Конденсор микроскопа
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е п,57 вво 1ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советскии Социалистических Республик.Государственный комитет Совета Министров СССР оо делам изобретений н открытий(45) Дата оп кования описания 03.11.7 2) Авторы изобретен и Н. ев иЛ. Н. 71) Заявительи к зимм чнее к б видимо ра, Оно летовых кроскопах рах яший из двух ного компонен- удовлетворий для видимой Известен конденсор, состо одиночных линз и трехсклеен та 11 . Он имеет не вполне тельное исправление аберраци и ультрафиолетовой областей затрудняет работу с пим,Известен конденсор, состо рех линз ф . Он ахроматиз для видимой области спектра тура 0,64, одна из поверхнос ческая,О та,пектра, ч иден чертеже представлена схе яший из четы со ован тол числовая апертей - асфериса также линзовая систематсос х одиночных положительных ме Извешая из д сков, двухсклеенной положительной линзы отрицательного мениска, причем мениски пухлостью обращены к двухсклеенной 25 Изобретение относ ростроения, в частно сорам микроскопов, т ным конденсаторам дл летовой областиспект применено в ультрафи имикроспектрофотоме линзе 13 . Однако она не применима в длинах волн от 240 до 365 нм, та ахроматизации в )ней сделана тол видимой области спектра,Цель изобретения - увеличение рабочего расстояния с одновременным улучшением коррекции хроматических аберраций. Это достигается тем, что конденсор микроскопа снабжен установленной между двухсклеенной линзой и отрицательным мениском положительной линзой, выполненной из фпюори Конденсор состоит из двух одиночных положительных менисков 1 и 2, двухсклеенной линзы 3, одиночнойположительной линзы 4 и одиночного отрицательного мени ка 5. Мениски 1, 2 и 5 обращены выпукл стью к линзе 3, Линза 4 из флюорита.Особенности конструкции позволяют получить конденсор с хорошей коррекцией а раций для видимой и ультрафиолетовой областей спектра,575601 Составитель М. ЛебедевРедактор О. Филиппова Техред Н. Бабурка Корректор С, ШекмарЗаказ 402ЦНИ итев С О/31 Тираж 628 ИПИ Государственного ком но делам изоб 113035, Москва, Ж, Подписное та Совета Министро ений и открытий ушская наб., д. 4/5илиад ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная Формула изобретения Коиденсор микроскопа безиммерсионный для видимой и ультрафиолетовой областей спектра, содержащий два одиночных положительных мениска, двухсклеенную положительную линзу и одиночный отрицатель ный мениск, причем все менискивыпуклостью обращены к двухсклеенной линзе, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения рабочего расстояния с одноьременным улучшением коррекции хроматических аберраций, он снабжен установленной между двухсклеенной линзой и отрицательным мениском положительной линзой, выполненной из флюорита.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1, Скворцов Г. Е. и др. Микроскопы.Л., "Машиностроение", 1969, стр. 254255, рис. УЩ. 51,2. Скворцов Г. Е. и др, Микроскопы,Л., "Машиностроение", 1969, стр. 254255, рис. УШ,49.3. Авторское свидетельство СССР
СмотретьЗаявка
2376914, 28.06.1976
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681
АНДРЕЕВ ЛЕВ НИКОЛАЕВИЧ, РУНИЧЕВА ЛИДИЯ НИКОЛАЕВНА
МПК / Метки
МПК: G02B 21/08
Метки: конденсор, микроскопа
Опубликовано: 05.10.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-575601-kondensor-mikroskopa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Конденсор микроскопа</a>
Способ контроля формы полированной асферической поверхности положительной линзы
Номер патента: 219793
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Пур
МПК: G01B 11/24
Метки: асферической, линзы, поверхности, полированной, положительной, формы
...положительных линз, которая совместно с контролируемой асферической поверхностью дает безаберрационное изображение источника света, установленного на конечном расстоянии или в бесконечности.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности контроля, на сферическую поверхность линзы па время контроля наносят зеркально отражавший слой.На чертеже дана схема устройства для осуществления описываемого способа.На сферическую или плоскую поверхность 1 линзы 2 наносят зеркально отражающий слой и устанавливают точечный источник 3 света на заданном расстоянии от линзы. Оценку качества поверхности производят при помощи микроскопа 4 теневого или интерференционного устройства, При этом, если первая поверхность линзы...
Способ получения электромагнитных волн, лежащих в видимой части спектра
Номер патента: 2524
Опубликовано: 31.03.1927
Автор: Селезнев
МПК: H03B 15/00
Метки: видимой, волн, лежащих, спектра, части, электромагнитных
...распространяется на 15 лет от 31 марта 1927 года.ПРЕДМЕТ ПАТЕНТА. унио-ннтотрафия Красный Печатник, Ленинтрад, Мендународный/ 7 Б. Для получения электромагнитных волн весьма малой длины предлагается применять ультра - микроскопические или микроскопические металлические частицы, например, ртути, платины, серебра и т. п., взвешенные в виде эмульсии в твердом или жидком диэлектрике, например, в масле, Эти металлические частицы служат вибраторами, которые возбуждаются обычным способом, например, при помощи спирали Румкорфа. Величина частиц такова, что длина их собственной волны или ее гармоники лежит в видимой части спектра,Способ получения электромагнитных волн, лежащих в видимой части спектра, при помощи вибраторов из мелких...
Устройство для контроля фокусных расстояний положительных линз
Номер патента: 892205
Опубликовано: 23.12.1981
Авторы: Заболотский, Подобрянский
МПК: G01B 11/00
Метки: линз, положительных, расстояний, фокусных
...1 с двумя штрихами А и В, два клина 2, 8922051 Па 1=кл Г, и а 1-цгде ЧКи Ч - - углы отклонения свеТПтовых пучков клиньями с инденксамии 1 соответственно; Я - фокусное расстояние объектива.Измеряя расстояние ЬУ между штрихами сетки А и В 1 (фиг. 3 и 4) с помощью окуляра-микрометра или по шкале, помещенной в задней фокальной плоскости объектива, можно определить величину отклонения Фо 40 объектив 3, окуляр-микрометр 4 и контролируемую линзу 5.Контролируемую линзу 5 помещаютмежду сеткой 1 и клиньями 2 так, чтобы сетка 1 находилась в ее переднейФокальной плоскости.Устройство работает следующим образом.Два коллимированных пучка лучейпосле контролируемой линзы, соответствующие двум штрихам А и В сетки 1,отклоняются клиньями 2 и попадают на...
Объектив с переменным фокусным расстоянием
Номер патента: 330413
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Волосов, Кин, Мушкатина, Прокопьева
МПК: G02B 15/167
Метки: объектив, переменным, расстоянием, фокусным
...второй и третий компоненты выполнены соот.ветственно из отрицательного мениска и двух- склеенной линзы и издвух одиночных и расположенной между ними склеенной линзы, и четвертый компонент выполнен из двух склеенных и отрицательной линз. перед ним, с/клеецный блок второго компонента дополнен отрицательной линзой, а третий компонент снабжен размещенной перед цим двухскленной положительной линзой,5 На чертеже представлен описываемый объектив, состоящий из трех компонентов 1, 2, 3 вариатора, два из которых установлены с возможностью перемещения вдоль оптической оси, и неподвижного компонента-корректора 4.10 Компоненты 1 и 2 имеют четырехлицзовыеконструкции. Первый состоит из двухсклеенного 5 и одиночного б менисков и...
Проекционный объектив с увеличением-14
Номер патента: 720394
Опубликовано: 05.03.1980
Авторы: Гуревич, Добощук, Полухин, Цуран
МПК: G02B 11/34
Метки: объектив, проекционный, увеличением-14
...обращенный выпуклостью кплоскости предметов и склеенный иэположительной 3 и отрицательной 4линэр выпО.ненных из баритовогофлинта и крона соответственно сСоотношением Фокусов 1:4,Второй компонент - положительныймениск,. обращенный выпуклостью кплоскости предметов и выполненныйв виде склеенной из г 1 оложительной 5и отрицательной б линз иэ сверхтяжелого крона и тяжелого флинта, разность показателей преломления которых составляе.- 0 0015 для 3 = 436 Н 1а разность дисперсий 20.Третий компонент =- положительныймениск 7, обращенный выпуклостью кг 1 лоскости предметов, выполненный изсверхтяжелого крона с соотношениемрадиусов 1:135.Четвертый хо 1 лпонент " Отрицательный мениск, обращенный выпуклостьюк плоскости предмета я...
Предыдущий патент: Конденсор
Следующий патент: Электрооптический свч модулятор света
Случайный патент: Приспособление для забивки клиньев на молотах и других подобных машинах при креплении рабочих инструментов