Способ измерения диэлектрической проницаемости

Номер патента: 749799

Авторы: Матис, Слава

ZIP архив

Текст

Союэ СоветскикСоциалистическикРеслублик ОП ИКАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 749799 Ф(51) М. Кл. э б 01 К 27/26 Гфаударетаеааый камитет Опубликовано 23.07.80. Бюллетень 27Дата опубликования описания 28.07.80пв делам нзобретеннй м открытнй(72) Авторы изобретения И. Г. Матис и Х. Э. Слава Институт механизации полимеров АН Латвийской ССР(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОИ ПРОНИЦАЕМОСТИИзобретение относится к технической физике, а именно к способам измерения диэлектрической проницаемости.Известен способ измерения диэлектрической проницаемости твердых неметаллов, основанный на экранировании при помощи охранных электродов основного рабочего электрического пола 1.Известен также способ измерения диэлектрической проницаемости, включающий помещение контрольного образца межлу электролами наклалного конденсатора 2.Недостаток обоих известных способов - сравнительно большая погре 1 цность измерений.Цель изобретения - повышение точности измерений.Для достижения поставленной цели промежуток между электродами и контрольным образцом заполняют жидкостью, изменяют диэлектрическую проницаемость жидкости и расстоя ние между обкл алка ми до достижения обратно пропорциональной зависимости. между емкостью коцленсатора и этим расстоянием и по величине лнэлектрической проницаемости жилкости сулят об измеряемой вел и чи не. 2На чертеже схематически изображенопредлагаемое устройство.Жестко скрепленные между собой электроды 1, 2, 3 накладного конденсатора, подключенные к измерителю 4 емкости, устанавливают на определенном расстоянии Ьнад поверхностью контролируемого образ.ца 5 и пространство межлу ним и электродами 1 - 3 заполняют жидкостью 6. Меняярасстояние между поверхностью контролируемого образца 5 и электродами на вели 10 чину ЛЬ, измеряют закон изменения емкости. Если при удалении (или приближении)электродов изменение емкости будет иным,чем обратно пропорционально расстояниюмежду электродами и поверхностью контролируемого образца, то диэлектрическую проницаемость жилкости изменяют путем изменения соотношения ее компонентов.Эту операцию продолжают до получениязакона изменения емкости при перемененинэлектродов обратно пропорционально рас.стоянию между электролами и контролируемым образцом,При достижении такого закона измене.ния емкости опрелелнют лиэлектри некуюпроницаемость жидкости олццм из стацларт749799 Формула изобретения Составитель А. Ми Техред К. Шуфрич Тираж 1019 дарственного коми изобретений и от Ж- . 35, Рву шскаянтэ, г. Ужгорол,ков елактор И.Мырлинааьаз 448/61 11 ИИ Корректор В. СиницкаяПодписноетета СССРкрытийнаб., д. 4/5л. Проектная, 4 ПИ Гос по делам 11 З 035, Москва 1 илиал 11 П Патных методов, Определенная таким образом диэлектрическая проницаемость жидкости равна диэлектрической проницаемости контролируемого образца, так как только при равенстве диэлектрических проницаемостей жидкости и контролируемого образца на- блюдается закон изменения емкости при перемещении электродов обратно пропорционально расстоянию между электродами и поверхностью контролируемого образца.Г 1 редлагаемый способ, не ограничивая диапазона измерений, обеспечивает точность определения диэлектрической проницаемости на порядок выше известных способов. Способ измерения диэлектрической проницаемости, включающий помещение конт. рольного образца между электродами наФ кладного конденсатора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, промежуток между электродами и контрольным образцом заполняют жидкостью, изменяют диэлектрическую проницаемость жидкости и расстояние между обкладками до достижения обратно пропорциональной зависимости между емкостью конденсатора и этим расстоянием и по величине диэлектрической проницаемости жидкости судят оо измеряемой величине.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Бугров А. В., Дудкин Н. И. и Масленников И. М. Накладной емкостной преобразователь с охранным электродом. Измерительная техника, 1976,7, с. 27 - 28,2, 2 цЬГс 14 1, К., Соп 1 гоИпд йе Еес 1 пс Вед о 1.оМгес 1 цепеу Е 1 еч 1 гЧ Мопдез 1- гцс 1 ке Тезипд Вечсев Ргос. о 1 Ве 5-й 1 п 1 егпа 1 опа Соп 1 егепсе оп Хопдез 1 гцс 1 ке Тезипд, Моп 1 геа 1, 19 б 7.

Смотреть

Заявка

2437838, 03.01.1977

ИНСТИТУТ МЕХАНИКИ ПОЛИМЕРОВ АН ЛАТВИЙСКОЙ ССР

МАТИС ИМАНТ ГУСТОВИЧ, СЛАВА ХАРАЛД ЭДГАРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрической, проницаемости

Опубликовано: 23.07.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-749799-sposob-izmereniya-diehlektricheskojj-pronicaemosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения диэлектрической проницаемости</a>

Похожие патенты