Способ обнаружения локальных дефектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Ой ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОЕСКОМ СВИДЮтЮЛЬСТВЮ" 565239 Союз Советских Социалистических Республик.(51) М Государственный комитет Соввта Министров СССР па делам изобретена и открытий(45) Дата опубликования описания 20.10.77 53) УДК 620.179(0, Е. Карпельсон, Ю, А, Попов, Б. А. Красю А. А. Кеткович и В, А. Строков аявитель ЕКТ 54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий и может быть использоэано преимущественно для обнаружения локальных дефектов листовых материалов.Известны способы обнаружения дефектов, состоящие в местном или равномерном нагреве поверхности и регистрации температурных изменений объекта. При этом о наличии тепловых дефектов судят по отклонению температурного отклика от нормального значения 111.Ближайшим техническим решением к предлагаемому изобретению является способ обнаружения дефектов типа нарушения оплошности в многослойных системах, по которому при нагреве одной из поверхностей системы о наличии дефекта судят по отклонению температуры поверхности над участком расслоения от поверхностной температуры бездефектной области 121.Недостатком этого способа является невозможность исключения влияния локального изменения толщины изделия на результаты контроля.Изменение толщины,на каком-либо участке приводит к изменению поверхчостной температуры на этом участке по сравнению с обычными областями: В результате по темпе. ратурному рельефу невозможно определить 2причину возникновения температурного перепада и отличить область отслоения от области изменения толщины изделия.Для повышения точности и эффективности 5 определения типа дефектов по предлагаемому способу после начального нагрева изделия и регистрации температурного распределения повторно нагревают изделие с противоположной,стороны и регистрируют, распределение 10 температуры нагретой поверхности, а затемпо результатам сравнения двух полученных температурных рельефоэ судят о наличии нли дефекта типа нарушения сплошности, или локального изменения толщины изделия.15 В качестве примера реализации на фиг. 1и 2 показаны схемы реализации предлагаемого способа и температурные поля, полученные последовательно при нагреве изделия 1 с одной и другой стороны источииком нагре ва 2 и регистрации радиометром 3. Видно,что температурный всплеск в зоне дефекта типа нарушения сплощности 4 выявляется на обеих термограммах однотипно, а дефекты типа локального изменения толщин 5 и 6 25 имеют специфический отклик на термограмме в зависимости от положения источника нагрева относительно изделия.Использование данного способа тепловой 30 дефектоскопии облегчает как соэершенство565239 3ванне технологии изготовления изделий, таки устранение дефектов готовой продукции. Способ обнаружения локальных дефектов изделий посредством поверхностного нагрева изделий и регистрации распределения температур на поверхности, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности и эффектив ности определения относительного типа дефиг. 1 Составитель В. Вериогродский Техред 3. Тараиенко Корректор Л, Котова ии едактор Заказ 6249 535 Тираж 1109го комитета Совета Министр1 изобретений и открьпийа, Ж.35, Раушская наб д. 4/ Поди исноСССР 1 ПО Государстве ио дел 113035, МосквМОТ, Загорский филиал Формула изобретения фектов, нагрев осуществляют последователь.но с одной и другой стороны изделия, регистрируют температурные поля и путем сопоставления результатов измерений раслреде.5 лений температур на поверхности судят о ло.кальных дефектах изделий,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Экспресс-информация Надежность иконтроль качества, вып, 48, реф. 359, 1974.2. Дефектоскопия,5, стр. 118, 1973.
СмотретьЗаявка
2083600, 17.12.1974
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6303
КАРПЕЛЬСОН АРКАДИЙ ЕФИМОВИЧ, ПОПОВ ЮРИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, КРАСЮК БОРИС АНАТОЛЬЕВИЧ, ХУЛАП ГРИГОРИЙ СЕМЕНОВИЧ, КЕТКОВИЧ АНДРЕЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, СТРОКОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектов, локальных, обнаружения
Опубликовано: 15.07.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-565239-sposob-obnaruzheniya-lokalnykh-defektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения локальных дефектов</a>
Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий
Номер патента: 744301
Опубликовано: 30.06.1980
Авторы: Басов, Белокур, Гаврилин, Дайкер, Конаш
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектов, обнаружения, поверхностных, подповерхностных
...плотности вихревых токов на этихучастках.В районе дефекта происходит концентрация магнитного поля, вследствие чего удельная плотность вихревых токов становится вьпае, Большей плотности вихревых токов при прочих равных условиях соответствует и большая температура в нагреваемом участке.Задача повышения чувствительности способа сводится к обеспечению максимальной неравномерности плотности вихревых токов в местах дефектов,Максимальная неравномерность плстности вихревых токов в местах дефектовдос тига ется лишь в том случае, когдатолщина прогрева равна глубине преимущественного залегания дефектов(толщина слоя, подлежащего контролю)Градиент температур на поверхности заготовки между дефектными и бездеФектными участками может достигать...
Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий
Номер патента: 1004847
Опубликовано: 15.03.1983
Авторы: Белокур, Владыченский, Гаврилин, Луфт, Марченко, Плинингер
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектов, обнаружения, поверхностных, подповерхностных
...чтобы уменьшить количества переданного вглубь заготовки тепла при дальнейшем нагреве, при предварительной стадии ее нагревают на большую глубину, чем глубина пре имущественного залегания дефектов.Частота тока следующей стадии нагрева заготовки, имеющей магнитную проницаемость 1 ед составляет 5-30 мГц и определяется глубиной преимущественного залегания дефектов, которая, как уже было сказано, 25 равна 0,5-3 мм. На чертеже изображена установка, с помощью которой реализуется предлагаемый способ (вариант) .Установка для обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий включает транспортный роль- ганг 2, по. которому может перемещаться заготовка 1. Над заготовкой по 35 ходу ее перемещения расположены пирометр 3,...
Способ обнаружения дефектов изделий
Номер патента: 1656420
Опубликовано: 15.06.1991
Автор: Кожаринов
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения
...зазором. На электроды 6 подают напряжение с источника 7 высокого напряжения, достаточное для образования локального (в области дефектов 8 и 9) тлеющего разряда, который сопровождается свечением и интенсивным локальным разогревом поверхности контролируемого изделия 1, В результате газоразрядных процессов в соответствии с местоположениемдефектов 8 и 9 идет образование борногоангидрида, который при наличии дефекта 85 проникает в него и образует на поверхностиконтролируемого изделия 1 изображение,которое фиксируется визуально,П р и м е р 3. На поверхность контролируемого изделия 1 наносят тонким слоем 210 порошок аморфного бора с размером зернане более 5 10 мм. Накладывают темнуютонкую (толщиной 0,5 мм. в этом случаепонятие "тонкая"...
Способ обнаружения дефектов изделий
Номер патента: 1099259
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Андриасова, Байрамашвили, Оганезов, Табуцидзе, Цагарейшвили
МПК: G01N 21/91
Метки: дефектов, обнаружения
...слойжидкости, которая под действием капиллярныхсил заполняет полость трещин, и последующее добавление жидкости проявителя образует контрастнуюкартину, контролируемую визуально 1,Недостатком этого способа является невысокая чувствительность, возможность выявления только открытыхтрещин.Наиболее близким к предложенномупо технической сущности и достигаемому результату является способ обнаружения трещин в металлических.изделиях, включающий нанесение контрастного порошка на контролируемуюповерхность, нагрев и визуальныйконтроль 225При этом одновременно подаетсяструя газа при избыточном давленийс одной иэ сторон контролируемой поверхносги.Недостатком известного способа являются возможность обнаружения толькоосквозных дефектов, а также...
Дистанционный способ обнаружения и оценки толщины пленок нефтепродуктов на морской поверхности
Номер патента: 1224680
Опубликовано: 15.04.1986
Автор: Погадаев
МПК: G01N 21/21
Метки: дистанционный, морской, нефтепродуктов, обнаружения, оценки, пленок, поверхности, толщины
...оптическими 40 плоскостями алализатора и отраженного излучения. На выходе фотоприемного устройства появляется периодический сигнал, период которого равен половине периода вращения анализато ра в случае кругового вращения последнего, или периоду цикла приокачании в пределах 0-90 , Для определения толщины пленок нефтепродуктов регистрируют частотный спектр сигнала.При отражении от гладкой водной поверхности зависимость интенсивности излучения .т угла выражается соотношением где 1 . - интенсивность падающего на поляризатор-анализатор излучения; 1 - интенсивность пропущен 1 о" го анализатором излучения, - уголмежду оптическими плоскостями анализатора и излучения при .пинейном характере поляризации.Степенной показатель лежит в пределах 1 и2...
Предыдущий патент: Дилатометр
Следующий патент: Трансформаторный датчик
Случайный патент: Сборник клеток с иммунологических планшетов