Способ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП И САН И Е 1 щ 57859 Сотов Советских Социалистических Республикт. свид-в ополнитель 51) М. Кл,с 6 01 В 7/06Ст 01.ч 27,02 22) Заявлено 05.11.73 (21) 1967181/25-2 заявки М с присоединени 3) Приоритет3) Опубликовано 30.10.77. Бюллетень М Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретенийи открытий 3) УДК 620,179,14) Дата опубликования описан: 72) Авторы изобретени Л, Н иков и Ю. В, Корнюшин нститут металлофизнки АН Украинской ССР) СПОСОБ КВАЛИМЕТРИИ ПОВЕРХНОСТНЬ Л О ЕВ ЭЛ ЕКТРО П РО ВОДЯ Щ 11 Х МАТЕРИАЛО Цель изобретения - повышение ности контроля,Для этого создают в поверхност распределенный прямоугольный ко так, что его ширина превосходит лее чем в десять раз, определяют ный параметр ств, не нарушантроля, и может оля качества пооводящих матетоверИзобретение касается сред ющих структуры объектов ко быть использовано для контр верхностных слоев электропр риалов. ых слоях тур тока длину бо- обобщенД 21Я (ч) ) вл и из- чения оторой этот значения на ют второй п спо оста- спо- верх- ериа- ЗО ерность контроля этим в без диэлектрика нед ые зависимости в этом ы в случае контроля по лектропроводящих мат Однако достов собом материало точна. Полученн собе неоднозначн ностных слоев э ,пов. том, чтоладываютэлектрода,аз превыИзвестен способ контроля качества (квалиметрии) электропроводящих материалов, заключающийся в том, что через определенный участок материала пропускают токи различных частот и по величине тока судят о ре О зультатах контроля 1.Однако достоверность контроля качества таким способом недостаточна, так как зависимость величины тока от электрофизических свойств определяется эмпирически для задан ной частоты тока.Наиболее близким к изобретению является способ контроля качества диэлектрических слоев на изделиях нз электропроводящих материалов, для чего контролируемую поверх ность контактируют с электродами, через которые пропускают токи различных частот, и по их параметрам судят о результатах контроля. где Я (то) - величина полного сопротния на частоте и;ЛР (о) - изменение сопротивления прмененпп частоты от максимального знао 1 до минимального - то;измеряют частоту тока отз, на кпараметр отличается от своегочастоте от, на 5 - 20%, определяобобщенный параметрр.:з(.,) Л (;з)сравнивают обобщенные параметрырезультатам сравнения судят о качествеверхностных слоев.Сущность способа з"ключастся вна контролируемый материал накдва протяженных параллельныхдлина которых более чем в десять ршает расстояние между ними."з Формула изобретения Составитель А. Духаиии Тск 1 зсд Л. Гладкова Корректор Л. Орлова Редактор О. Юркова Заказ 2416/10 Изд. М 878 Тираж 907 НПО Государственного кого тета Соьита Министров СССР по дели и ииобрстсиий 1 и открь.тий 113035, Москва, Ж, 1 заушская иаб., д. 4/5Подписное Типография, пр. Сапунова, 2 При этом создается прямоугольный контур тока, ширина которого более чем в десять раз превосходит длину. Электроды подключают к схеме измерения полного сопротивления на различных частотах тока.Измеряют сопротивления на заданном минимальном со 2 и максимальном в, значениях частот Я (аг) и Р (о 1). Определяют изменение сопротивления для этого интервала ЬЛ (го), Затем измеряют частоту жз, на которой обобщенный параметр1 г (,)г (г, ) отличается на 5 - 20, определяют второйобобщенный параметр и затем сравнивают полученные обобщенные параметры д и Ь. Эти параметры корректируются с электрофизическими свойствами поверхностных слоев и их толщиной. По этим параметрам может осуществляться одновременный контроль несплошностей в поверхностных слоях и их толщины,Способ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов, заключающийся в том, что контролируемую поверхность контактируют с электродами, через которые пропускают токи различных частот, и по их параметрам судят о результатах контроля, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, создают 5 в поверхностных слоях распределенный прямоугольный контур тока так, что его ширина превосходит длину более чем в десять раз, определяют обобщенный параметрдг (г,),10-Я) где Я (со) - величина полного сопротивления на частоте го;ЛЯ(со) - изменение сопротивления при из менении частоты от максимального значениясо 1 до минимального оз 2;измеряют частоту тока оз, на которой этотпараметр отличается от своего значения на частоте о 2 на 5 - 20 о/о определяют второй 20 обобщенный параметр сравнивают обобщенные параметры и по25 результатам сравнения судят о качестве поверхностных слоев.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Городинский И. А. Магнитные и элсктри 30 ческие методы испытания металлов. М., Госпланиздат, 1940, с. 15.2. Авторское свидетельство СССР Ло 284392,6 01 М 27704 1967
СмотретьЗаявка
1967181, 05.11.1973
ИНСТИТУТ МЕТАЛЛОФИЗИКИ АН УКРАИНСКОЙ ССР
ЛАРИКОВ ЛЕОНИД НИКАНДРОВИЧ, КОРНЮШИН ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/06
Метки: квалиметрии, поверхностных, слоев, электропроводящих
Опубликовано: 30.10.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-578559-sposob-kvalimetrii-poverkhnostnykh-sloev-ehlektroprovodyashhikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ квалиметрии поверхностных слоев электропроводящих материалов</a>
Предыдущий патент: Способ контроля толщины диэлектрических покрытий
Следующий патент: Индуктивно-емкостное устройство для контроля толщины покрытий
Случайный патент: 83264