Способ раздельного измерения потоков атомов щелочных металлов и содержащих их молекул в смешанных потоках этих частиц в вакуумных устройствах

Номер патента: 480031

Авторы: Зандберг, Тондегоде

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических(61) Дополнительное к авт. свидЗаявлено 17,04,72 (21) 1774020/26 51) М. Кл исоединением за иГосударственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений Приорит летень29 публиковано 05,08,75. 53) УДК 539.1.074.5(088.8) и открытии а опубликования описания 15.12.7 2) Авторы изобретен Э. Я. Зандберг и А. Я. Тонтегодеена Ленина физико-технический институт имени А. Ф. Иофф 71) Заявитель 4) СПОСОБ РАЗДЕЛЬНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПОТОКОВ АТОМОВЩЕЛОЧНЫХ МЕТАЛЛОВ И СОДЕРЖАЩИХ ИХ МОЛЕКУЛВ СМЕШАННЪХ ПОТОКАХ ЭТИХ ЧАСТИЦ В ВАКУУМНЫХУСТРОЙСТВАХ еление потоков атоных потоках состоит например, измеряют и только атомов натемпературе ниже температуру эмиттезмеряют полный ток одержащих их молечеродной пленки,пом образом, опред молекул в смешан ующем. Сначала,ток от ионизаци ности иридия приТакимов ив след25 ионныиповерх1600 Кра доот ион особ позволяет устранит ки путем раздельной реги ул н Изобретение относится к физике атомных столкновений, а именно к способам регистрации потоков нейтральных атомных частиц с тепловыми энергиями,Известен способ раздельного детектирования атомов щелочных металлов и содержащих их молекул, основанный на явлении поверхностной ионизации. При этом используется способность атомов щелочных металлов практически полностью ионизироваться путем поверхностной ионизации на накаленных металлах, вольфраме и рении, а также на поверхности сплава платины и вольфрама и свойство молекул ионизироваться только на поверхности металлов и практически не ионизироваться на поверхности сплава.Реализация такого дифференциального способа предполагает применение детектора, содержащего два ионизатора, один из которых изготовлен из металла, а другой - из сплава.Недостатком дифференциального способа является ограниченность углового разрешения из-за необходимости располагать ионизаторы на некотором расстоянии друг от друга.Изготовление и эксплуатация детектора связаны с неудобствами, обусловленными изменением эмиссионных свойств сплава со временем,Предложенный спь указанные недостат страции потоков атомов и содержащих их молекул в смешанных потоках с помощью одного ионизатора. Это достигается благодаря использованию известного факта, состоящего 5 в том, что покрытие металлов двумернойпленкой углерода приводит к прекращению ионизации молекул, Поэтому применяют ионизатор из такого тугоплавкого металла или сплава, который способен покрываться дву мерной пленкой углерода при одной температуре и очищаться от нее при нагреве до более высокой температуры. При этом очищенная поверхность оказывается чувствительной к атомам и молекулам, а покрытая углеродной 15 пленкой - только к атомам. В случае ионизирующей поверхности из иридия суммарный ток от ионизации атомов и молекул следует измерять при температурах больше 2000 К, а ток от ионизации только атомов - при тем пер атурах 1200 - 1500 К.480031 Предмет изобретения Составитель С, ШитовТекред 3. Тараненко Корректоры: Л. Корогод и А. НиколаеваРедактор Т. Орловская Заказ 3175/2 Изд, Мз 981 Тираж 619 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж.35, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 верхности. Величину потока молекул находятпо разности измеренных токов,Способ раздельного измерения потоков атомов щелочных металлов и содержащих их молекул в смешанных потоках этих частиц в вакуумных устройствах путем измерения полученных с помощью поверхностной ионизации суммарного ионного тока от ионизации атомов и молекул, измерения тока только от ионизации атомов и определения потока молекул по разности измеренных токов, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения углового разрешения, увеличения стабильно сти, упрощения конструкции и эксплуатациидетектирующих устройств, ионизацию производят на одном ионизаторе, выполненном из иридия, и измеряют суммарный ток от ионизации атомов и молекул при температурах 10 ионизатора более 2000 К, а ток от ионизациитолько атомов - при температуре ниже 1600 К и при наличии в измерительном объеме паров углеводородов.

Смотреть

Заявка

1774020, 17.04.1972

ОРДЕНА ЛЕНИНА ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. ИОФФЕ АН СССР

ЗАНДБЕРГ ЭЛЕОНОРА ЯКОВЛЕВНА, ТОНДЕГОДЕ АЛЕКСАНДР ЯКОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01T 1/28

Метки: атомов, вакуумных, металлов, молекул, потоках, потоков, раздельного, смешанных, содержащих, устройствах, частиц, щелочных, этих

Опубликовано: 05.08.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-480031-sposob-razdelnogo-izmereniya-potokov-atomov-shhelochnykh-metallov-i-soderzhashhikh-ikh-molekul-v-smeshannykh-potokakh-ehtikh-chastic-v-vakuumnykh-ustrojjstvakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ раздельного измерения потоков атомов щелочных металлов и содержащих их молекул в смешанных потоках этих частиц в вакуумных устройствах</a>

Похожие патенты