Устройство для определения видимости дороги

Номер патента: 629447

Опубликовано: 25.10.1978

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/30

Метки: кривизны, местных, оптических, ошибок, поверхностей, радиусов

...схема предла 1 аемого устройства. 20Оно содержит источник 1 излучения,осветительную систему 2 юстируемуюплатформу 3 для крепления контролируемой детали, эталонное зеркало 4, рассеивающую пластину 5, светоделнтель 6, пространственный модулятор 7 излучения,наблюдательную систему 8. Индексом 9обозначена контролируемая деталь,Х У,- оси координат, где ось У перпендикулярна к плоскос 1 и чертежа. 30Устройство работает следующим обИзлучение от источника 1 излучениячерез осветительную систему 2 светоделитель 6 и рассеивающую пластину 5 одновременно освещает эталонное зеркало4 и контролируемую деталь 9.Предварительно получают пространственный модулятор 7 излучения путем регистрации через рассеивающую пластину5 голограммы...

Номер патента: 1670390

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Бубис, Долик, Образцов, Подоба, Серегин, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения, сферических

...пластинку 5 рассеивается, образуя расходящийся рабочий пучок, который освещает образцовое зеркало 6 и контролируемые зеркала 7 и 8. Отразившись от всех зеркал, рабочий пучок возвращается к рассеивающей пластинке 5, проходит через нее и интерферирует с опорной сферической волной. Интерферометр 1 перемещают к центру кривизны образцового зеркала до появления на его поверхности прямых интерференционных полос, Подвижками контролируемых зеркал 7 и 8 выравнивают длины хода опорного пучка и частей рабочего пучка для каждой поверхности до появления на всех поверхностях в белом свете интерференционных полос максимально возможного контраста с одинаковой частотой и ориентацией. После этой операции контролируемые поверхности пересекают...

Номер патента: 1436631

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Банах, Булдаков, Глушков, Покасов

МПК: G01N 21/01

Метки: волнового, кривизны, лазерного, пучка, радиуса, фронта

...и турбулентности. Расчеты проводились для наиболее типичных характеристик пучка с повышенной энергией излучения и параметров ее приемопередающего тракта. Длина волны 8 10 см, радиус кривизны волнового фронта Р от 10 м до бесконечности, параметр нелинейности варьировался от 10 до 10 , структурная характерис 3 тика флуктуаций диэлектрической прони" цаемости воздуха последовательно задавалась от 10 мдо 10мэффективные радиусы передающей и приемной апертур 0,5 м, расчеты проводились для плоскости резкого изображения. В результате проведенных расчетов установлено, что при дальностиприема меньшей длины В и нелинейности (Ь ( К) максимальное значение интенсивности принимаемого сигналауменьшается на 5% вследствие влияния теплового...

Номер патента: 729439

Опубликовано: 25.04.1980

Авторы: Балясников, Балясникова

МПК: G01B 11/255

Метки: кривизны, поверхности, радиуса, цилиндрической

...определяют ее кривизну с использованием соотношения: где е,"- ширина изображенной наэкране освещенной зоны пверхностиЬ - ширина щели;Я - расстояние от плоскостищели до экрана;Н - радиус крИвизны цилиндрической поверхностиИзобретение поясняется чертежна котором дана схема устройствадля измерения радиуса кривизны иверхности по предлагаемому спосо729439 ФоРмула изобретения О.Шилкирейко ставител хред О.Ан орректор О. КовинскР Редакто агова Под комитета СССР иоткрытий ушская наб., акаэ 1248/35цНИИПИ Росудпо делам113035, Мос Тираж 801рственногоэобретенийа, Ж, Р но Филиал ППП Патент, г,ужгород, ул,Проектная Щель 1 с фиксированным расстоянием Ь между кромками ножей устанавливают на фиксированном расстоянии Я от экрана 2, На экране...

Номер патента: 1293484

Опубликовано: 28.02.1987

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...методом с использованиемплоского зеркала 2. Излучение с помощью измеряемого объектива 1 фокусируют на поверхность плоского зеркала 2, Фиксируют положение А плоского зеркала, смещают.его по направлению к измеряемому объекту до положения А 9 при котором происходит фокусировка излучения в вершину поверхности объектива 1, обращенной к плоскому зеркалу 2, Величину Б объектива 1 фопределяют как: Б:. 2 А - А",/,Затем плоское зеркало 2 заменяют на деталь 3, радиус кривизны выпуклой поверхности которой требуется измеРить. С помощью объектива 1 фокусируют излучение в вершину измеряемой поверхности детали, при этом фиксируют положение А детали. Затем смещают деталь 3 по направлению к объективу 1 до положения, при котором излучение...