Способ измерения параметров шероховатости поверхности электропроводных изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик(и)587319 Дополнительно авт. свид-ву 2) Заявлено 11.75(21) 2 51) М. Кл.т 01 В 7/З 4 955 присоединением заявки Государственный иомитв Совета Министров СССР ло делам иаобрвтвний и отирмтнй(45) Дата опубликования оп ания 11.01.7 2) Лвторь Крутецкий, Т.Я. Рябова,г 4 Е.Н. Фролова 71) Заявитель 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к измерению параметров шероховатости паверхнас" ти при помощи электрических методов и мажет быть использована для опреде" ления углов наклона мнкранеравнастей и полной реальной площади шероховатой поверхности.Известны диФФеренциальные и интегральные способы измерения параметров шероховатости и реальной площади поверхности. Дифференциальный меха" ннческий способ снятия профилаграмм поверхности используется в выпуска" емых серийно прафнлаграфах-профиламетрах. Соответствующая обработка получаемых на этих приборах профилограмм позволяет вычислять различные параметры шероховатости, в там числе и углы наклона микронеравнастей, и реальную площадь поверхности. Однако этот способ имеет малую разрешающую способность, определяемую радиусом закругления щупа 1 мкм, Интегральными способами определения параметров шероховатостей поверхностей являются способы, основанные на адсорбционном методе и позволяющие определять полную площадь шероховатой поверхности. В этом методе используется явление адсарбции молетонковерхносе служит ано-автоэмиссиио сверхтонкокроострий садом, с ис З 0 го ас зобретения Е,Е, Ковалев, И,А.Д. Тереха,кул газа или ионов водорода,реагирующее на микрорельеф поти 1,Ограничением этого метода являет 5 ся применимость к ограниченному числу металлов и анизотропия адсорбционных свойств по поверхности исследу"емога металла. Это связано с тем, чтосуб- н мнкровыступы, определяющие0 параметры шероховатости и полную реальную площадь, обладают значительноболее высокой адсорбционной способностью, чем гладкие участки.Известен также способ измерения5 параметров шероховатости поверхностиэлектраправодных иэделий, заключающийся в том, что помещают измеряемоеизделие в вакуумную камеру с измерительным электродом, устанавливают иэ 20 мерительный электрод на фиксированномрасстоянии от измеряемой поверхности,подключают иэделие и иэмерительннвийэлектрод к разным полюсам источникапитания и по величине тока автоэлен.5 тронной эмиссии судят о параметрахшероховатостит.2,1.В этом способе иэделит.е, измеряется токкусственно соэданногтрия,а не суб- и ми
СмотретьЗаявка
2173955, 19.09.1975
СЕВЕРО-ЗАПАДНЫЙ ЗАОЧНЫЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ, ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-3182
КОВАЛЕВ ЕВГЕНИЙ ЕВГЕНЬЕВИЧ, КРУТЕЦКИЙ ИРИНАРХ ВАСИЛЬЕВИЧ, РЯБОВА ТАМАРА ЯКОВЛЕВНА, ТЕРЕХОВ АЛЕКСЕЙ ДМИТРИЕВИЧ, ФРОЛОВА ЕЛЕНА НИКОЛАЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01B 7/34
Метки: параметров, поверхности, шероховатости, электропроводных
Опубликовано: 05.01.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-587319-sposob-izmereniya-parametrov-sherokhovatosti-poverkhnosti-ehlektroprovodnykh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров шероховатости поверхности электропроводных изделий</a>
Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей
Номер патента: 987381
Опубликовано: 07.01.1983
Авторы: Обрадович, Попов, Солодухо
МПК: G01B 11/30
Метки: параметров, поверхностей, рефлектометр, сверхгладких, шероховатости
...под углом 8, отличным от угла В зеркального отражения, и под углом 9, отличным от углов 8 и 8, нейтральные светофильтры 13- 15, электронно-измерительный блок обработки сигналов, включающий селективный нановольтметр 16, переключатель 17, блок 18 интерфейсных плат и микропроцессор 19, зеркало 20.Рефлектометр работает следующим образом.ЗОПучок монохроматического излучения,выходящий иэ лазера 1, модулируетсямодулятором, представляющим собойжидкокристаллическую .ячейку 2 с поляризатором 3, и оптической системой 5 З 5направляется под острым углом 91 наизмеряемую поверхность, Отраженное втрех направлениях излучение, пройдя через нейтральные светофильтры 13-15,попадает на приемники 7-9 излучения 40с диафрагмами 10-12, расположеннымив...
Способ определения площади шероховатой поверхности электропроводных изделий
Номер патента: 875208
Опубликовано: 23.10.1981
Авторы: Гунько, Клинков, Платонов
МПК: G01B 7/32
Метки: площади, поверхности, шероховатой, электропроводных
...из любогоэлектропроводного материала, напримермолибдена, и измерительный электродэталон 4, изготовленный также иэ любого электропроводного материала, например молибдена, поверхность которого обработана по наивысшему клаСсучистоты. Поверхность контролируемогоизделия 3 размещают на фиксированномрасстоянии от поверхности измерительного электрода-эталона 4, величинакоторого зависит от давления парацезия при нпуске его в вакуумную камеру 1 и не должна превышать длинусвободного пробега электронов.Подключают контролируемое изделие3 и измерительный электрод-эталон 4к разным полюсам источника питанияпостоянного тока.Через вентиль 7 производят вакуумирование камеры 1 до давления меньше 510 мм рт. ст., после чего вакуумную камеру 1,...
Способ определения площади шероховатой поверхности электропроводных изделий
Номер патента: 991148
Опубликовано: 23.01.1983
Авторы: Вязников, Клинков, Платонов
МПК: G01B 7/32
Метки: площади, поверхности, шероховатой, электропроводных
...атомов материала с низкой работой .выхода, перекрываемый заслонкой б и системой формирующих диафрагм 7, Над поверхностями измеряемого изделия 3 и эталонного электрода 4 размещены измерительныеэлектроды 8.Вакуумирование камеры 1 производятчерез вентиль 9, а впуск пара через вентиль 1 О из источника 11 пара, установленногов нагревательную печь 12 с термопарой 13контроля температуры.Способ определения площади шероховатойповерхности электропроводных изделий осуществляется следующим образом.Поверхности измеряемого изделия 3 и эталонного электрода 4 устанавливают напротивисточника 5 пучка атомов материала с низкойработой выхода, который закрывают заслонкой б. Через вентили 9 и 10 вакуумируютобъем вакуумной камеры 1 и объем источника 1 пара...
Способ бесконтактного определения параметров шероховатости поверхности
Номер патента: 1608426
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Арманд, Карпов, Суровегин
МПК: G01B 11/30
Метки: бесконтактного, параметров, поверхности, шероховатости
...ширинашероховатости;Н - высота приемника, передатчика.1 ри малых углах 9 , где 9 " Дгде тобы можно было пренебречь ошибдискретиэации, должно выполнятьсявие кой усл Д сс сц) с 1) сСКВ ) - среднеквадратичный тангенс угла наклона. 50(10) где словие (6) означает, что в предеинтервала дискретизации угол расия в точку приема меняется несувенно и Функция распределения тически постояйна. Выполнения уся (6) можно всегда добиться над-щим выбором высоты приемника (пелах сея щесепралов леж(5) При этом должно выполняться услот.е. если имеют место (6) и (7), ошиб-.кой дискретизации можно пренебречь.В реальных ситуациях значение среднеквадратичного тангенса угла наклона Сйд 6 много меньше единицы, так 15что ( Сд 9Я тогда нормированО%ная огибающая,...
Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел
Номер патента: 1272108
Опубликовано: 23.11.1986
Авторы: Витенберг, Терехов, Торчинский
МПК: G01B 11/30
Метки: анизотропных, металлических, параметра, поверхностей, рефлектометрический, тел, шероховатости
...корреляции, среднего угла наклона боковых сторон неров"ностей, среднего шага неровностей,а также за счет исключения при измерении эталонных образцов.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующегопредлагаемый рефлектометрическийспособ,Устройство содержит источник 1 монохроматического света, поляризатор2, приемник 3 зеркально отраженногосвета, регистрирующую аппаратуру 4,угловую шкалу 5.Рефлектометрический способ измерения шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел осуществляют следующим образом, 30На контролируемую шероховатую поверхность б из источника 1 монохроматического света через поляризатор2, поляризующий свет в вертикальнойплоскости, направляют световойоток 35с длиной волны известной...
Предыдущий патент: Индукционный бесконтактный датчик угла
Следующий патент: Двухлучевой интерферометр для измерения перемещений объекта
Случайный патент: Электрическая печь для переработки шлаков