Электромагнитный дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51) М. Кл. 6018 27/86 вки Ж осударственныи номитеСовета Министров СССРоо делам изобретенийи открытий(43) Опубликовано 25. 11,7 толлетень Яе УДК 620,179.) Дата опубликования о 72) Авторы изобретения Ерчев Сухоруков, Ю. М. Улитин и 71) Заявитель Московский ордена Ленина энергетический институт) ЭЛИКТРОМЛГНИтНЫЙ ДЕфЕКт П е относится к средствам элекструктуроскопии изделий ипользовао для контроля и Изобретени тролтагнитной может. быть ис сортировки про яженных электропроводящих материал ен электромагн Й токовихревой й с ним входо длительности ипроизводитель Извес т содержаши и связаннь тныи дефек преобразов скоанализатор сигамплитуде,лов по 10 ь контрольноОднако сортиров известног лектор си чных операциидефектоскопа налов по длит при примененииедостаточная,ьности и ампл дефектоскопе выполненельно связанных триггер счетных импульсов.ения является повышение ти контрольно-сортировочдефектоскопии движущих 2 ализат литуде игнал в по длив виде ревыходаи блока ическии атчикол полн связанных с н ди динен сы ход к о с зом туде в известнов виде последовров и генераторЦелью изобрепроизводительноных операций прся изделий.Для этого антельности и ампшаюшего блока,ми амплитудногосравнения, один.входом амплитудного дискриминатора, подключенных к другому входу задатчика временных интервалов и преобразователя скорости движения изделия в электрический сигнал и счетчиков дефектов, соединенных с выходами решающего блока.На чертеже приведена структурная электрическая схема дефектоскопа.Электромагнитный дефектоскоп содержит генератор 1, соединенный с ним токовихревой преобразователь 2, с которым связан через детектор 3 анализатор сигналов по длительности и амплитуде состоятций из амплитудного дискриминатора 4, связанного входом с одним из входов блока сравнения 5, с вторым входом которого соединен задатчик 6 временных интервалов, решающего блока 7, связанного входами с амплитудным дискриминатором 4 и блоком сравнения 5, а выходами - со счетчиками 8, 9, 10 дефектов, преобразователя 1 1 скорости движения изделия в электр сигнал, соединенного выходом с зад6 временных интервалов.Дефектоскоп работает следующим92797 Составител А пух нРедактор А.Зиньковский Техред Е, 1 одурушина Корректор Н,Лебедева Заказ Л Изд. Я Я ТиРаж 9 О 2 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изо 1 )етений и открытий Москва, ПЗОЗ: Раушская наб., 4 Предприятие Патент, Мос:ва, Г.59, Бережковская наб., 24 3Генератор 1 возбуждает преобразова. тель 2, выходной сигнал последнего пост- пает на детектор 3. На выходе детектора 3 выделяется огибающая и подается на дискриминатор 4 и блок 5 сравнения. На другой вход блока 5 йодаются импульсы . от задатчика 6 временных интервалов, В зависимости от длительности сигнала, поступающего с детектора 3, появляется сигнал на одном из выходов блока 5, На входы решающего блока 7 поступают сигналы с дискриминатора 4 и блока 5. Блок 7 посылает импульсы тока в один из счет чиков 8, 9, 10 в зависимости от глубиныдефекта.Блок 7 представляет собой дешифратор, который выдает сигналы, эквивалентные зависимостям параметров сигнала преобразователя 2 от протяженности и глубины дефектов. Задатчик 6 временных интервалов управляется преобразователем 1 1.Таким образом распознавание дефектов по глубине ведется с учетом их длины и 14независимо от скорости перемещения изделия.формула изобретения 5Электромагнитный дефектоскоп, содер.Iжащий токовихревой преобразователь исвязанный с ним входом анализатор сигналов по длительности и амплитудео тличающийся тем,что,сцелью 10 повышения производительности контрольно-,сортировочных операций при дефектоскопии движущихся изделий, анализатор сигналов по длительности и амплитуде выполнен в виде решающего блока, связанных с ним выходами амплитудного дискри-минатора и блока сравнения, один входкоторого соединен с входом амплитудногодискриминатора, подключенных к другомувходу задатчика временных интервалов ф и преобразователя скорости движения изделия в электрический сигнал и счетчиковдефектов, соединенных с выходами решающего блока.
СмотретьЗаявка
2037786, 14.06.1974
МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
СУХОРУКОВ ВАСИЛИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, УЛИТИН ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ, ЕРЧЕВ СЕРГЕЙ СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/86
Метки: дефектоскоп, электромагнитный
Опубликовано: 25.11.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-492797-ehlektromagnitnyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электромагнитный дефектоскоп</a>
Предыдущий патент: Структуроскоп
Следующий патент: Цифровой измеритель поглощения ультразвука
Случайный патент: Устройство для формирования сигнала скорости перемещения магнитных головок