Способ измерения параметров оптических импульсных сигналов

Номер патента: 577595

Авторы: Аверьянов, Сперанский, Степанов, Чураков

ZIP архив

Текст

Союз Советснин Социалистицескин РеспубликН О 153 Государстеенный намнтет Совета Инннатраа СССР ео делам нэобретеннй н отнрьпнй(45) Дата опубликования описания 15.11,77 2) Авторы изобретен К, П. Аверьянов, Ю. В(71) Заявите 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКИ ИМПУЛЬСНЫХ СИГНАЛОВерения параметров чения, принципна преобразова помощью фото 20 а фЭК).в электриальному кабелю ртки электронно очерез электричеовход отклоняющей 25 Известны способы. изм импульсов светового иэлу действия которых основан нии оптического сигнала с приемника (например, тип ческий, который по коакси поступает на запуск разве трубки (ЭЛТ), а ию задержки - налучевой кую лин Изобретение относится к экспериментальной физике, в частности к разработке метсьдов и средств измерения параметров импуль сов светового-излучения в широком диапазоне длИтельностей.В настоящее времяособенностью экспе римента в лазерной технике, физике плазмы является необходимость регистрации и измерения параметров одновременно существующих нескольких видов излучения, контроль 1 О и измерение параметров и их взаимной временной корреляции имггульсньгх 1 сигналов, распространяющихся Вдоль аттического канала значительной геометрической протяженности 15 системы ЭЛТ, Наблюдаемый на экране ЭЛТсит нал регистрируется фотоприставкой 111,Известен способ измерения параметровоптических импульсных сигналов, распределенных во времени и пространстве, основанный на преобразовании оптических сигналовв электрические с последукяпим их преобразованием в изображения на экранах ЭЛТте фоторегистрацией этих изображений 12.Известные способы измерения параметровимпульсов светового излучения имеют следующие недостатки: невозможность измерения в едином масштабе времени оптическихимпульсных сигналов, распространяющихся;по заданному тракту и разнесенных по времени на величину, значительно превышающуюдлительность сигнала; невозможность взаимной врэмецной корреляции измеряемых в различных точках оптического тракта параметров импульсов; значительные искажения,вносимые трактом передачи преобразованного сигнала, особенно в области наносекундных н субнаносекундных длительностей импульсов,577595 Составитель Ю. КутенинТехред И. Кпимко Корректор А. Гриценко Редактор М. Рогова Заказ 4192/39 Тираж 976 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская набд, 4/5,измерения параметров и создание возможности измерения в едином масштабе времениоптических импульсных сигналов, распространяющихся по заданному тракту и разнесенных во времени на величину, значительнопревышаюшую длительность сигнала,Это достигается тем, что преобразование оптических сигналов в изображении наэкране ЭЛТ осуществляют в контрольных 0точках оптического тракта, формируют единые дня всех ЭЛТ импульс подсвета и импульс развертки, которые передают по алектрически согласованным системам последовательно на каждую ЭЛТ, а время распрось 15ранения импульса подсвета и ,импульсаразвертки до ЭЛТ выбирают равным соответствующему времени распространенияизмеряемого сигнала до той же ЭЛТ.Такой способ измерения параметров 20оптических импульсных сигналов позволяетсоздать .оптимальное соотношение полосыпропускания сигнального тракта и служебных трактов (под служебными понимаютсятракты подсвета, развитки и др.), сушествен 25но расширить полосу пропускания сигнального тракта, что при прочих равных условиях, в первук очередь, определяет временное разрешение системы. Кроме того, этот)способ позволяет на коротких развертках ЗО(Фрогф/яир . 1 О"нсек) работать на "быстрой"компоненте коаксиального кабеля, для чегоформируют импульс подсвета и импульс развертки с амплитудой, равной удвоенномурабочему напряжению коаксиального кабеля. З 5Разработанный по данному предложениюдействующий макет устройства позволяет иямерять параметры импульсов субнаносекуьдной длительности с 1 й й О,3 А 0,1 нсек,рр9 ю40 Формула изобретения Способ измерения параметров оптических импульсных сигналов, распределенных во времени и,пространстве, основанный на преобразовании оптических сигналов в электрические с последуюшим их преобразованием в изображения на экранах электронно лучевых трубок (ЭЛТ) и фоторегистрапией этих иэображений, о т л и ч а ю ц и й с я тем, что, с целью повышения точности изме рения параметров и возможности измерений в едином масштабе времени оптических им пульсных сигналов, распространяющихся по заданному тракту и разнесенных во времени на величину, значительно превышаюшую длительность сигнала, преобразование оптических сигналов в изображения на экране ЭЛТ осуществляют в контрольных точках оптического тракта, формируют единые для всех ЭЛТ импульс подсвета и импульс разверткикоторые. передают по электрически ;огласованным системам последовательно яа каждую.ЭЛТ, а время распространения импульса подсвета и импульса развертки до ЭЛТ выбирают равным соответствующему времени распространения измеряемого сигнала до той же ЭЛТ.Источники информ:.ции, принятые во вни мание нри экспертизе:1, Дрожбин Ю, А. и др. "Двухлучевой осциллографический измеритель импульсов светового излучения ИПЛИзмерительная техника, Мо 8, 1969, с. 172.2. Акимов Ю, А. и др. фМнагоканальная установка для регистрации моноимпульсов рентгеновского и оптического излучениями," Научные труды ВНИИОФИ, вер. В, вып. 2, М., 1973, с, 27.

Смотреть

Заявка

2339670, 26.03.1976

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8584

АВЕРЬЯНОВ КОНСТАНТИН ПЕТРОВИЧ, СПЕРАНСКИЙ ЮРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, СТЕПАНОВ БОРИС МИХАЙЛОВИЧ, ЧУРАКОВ ВАЛЕРИЙ ПАВЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01S 3/00

Метки: импульсных, оптических, параметров, сигналов

Опубликовано: 25.10.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-577595-sposob-izmereniya-parametrov-opticheskikh-impulsnykh-signalov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров оптических импульсных сигналов</a>

Похожие патенты