент: Вьюрок для ложного кручения нити